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CIQTEK is the manufacturer and global supplier of high-value scientific instruments, such as Scanning Electron Microscopes (SEMs), Electron Paramagnetic Resonance (Electron Spin Resonance) Spectroscopy, Scanning NV Probe Microscope, Gas Adsorption Analyzer, etc.
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Microscope électronique à balayage à filament de tungstène | SEM3200

CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance. Il possède d’excellentes capacités de qualité d’imagerie dans les modes de vide poussé et faible. Il dispose également d'une grande profondeur de champ avec une interface conviviale pour permettre aux utilisateurs de caractériser des échantillons et d'explorer le monde de l'imagerie et de l'analyse microscopiques.

  • # Image de mélange (SE+BSE)
    Observez les informations sur la composition de l'échantillon et la topographie de la surface dans une seule image
  • # Double anode (tétrode)
    La conception du système d'émission à double anode offre une excellente résolution sous une faible énergie d'atterrissage
  • # *Mode vide faible
    Fournit des informations sur la morphologie de la surface des échantillons dans un état de vide faible et commutable en un seul clic.

(*Accessoires optionnels)

 

Détecteurs polyvalents

Le microscope électronique à balayage (MEB) est utilisé non seulement pour l'observation de la morphologie de la surface mais également pour l'analyse de la composition des microrégions à la surface de l'échantillon.

CIQTEK SEM3200 dispose d'une grande chambre à échantillons avec une interface étendue. En plus de prendre en charge le détecteur Everhart-Thornley (ETD) conventionnel, le détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSE) et la spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDS/EDX), diverses interfaces telles que le diagramme de diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD) et la cathodoluminescence (CL ) sont également réservés.

 

Détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSE)

Comparaison de l'imagerie électronique secondaire et de l'imagerie électronique rétrodiffusée

En mode d’imagerie électronique rétrodiffusée, l’effet de charge est considérablement supprimé et davantage d’informations sur la composition de la surface de l’échantillon peuvent être observées.

 

Spécimens de placage :

  • Échantillons de placage au détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSE) SEM
  • Échantillons de placage au détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSE) SEM

 

 

 

Spécimens d'alliage d'acier au tungstène :

  • SEM – détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSE), spécimens en alliage d'acier au tungstène
  • SEM – détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSE), spécimens en alliage d'acier au tungstène

 

 

 

Détecteur d'électrons rétrodiffusés à quatre quadrants - Imagerie multicanal

Le détecteur a une conception compacte et une sensibilité élevée. Grâce à la conception à 4 quadrants, il est possible d'obtenir des images topographiques dans différentes directions ainsi que des images de distribution de composition sans incliner l'échantillon.

 

 

Spectre énergétique

Résultats de l'analyse du spectre énergétique des petites perles LED.

 

Spectre énergétique SEM

 

 

Diagramme de diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD)

Le microscope électronique à filament de tungstène doté d'un courant de faisceau important répond pleinement aux exigences de test de l'EBSD haute résolution et peut analyser des matériaux polycristallins tels que les métaux, les céramiques et les minéraux pour l'orientation des cristaux et l'analyse de la taille des grains.

La figure montre la carte des grains EBSD d'un échantillon de métal Ni, qui peut identifier la taille et l'orientation des grains, déterminer les limites et les jumeaux des grains et effectuer des évaluations précises de l'organisation et de la structure du matériau.

 

Modèle de diffraction de rétrodiffusion électronique SEM (EBSD)

Des modèles SEM3200A SEM3200
Systèmes électro-optiques Pistolet à électrons Filament de tungstène de type épingle à cheveux de taille moyenne pré-aligné
Résolution Vide poussé 3 nm à 30 kV (SE)
4 nm à 30 kV (ESB)
8 nm à 3 kV (SE)
*Faible vide 3 nm à 30 kV (SE)
Grossissement 1-300 000x (Film)
1-1 000 000x
Tension d'accélération 0,2kV ~ 30kV
Courant de la sonde ≥1,2 μA, affichage en temps réel
Systèmes d'imagerie Détecteur Détecteur Everhart-Thornley (ETD)
*Détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED), *Détecteur d'électrons secondaires sous vide, *Spectromètre d'énergie EDS, etc.
Format d'image TIFF, JPG, BMP, PNG
Système de vide Modèle sous vide Vide poussé Mieux que 5×10 -4 Pa
Faible vide 5 ~ 1 000 Pa
Mode de contrôle Contrôle entièrement automatisé
Chambre à spécimens Caméra Navigation optique
Surveillance dans la chambre à échantillons
Tableau des spécimens Automatique à trois axes Automatique à cinq axes
Gamme de scène X : 120 mm X : 120 mm
Y : 115 mm Y : 115 mm
Z : 50 mm Z : 50 mm
/ R : 360°
/ T: -10° ~ +90°
Logiciel Système opérateur les fenêtres
Navigation Navigation optique, navigation rapide par gestes
Fonctions automatiques Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmatiseur automatique
Fonctions spéciales

