En bref Trois équipes de recherche ont utilisé les instruments CIQTEK ODMR, notamment le microscope à sonde NV à balayage (SNVM) et le spectromètre à spin unique diamant, pour faire progresser trois domaines différents de la recherche sur les matériaux avancés.   Une équipe de l'Institut de physique de l'Académie chinoise des sciences a imagé des ondes de spin dans l'espace réel près de défauts magnétiques et de domaines en bandes couplés antiferromagnétiquement dans des films de YIG et de LSMO. Ils ont capturé une diffusion sélective en longueur d'onde et, pour la première fois, une distorsion de front d'onde en zigzag lorsque les ondes de spin traversaient les domaines en bandes.   Une équipe de l'Université des sciences et technologies de Chine a extrait le sélénium du CuCrSe₂ 2D par recuit sous vide. Les lacunes de Se résultantes ont produit un ferromagnétisme à température ambiante tandis que la structure cristalline en couches est restée intacte.   Une équipe de l'Institut des semi-conducteurs de l'Académie chinoise des sciences a cartographié la façon dont un champ magnétique transverse mélange les états de spin des centres NV, affaiblit la lecture optique et modifie l'équilibre entre les états de charge NV⁻ et NV⁰, autant d'éléments importants pour maintenir la stabilité des capteurs basés sur NV dans des environnements magnétiques réels.   Pourquoi c'est important La résonance magnétique détectée optiquement (ODMR) est au cœur de la science du spin à l'état solide. C'est ainsi que les chercheurs imagent les champs magnétiques microscopiques, qu'ils décortiquent la dynamique de spin et qu'ils transforment un défaut à l'échelle atomique unique dans le diamant en un capteur fonctionnel. Les trois études ci-dessous se sont toutes appuyées sur la gamme de produits ODMR de CIQTEK, qui comprend le microscope à sonde NV à balayage (SNVM) et le spectromètre à spin unique diamant, pour pénétrer dans un territoire que les anciens outils ne pouvaient atteindre : l'imagerie des ondes de spin, le ferromagnétisme à température ambiante dans les matériaux 2D et le comportement de mélange de spin des centres NV eux-mêmes.   Voici ce que chaque équipe a découvert, et pourquoi cela est important pour quiconque construit des dispositifs magnoniques, des matériaux spintroniques ou des capteurs à base de diamant. Étude 1 : L'imagerie NV à balayage révèle comment les ondes de spin se propagent réellement Où cela a été publié : SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy   Titre de l'article : Visualisation des fronts d'onde d'ondes de spin modifiés près de défauts magnétiques et de domaines utilisant des centres azote-lacune   Groupe de recherche : Le groupe Li Yangmu à l'Institut de physique de l'Académie chinoise des sciences   L'équipe a utilisé l'imagerie NV à balayage pour effectuer une imagerie dans l'espace réel et une analyse de phase de la propagation des ondes de spin et des fronts d'onde près de défauts magnétiques à l'échelle nanométrique et d...

CIQTEK fait son entrée sur le marché STAR de Shanghai CIQTEK a tenu sa cérémonie d'introduction en bourse à la Bourse de Shanghai le 11 août 2026. Cette introduction marque une nouvelle étape pour l'entreprise alors qu'elle continue de développer des instruments scientifiques haut de gamme. L'entreprise est cotée sous le code boursier 688828 et développe, fabrique et vend des produits incluant des microscopes électroniques, des spectromètres de résonance paramagnétique électronique et des spectromètres de résonance magnétique nucléaire.   Informations sur l'introduction en bourse CIQTEK a émis 40,0100 millions d'actions au prix de 21,22 RMB par action. Le produit brut de l'offre de nouvelles actions s'est élevé à 849,0122 millions de RMB. Suite à l'offre, l'entreprise comptait 400,0100 millions d'actions en circulation. En 2025, CIQTEK a déclaré un chiffre d'affaires de 666,191845 millions de RMB. L'entreprise est basée à Hefei, dans la province de l'Anhui.   De la recherche à l'utilisation concrète CIQTEK se concentre sur la transformation des capacités de recherche en instruments pouvant être utilisés dans les laboratoires et les environnements industriels. Lors de la cérémonie, le Dr He Yu, président de CIQTEK, a déclaré que cette introduction en bourse constitue une étape importante et une phase du parcours de l'entreprise, du laboratoire à l'utilisation concrète. Le Dr He a remercié les clients, les partenaires, les investisseurs et les équipes qui ont soutenu le processus d'offre et d'introduction en bourse.   