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Basse tension haute résolution
Haute stabilité
Détecteur d'électrons intégré à la lentille

*Sas d'échange d'échantillons (compatible 8 pouces)
Déviation électromagnétique du faisceau avec ouverture multi-trous
Excellente extensibilité

▶ Optique électronique

★ Technologie de colonne optique électronique « Super Tunnel » / décélération du faisceau dans la lentille
Réduit l'effet de charge spatiale, garantissant une résolution basse tension.

★ Sans croisement dans le trajet du faisceau d'électrons
Réduisez efficacement les aberrations de l’objectif et améliorez la résolution.

★ Objectif composé électromagnétique et électrostatique
Réduisez les aberrations, améliorez considérablement la résolution à basse tension et permettez l'observation d'échantillons magnétiques.

★ Objectif à température constante refroidi par eau
Assurer la stabilité, la fiabilité et la répétabilité du fonctionnement de l’objectif.

★ Ouverture multi-trous variable avec système de déviation de faisceau électromagnétique
Commutation automatique entre les ouvertures sans mouvement mécanique, permettant une commutation rapide entre les modes d'imagerie.

▶ Mode ECCI (imagerie par contraste à canal électronique) basé sur BSED

L'« effet de canalisation d'électrons » fait référence à une réduction significative de la diffusion des électrons par les réseaux cristallins, lorsque le faisceau d'électrons incident satisfait la condition de diffraction de Bragg, permettant à un grand nombre d'électrons de traverser le réseau, présentant ainsi un effet de « canalisation ».

Pour les matériaux polycristallins de composition uniforme et de surfaces planes polies, l'intensité des électrons rétrodiffusés dépend de l'orientation relative entre le faisceau d'électrons incident et les plans cristallins. Les grains présentant une plus grande variation d'orientation présentent des signaux plus forts, ce qui permet d'obtenir des images plus lumineuses. Une telle carte d'orientation permet une caractérisation qualitative.

Alliages imprimés en 3D (préparés par polissage par faisceau d'ions)
Acier inoxydable (préparé avec polissage par faisceau ionique)

▶ Imagerie multicanal simultanée via divers détecteurs

Une excellente résolution a été obtenue sur les caractéristiques topographiques de surface grâce à l'imagerie par détecteur d'électrons intégré à la lentille.
Bonnes images stéréoscopiques des caractéristiques morphologiques avec l'imagerie du détecteur Everhart-Thornley
Image de contraste de numéro atomique (contraste Z) avec imagerie par détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable

▶ Détecteur rétractable pour microscopie électronique à transmission par balayage (STEM)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

>> Plusieurs modes de fonctionnement : Imagerie en champ clair (BF), Imagerie en champ sombre (DF), Imagerie en champ sombre annulaire à grand angle (HAADF)

Imagerie en champ clair de coupes végétales (STEM-BF)
Imagerie en champ sombre de coupes végétales (STEM-DF)
Image de contraste de numéro atomique (contraste Z) avec détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable

▶ Progrès en microscopie électronique CIQTEK : plus d'options

>> Spectrométrie dispersive en énergie

>> Catholuminescence

>> EBSD

Galerie d'images du microscope CIQTEK FESEM SEM5000Pro

>> Science des matériaux - Nanomatériaux

Matériau bidimensionnel non conducteur C3N4, caractérisation non destructive de sa structure en couches fines dans des conditions de basse tension à 500 V
Imagerie de mousse de nickel avec un fort effet tridimensionnel à l'aide d'une tension d'excitation de 2 kV avec le détecteur Everhart-Thornley (ETD)
Imagerie de poudre d'argent subnanométrique à l'aide d'un détecteur d'électrons intégré à la lentille à 3 kV dans des conditions de vide poussé