Correction de l'astigmatisme par image assistée par intelligence

*Assemblage d'images à grand champ de vision (en option) 

Exigences d'installation Température 20°C (68°F) ~ 25°C (77°F)
Humidité ≤ 50 %
Source de courant

220 V CA (±10 %), 50 Hz, 2 kVA

CA 110 V (± 10 %), 60 Hz

> Basse Tension

Échantillons de matériaux en carbone avec une faible profondeur de pénétration à basse tension. La véritable topographie de la surface de l'échantillon peut être obtenue avec de riches détails.

 

 

Les dommages causés par l'irradiation par faisceau électronique à l'échantillon de cheveux sont réduits à basse tension tandis que l'effet de charge est éliminé.

 

 

Faible vide

Les matériaux des tubes en fibres filtrées sont peu conducteurs et se chargent considérablement sous vide poussé. Sous vide poussé, l’observation directe d’échantillons non conducteurs peut être réalisée sans revêtement.

 

 

Grand champ de vision

Les spécimens biologiques, utilisant un large champ d'observation, peuvent facilement obtenir les détails morphologiques globaux de la tête d'une coccinelle, démontrant ainsi la capacité d'imagerie à plusieurs échelles.

  • Grand champ de vision SEM
  • Grand champ de vision SEM

 

 

Navigation sur scène d'échantillon et anti-collision

Navigation optique

Cliquez où vous voulez aller et voyez avec une navigation facile.

Une caméra intégrée à la chambre est standard et peut prendre des photos HD pour aider à localiser rapidement les spécimens.

  • Navigation et anti-collision sur scène d'échantillon de microscope SEM

 

 

Navigation gestuelle rapide

Navigation rapide en double-cliquant pour se déplacer, avec le bouton central de la souris pour faire glisser et avec le cadre pour zoomer.

Exp: Frame Zoom - pour obtenir une vue large de l'échantillon avec une navigation à faible grossissement, vous pouvez rapidement cadrer la zone de l'échantillon qui vous intéresse, l'image zoome automatiquement pour améliorer l'efficacité.

  • Navigation gestuelle rapide au microscope SEM
  • Navigation gestuelle rapide au microscope SEM

 

 

Étape Anti-collision

Une solution anti-collision multidirectionnelle :

1. Saisir manuellement la hauteur de l'échantillon : contrôlez avec précision la distance entre la surface de l'échantillon et l'objectif.

2. Reconnaissance d'image et capture de mouvement : surveillez le mouvement de la scène en temps réel.

3. *Matériel : arrêtez le moteur de la scène au moment de la collision.

  • Anti-collision d'étape de microscope de SEM

 

 

Fonctions caractéristiques

Correction de l'astigmatisme par image assistée par intelligence

Affichez visuellement l'astigmatisme dans tout le champ de vision et ajustez rapidement pour corriger en cliquant sur la souris.

  • Correction de l'astigmatisme d'image assistée par microscope SEM
  • Correction de l'astigmatisme d'image assistée par microscope SEM

 

 

Mise au point automatique

Mise au point à un seul bouton pour une imagerie rapide.

  • Mise au point automatique du microscope SEM
  • Mise au point automatique du microscope SEM

 

 

Stigmateur automatique

Déduction de l'astigmatisme en un clic pour améliorer l'efficacité du travail.

  • Stigmateur automatique de microscope SEM
  • Stigmateur automatique de microscope SEM

 

 

Luminosité et contraste automatiques

Luminosité et contraste automatiques en un clic pour régler les niveaux de gris des images appropriées.

  • Luminosité et contraste automatiques du microscope SEM
  • Luminosité et contraste automatiques du microscope SEM

 

 

Imagerie simultanée de plusieurs informations

Le logiciel SEM3200 prend en charge la commutation en un clic entre SE et BSE pour l'imagerie mixte. Les informations morphologiques et compositionnelles du spécimen peuvent être observées en même temps.

Imagerie simultanée de plusieurs informations au microscope SEM

 

 

Ajustement rapide de la rotation de l'image

Faites glisser une ligne et relâchez pour faire pivoter l’image sur place.

  • Ajustement rapide de la rotation de l'image du microscope SEM
  • Ajustement rapide de la rotation de l'image du microscope SEM

 

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