L'accent sur des instruments utiles et fiables CIQTEK développe des instruments scientifiques haut de gamme dans plusieurs domaines de produits. L'entreprise continue d'investir dans la recherche et le développement et d'élargir son portefeuille de produits en fonction des besoins des clients. Le Dr He a déclaré que les retours des clients, la résolution de problèmes techniques et la fiabilité des livraisons sont essentiels à l'amélioration à long terme de l'entreprise. CIQTEK continuera de faire avancer les projets financés par l'offre et de renforcer une gouvernance transparente et standardisée.   Perspectives d'avenir Le Dr He a noté que de meilleurs outils de mesure soutiennent la découverte scientifique et que des données de haute qualité restent essentielles à mesure que l'intelligence artificielle transforme la manière dont la recherche est effectuée. CIQTEK continuera de construire des instruments pour les chercheurs et les utilisateurs industriels du monde entier. « Nous resterons concentrés, continuerons à nous améliorer sur le long terme et avancerons de manière constante », a déclaré le Dr He en conclusion.   Note de réimpression Les sections d'ouverture et « Informations sur l'introduction en bourse » sont réimprimées à partir d'un communiqué public de la Bourse de Shanghai. Les sections restantes sont adaptées d'un discours original du Dr

Le FIB-SEM à double faisceau CIQTEK DB550 réunit l'imagerie électronique haute résolution et le traitement de précision par faisceau d'ions sur une seule plateforme. CIQTEK a validé son Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisé DB550 (FIB-SEM) sur des échantillons de puces réelles du nœud de processus 5 nm, Cette démonstration de la préparation d'échantillons TEM prêts pour la production révèle des structures d'ailettes intactes, une absence d'amorphisation et des couches de film clairement résolues. Les résultats confirment que le DB550 répond aux exigences rigoureuses des laboratoires d'analyse de défaillances de semi-conducteurs de pointe, travaillant à l'avant-garde des technologies de fabrication. Dans la recherche et la fabrication de puces de pointe, deux outils sont plus importants que tous les autres. Le microscope électronique à transmission (MET) permet d'observer les structures à l'échelle atomique. Mais avant cela, il faut un échantillon suffisamment fin pour laisser passer les électrons. C'est là qu'intervient le microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) à double faisceau. Cet outil de précision permet de préparer ces échantillons ultra-fins. Découvrez le DB550 : une plateforme unique pour l’imagerie et le traitement à l’échelle nanométrique Le CIQTEK DB550 FIB-SEM Cette plateforme unique intègre deux technologies de pointe. D'une part, un microscope électronique à balayage (MEB) permet l'imagerie de surface haute résolution. D'autre part, un faisceau d'ions focalisé (FIB) assure l'enlèvement de matière à l'échelle nanométrique avec une précision chirurgicale. Ensemble, ces technologies comblent le fossé entre l'observation et la fabrication à des dimensions de l'ordre du milliardième de mètre. Au cœur de la DB550 se trouve un colonne électronique basse tension et haute résolution associé à la technologie exclusive de CIQTEK Colonne ionique « Chengying » Développée entièrement en interne, la colonne Chengying est l'élément clé qui permet au système de réaliser des opérations de découpe et de gravure à l'échelle nanométrique. CIQTEK maîtrise l'intégralité du processus de conception et de fabrication de ce composant essentiel. Le défi des 5 nm : pourquoi la préparation des échantillons devient plus difficile à chaque nœud À 5 nm et moins Les architectures de puces reposent sur des transistors à effet de champ à ailettes (FinFET) dont la largeur et l'espacement des ailettes se mesurent en nanomètres seulement. Le DB550 est conçu pour gérer l'intégralité du processus de préparation des échantillons pour ces nœuds de processus exigeants. Il commence par dégrossissage à courant élevé pour enlever rapidement les matériaux en grande quantité et atteindre la zone cible. Ensuite, il passe à polissage fin à basse tension amincir l'échantillon jusqu'aux dimensions requises pour l'observation au MET sans endommager les structures délicates sous-jacentes. Validation par MET : La preuve est dans l...