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FESEM | SEM4000Pro

Microscope électronique à balayage à émission de champ analytique (FESEM) équipé d'un canon électronique à émission de champ Schottky à haute luminosité et longue durée de vie

Avec la conception de colonne d'optique électronique à condensateur à trois étages pour des courants de faisceau jusqu'à 200 nA, le SEM4000Pro offre des avantages dans les domaines EDS, EBSD, WDS et autres applications analytiques. Le système prend en charge le mode faible vide ainsi qu'un détecteur d'électrons secondaires à faible vide hautes performances et un détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable, qui peuvent aider à observer directement des échantillons peu conducteurs, voire non conducteurs.

Le mode de navigation optique standard et une interface utilisateur intuitive facilitent votre travail d'analyse.

Renseignez-vous maintenant

• Équipé d'un canon à électrons à émission de champ Schottky haute luminosité et longue durée de vie

• Haute résolution de 0,9 nm à 30 kV

• Conception de lentille à condensateur à trois étages, large plage de réglage du courant de faisceau avec courants de faisceau maximum jusqu'à 200 nA

• Mode standard à faible vide, détecteur d'électrons secondaires à faible vide haute performance et détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable

• Conception d'objectif sans champ magnétique sans immersion, permettant d'observer directement des échantillons magnétiques

• Mode de navigation optique standard

Paramètres clés Résolution Vide poussé

0,9 nm à 30 kV, SE
Faible vide

2,5 nm à 30 kV, ESB, 30 Pa

1,5 nm à 30 kV, SE, 30 Pa
Tension d'accélération 0,2 ~ 30 kV
Grossissement 1 ~ 1 000 000x
Type de pistolet électronique Pistolet à électrons à émission de champ Schottky haute luminosité
Chambre à spécimens Système de vide Contrôle entièrement automatisé
Vide faible (facultatif) Maximum 180Pa
Caméra Double caméras (navigation optique + surveillance de la chambre)
Distance

X : 110 mm

Y : 110 mm

Z : 65 mm

T : -10°~ +70°

D : 360°
Détecteurs et extensions Norme

Détecteur Everhart-Thornley (ETD)

Détecteur de faible vide (LVD)

Détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED)

Facultatif

Détecteur STEM

Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS)

Diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD)

Loadlock d'échange de spécimens

Panneau de commande avec trackball et bouton
Logiciel Langue Anglais
OS Windows
Navigation Nav-Cam, navigation rapide par gestes
Fonctions automatiques Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmatisation automatique

Balises chaudes : Fournisseur mondial de fabricant et fournisseur mondial de microscope électronique à balayage à émission de champ Détecteurs SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM haute résolution FESEM meilleur prix Pistolet à électrons à émission de champ Schottky haute luminosité Microscopie électronique à balayage à émission de champ à meilleur grossissement Applications du microscope électronique à balayage à émission de champ Microscope électronique à balayage à émission de champ pdf Notes sur le microscope électronique à balayage à émission de champ
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