NV Center ODMR Unlocks New Possibilities for 2D Materials and Spin Wave Detection In short Three research teams used CIQTEK ODMR instruments, including the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to move three different areas of advanced materials research forward. A team at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, imaged spin waves in real space near magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in YIG and LSMO films. They captured wavelength-selective scattering and, for the first time, a zig-zag wavefront distortion as spin waves crossed stripe domains. A team at the University of Science and Technology of China stripped selenium out of 2D CuCrSe₂ by vacuum annealing. The resulting Se vacancies produced room-temperature ferromagnetism while the layered crystal structure stayed intact. A team at the Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, mapped how a transverse magnetic field mixes NV center spin states, weakens optical readout, and shifts the balance between the NV⁻ and NV⁰ charge states, all of which matter for keeping NV-based sensors stable in real-world magnetic environments. Why this matters Optically detected magnetic resonance (ODMR) sits at the center of solid-state spin science. It is how researchers image microscopic magnetic fields, how they unpack spin dynamics, and how they turn a single atomic-scale defect in diamond into a working sensor. The three studies below all leaned on CIQTEK's ODMR product line, which includes the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to push into territory that older tools could not reach: spin wave imaging, room-temperature ferromagnetism in 2D materials, and the spin mixing behavior of NV centers themselves. Here is what each team found, and why it matters for anyone building magnonic devices, spintronic materials, or diamond-based sensors. Study 1: Scanning NV imaging reveals how spin waves actually propagate Where it was published: SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy Paper title: Visualizing modified spin-wave wavefronts near magnetic defects and domains using nitrogen-vacancy centers Research group: The Li Yangmu group at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences The team used scanning NV imaging to perform real-space imaging and phase analysis of spin wave propagation and wavefronts near nanoscale magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in magnetic thin films (YIG and LSMO). The work revealed wavelength-selective scattering and waveform modulation, giving device designers a new set of tools for building and tuning spin wave devices. First, some background: why spin waves are hard to see Spin waves, also called magnons, are collective excitations of a magnetically ordered system. They carry information without the Joule heating losses that come with conventional charge-based devices, which makes them an attractive carri...

CIQTEK fait son entrée sur le marché STAR de Shanghai CIQTEK a tenu sa cérémonie d'introduction en bourse à la Bourse de Shanghai le 11 août 2026. Cette introduction marque une nouvelle étape pour l'entreprise alors qu'elle continue de développer des instruments scientifiques haut de gamme. L'entreprise est cotée sous le code boursier 688828 et développe, fabrique et vend des produits incluant des microscopes électroniques, des spectromètres de résonance paramagnétique électronique et des spectromètres de résonance magnétique nucléaire.   Informations sur l'introduction en bourse CIQTEK a émis 40,0100 millions d'actions au prix de 21,22 RMB par action. Le produit brut de l'offre de nouvelles actions s'est élevé à 849,0122 millions de RMB. Suite à l'offre, l'entreprise comptait 400,0100 millions d'actions en circulation. En 2025, CIQTEK a déclaré un chiffre d'affaires de 666,191845 millions de RMB. L'entreprise est basée à Hefei, dans la province de l'Anhui.   De la recherche à l'utilisation concrète CIQTEK se concentre sur la transformation des capacités de recherche en instruments pouvant être utilisés dans les laboratoires et les environnements industriels. Lors de la cérémonie, le Dr He Yu, président de CIQTEK, a déclaré que cette introduction en bourse constitue une étape importante et une phase du parcours de l'entreprise, du laboratoire à l'utilisation concrète. Le Dr He a remercié les clients, les partenaires, les investisseurs et les équipes qui ont soutenu le processus d'offre et d'introduction en bourse.   