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*Mode vide faible
Fournit les détails et la morphologie de la surface de l'échantillon dans un vide faible, le logiciel commute l'état du vide en un seul clic.
(*Accessoires optionnels)
Détecteurs polyvalents
Le microscope électronique à balayage (MEB) est utilisé non seulement pour l'observation de la morphologie de la surface mais également pour l'analyse de la composition des microrégions à la surface de l'échantillon.
CIQTEK SEM3200 dispose d'une grande chambre d'échantillon avec une interface étendue. En plus de prendre en charge le détecteur Everhart-Thornley (ETD) conventionnel, le détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSE) et la spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDS/EDX), diverses interfaces telles que les diffractomètres à électrons rétrodiffusés (EBSD) et la cathodoluminescence (CL) sont également réservés.
Détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSE)
Comparaison de l'imagerie électronique secondaire et de l'imagerie électronique rétrodiffusée
En mode d'imagerie électronique rétrodiffusée, l'effet de charge est considérablement réduit et davantage d'informations sur la composition de la surface de l'échantillon peuvent être obtenues.
Échantillons de placage :
Échantillons d'alliage d'acier au tungstène :
Détecteur d'électrons rétrodiffusés à quatre segments - Imagerie multicanal
Le détecteur a une conception compacte et une sensibilité élevée. Avec la conception à 4 segments, il est possible d'obtenir des images d'ombres dans différentes directions ainsi que des images de distribution de composition sans incliner l'échantillon.
Les dommages causés par l'irradiation par faisceau électronique à l'échantillon de cheveux sont réduits à basse tension tandis que l'effet de charge est éliminé.
Spectre énergétique
Résultats de l'analyse du spectre énergétique des petites perles LED.
Diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD)
Le microscope électronique à filament de tungstène doté d'un courant de faisceau important répond pleinement aux exigences de test de l'EBSD haute résolution et est capable d'analyser des matériaux polycristallins tels que les métaux, les céramiques et les minéraux pour l'étalonnage de l'orientation des cristaux et de la taille des grains.
La figure montre la carte antipodale EBSD d'un échantillon de métal Ni, qui peut identifier la taille et l'orientation des grains, déterminer les joints et les jumeaux des grains et porter des jugements précis sur l'organisation et la structure des matériaux.
| Des modèles |
SEM3200A |
SEM3200 |
| Systèmes électro-optiques |
Pistolet à électrons |
Filament de tungstène de type fourche pré-aligné de taille moyenne |
| Résolution |
Vide poussé |
3 nm à 30 kV (SE) |
| 4 nm à 30 kV (ESB) |
| 8 nm à 3 kV (SE) |
| *Faible vide |
3 nm à 30 kV (SE) |
| Grossissement |
1 à 300 000x (grossissement du film) |
| 1-1 000 000x (grossissement de l'écran) |
| Tension d'accélération |
0,2kV ~ 30kV |
| Courant de la sonde |
≥1,2 μA, affichage en temps réel |
| Systèmes d'imagerie |
Détecteur |
Détecteur d'électrons secondaires (ETD) |
| *Détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED), *détecteur d'électrons secondaires sous vide faible, *spectromètre d'énergie EDS, etc. |
| Format d'image |
TIFF, JPG, BMP, PNG |
| Système de vide |
Modèle sous vide |
Vide poussé |
Mieux que 5×10-4 Pa |
| Faible vide |
5 ~ 1 000 Pa |
| Mode de contrôle |
Contrôle entièrement automatique |
| Chambre d'échantillon |
Caméra |
Navigation optique |
| Surveillance dans la chambre d'échantillon |
| Exemple de tableau |
Automatique à trois axes |
Automatique à cinq axes |
| Distance |
X : 120 mm |
X : 120 mm |
| Y : 115 mm |
Y : 115 mm |
| Z : 50 mm |
Z : 50 mm |
| / |
R : 360° |
| / |
T: -10° ~ +90° |
| Logiciel |
Système opérateur |
les fenêtres |
| Navigation |
Navigation optique, navigation rapide par gestes |
| Fonctions automatiques |
Contraste de luminosité automatique, mise au point automatique, dissipation automatique |
| Fonctions spéciales |
Dispersion assistée intelligente, *Assemblage d'images à grande échelle (accessoires en option) |
| Exigences d'installation |
Espace |
L≥ 3000 mm, L ≥ 4000 mm, H ≥ 2300 mm |
| Température |
20°C (68°F) ~ 25°C (77°F) |
| Humidité |
≤ 50 % |
| Source de courant |
220 V CA (±10 %), 50 Hz, 2 kVA |
> Basse tension
Échantillons de matériaux carbonés avec une faible profondeur de pénétration à basse tension. La forme réelle de la surface de l'échantillon peut être obtenue avec des détails plus riches.
Les dommages causés par l'irradiation par faisceau électronique à l'échantillon de cheveux sont réduits à basse tension tandis que l'effet de charge est éliminé.
> Vide faible
Les matériaux des tubes en fibres filtrées sont peu conducteurs et se chargent considérablement sous vide poussé. Dans le vide poussé, l'observation directe d'échantillons non conducteurs peut être réalisée sans revêtement.
> Grand champ de vision
Les échantillons biologiques, utilisant un grand champ de vision, peuvent facilement obtenir les détails de la morphologie globale et de la structure de la tête des coccinelles, montrant une analyse à plusieurs échelles.
> Navigation et amp; Anti-collision
Navigation optique
Cliquez là où vous souhaitez voir et naviguer plus facilement.
Une caméra intégrée au bac est standard et peut prendre des photos HD pour aider à localiser rapidement les échantillons.
Navigation gestuelle rapide
Navigation rapide en double-cliquant pour se déplacer, avec le bouton central de la souris pour faire glisser et avec le cadre pour zoomer.
Exp: Frame Zoom - pour obtenir une vue large de l'échantillon avec une navigation à faible grossissement, vous pouvez rapidement cadrer la zone d'échantillon qui vous intéresse pour améliorer l'efficacité.
Anti-collision
Adoptez une solution anti-collision multidimensionnelle.
1. Saisir manuellement la hauteur de l'échantillon : contrôler avec précision la distance entre l'échantillon et l'objectif.
2. Reconnaissance d'image et capture de mouvement : surveillez l'image en temps réel.
3.*Matériel : arrêtez le moteur au moment de la collision.
> Fonctions caractéristiques
Dispersion assistée intelligente
Reflétez visuellement le degré de dispersion de l'ensemble du champ de vision et ajustez rapidement la dispersion au mieux en cliquant sur le point clair avec la souris.
Mise au point automatique
Mise au point à un seul bouton pour une imagerie rapide.
Dissipation automatique
Dissipation en un clic pour améliorer l'efficacité du travail.
Contraste de luminosité automatique
Contraste de luminosité automatique en un clic pour régler les images appropriées en niveaux de gris.
Imagerie simultanée de plusieurs informations
Le logiciel SEM3200 prend en charge la commutation en un clic entre SE et BSE pour l'imagerie mixte. Les informations morphologiques et compositionnelles de l’échantillon peuvent être observées en même temps.
Ajustement rapide de la rotation de l'image
Faites glisser une ligne pour ajuster la position.