L'accent sur des instruments utiles et fiables CIQTEK développe des instruments scientifiques haut de gamme dans plusieurs domaines de produits. L'entreprise continue d'investir dans la recherche et le développement et d'élargir son portefeuille de produits en fonction des besoins des clients. Le Dr He a déclaré que les retours des clients, la résolution de problèmes techniques et la fiabilité des livraisons sont essentiels à l'amélioration à long terme de l'entreprise. CIQTEK continuera de faire avancer les projets financés par l'offre et de renforcer une gouvernance transparente et standardisée.   Perspectives d'avenir Le Dr He a noté que de meilleurs outils de mesure soutiennent la découverte scientifique et que des données de haute qualité restent essentielles à mesure que l'intelligence artificielle transforme la manière dont la recherche est effectuée. CIQTEK continuera de construire des instruments pour les chercheurs et les utilisateurs industriels du monde entier. « Nous resterons concentrés, continuerons à nous améliorer sur le long terme et avancerons de manière constante », a déclaré le Dr He en conclusion.   Note de réimpression Les sections d'ouverture et « Informations sur l'introduction en bourse » sont réimprimées à partir d'un communiqué public de la Bourse de Shanghai. Les sections restantes sont adaptées d'un discours original du Dr

Le FIB-SEM à double faisceau CIQTEK DB550 réunit l'imagerie électronique haute résolution et le traitement de précision par faisceau d'ions sur une seule plateforme. CIQTEK a validé son Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisé DB550 (FIB-SEM) sur des échantillons de puces réelles du nœud de processus 5 nm, Cette démonstration de la préparation d'échantillons TEM prêts pour la production révèle des structures d'ailettes intactes, une absence d'amorphisation et des couches de film clairement résolues. Les résultats confirment que le DB550 répond aux exigences rigoureuses des laboratoires d'analyse de défaillances de semi-conducteurs de pointe, travaillant à l'avant-garde des technologies de fabrication. Dans la recherche et la fabrication de puces de pointe, deux outils sont plus importants que tous les autres. Le microscope électronique à transmission (MET) permet d'observer les structures à l'échelle atomique. Mais avant cela, il faut un échantillon suffisamment fin pour laisser passer les électrons. C'est là qu'intervient le microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) à double faisceau. Cet outil de précision permet de préparer ces échantillons ultra-fins. Découvrez le DB550 : une plateforme unique pour l’imagerie et le traitement à l’échelle nanométrique Le CIQTEK DB550 FIB-SEM Cette plateforme unique intègre deux technologies de pointe. D'une part, un microscope électronique à balayage (MEB) permet l'imagerie de surface haute résolution. D'autre part, un faisceau d'ions focalisé (FIB) assure l'enlèvement de matière à l'échelle nanométrique avec une précision chirurgicale. Ensemble, ces technologies comblent le fossé entre l'observation et la fabrication à des dimensions de l'ordre du milliardième de mètre. Au cœur de la DB550 se trouve un colonne électronique basse tension et haute résolution associé à la technologie exclusive de CIQTEK Colonne ionique « Chengying » Développée entièrement en interne, la colonne Chengying est l'élément clé qui permet au système de réaliser des opérations de découpe et de gravure à l'échelle nanométrique. CIQTEK maîtrise l'intégralité du processus de conception et de fabrication de ce composant essentiel. Le défi des 5 nm : pourquoi la préparation des échantillons devient plus difficile à chaque nœud À 5 nm et moins Les architectures de puces reposent sur des transistors à effet de champ à ailettes (FinFET) dont la largeur et l'espacement des ailettes se mesurent en nanomètres seulement. Le DB550 est conçu pour gérer l'intégralité du processus de préparation des échantillons pour ces nœuds de processus exigeants. Il commence par dégrossissage à courant élevé pour enlever rapidement les matériaux en grande quantité et atteindre la zone cible. Ensuite, il passe à polissage fin à basse tension amincir l'échantillon jusqu'aux dimensions requises pour l'observation au MET sans endommager les structures délicates sous-jacentes. Validation par MET : La preuve est dans l...