>> Science des matériaux - Matériaux énergétiques

Précurseur de cathode de batterie lithium-ion - Phosphate de fer à faible conductivité, imagé à l'aide d'un détecteur d'électrons intégré à la lentille (In-lens) dans des conditions de basse tension (1 kV)
La qualité de la métallisation de surface des plaquettes de silicium photovoltaïque, imagée à l'aide d'un détecteur Everhart-Thornley monté sur chambre (ETD) à 2 kV
Film SEI (Interphase d'Electrolyte Solide) de surface sur l'électrode négative défaillante, imagé dans des conditions de vide poussé à l'aide d'un détecteur d'électrons intégré à la lentille (In-lens) à 3 kV

>> Science des matériaux - Matériaux polymères et matériaux métalliques

Utilisation du détecteur Everhart-Thornley (ETD) sous vide poussé et basse tension (1 kV) pour l'imagerie de la morphologie des microsphères de polystyrène. Aucun phénomène de charge n'a été observé, ce qui a permis une perception tridimensionnelle précise.
Imagerie non destructive à 500 V des fibres de membrane polymère de batterie lithium-ion dans des conditions de sensibilité de surface
$sem image analysis High-resolution imaging of nano-sized precipitates in fracture surfaces using the Retractable Back-Scattered Electron Detector(BSED)$
Imagerie haute résolution de précipités de taille nanométrique dans les surfaces de fracture à l'aide du détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable (BSED)

>> Matériaux magnétiques - Matériaux polymères et matériaux métalliques

Billes magnétiques polymères, à faible conductivité, caractérisées à l'aide d'une basse tension à 2 kV avec détecteur Everhart-Thornley (ETD) pour la caractérisation de l'administration de médicaments biologiquement ciblés
$sem image analysis 10 kV imaging with Everhart-Thornley Detector (ETD) used to characterize the fracture surface of iron-nickel alloy metal.$
L'imagerie à 10 kV avec le détecteur Everhart-Thornley (ETD) a été utilisée pour caractériser la surface de fracture du métal en alliage fer-nickel
Les billes magnétiques polymères, caractérisées à l'aide d'un détecteur basse tension de 2 kV avec détecteur Everhart-Thornley (ETD), présentent un fort sens de la tridimensionnalité

>> Matériaux semi-conducteurs

Imagerie des motifs de surface et des circuits sur une puce à l'aide d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable (BSED)
Caractérisation à basse tension (2 kV) des textures de surface et de bord de trou d'une résine photosensible par détecteur Everhar t-Thornley (ETD)
Imagerie des soudures de fils d'or sur une puce à l'aide d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable (BSED). Échantillon préparé par polissage par faisceau d'ions.

>> Sciences de la vie

Caractérisation des iridophores dans les cellules de la peau du lézard, à l'aide du détecteur STEM du CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

Les couleurs animales dans la nature peuvent être classées en deux catégories en fonction de leurs mécanismes de formation : les couleurs pigmentaires et les couleurs structurelles.
Les couleurs des pigments sont obtenues grâce à des variations dans la composition des pigments et au chevauchement des couleurs, de manière similaire aux principes des « couleurs primaires ».
Les couleurs structurelles, quant à elles, sont générées par la réflexion de la lumière de différentes longueurs d'onde par des structures physiologiques complexes, principalement basées sur les principes de l'optique. Les iridophores, présents dans les cellules cutanées des lézards, possèdent des structures similaires à des réseaux de diffraction. Ces structures sont appelées « plaques cristallines ». Ces plaques cristallines peuvent réfléchir et diffuser la lumière de différentes longueurs d'onde. Des études ont montré qu'en faisant varier la taille, l'espacement et l'angle des plaques cristallines des iridophores des lézards, les longueurs d'onde de la lumière diffusée et réfléchie par leur peau peuvent être modifiées. Cette découverte est importante pour comprendre les mécanismes à l'origine des changements de couleur de la peau des lézards.

▶ Logiciel d'analyse des particules et des pores (Particle) *Facultatif

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Le logiciel de microscope SEM CIQTEK utilise divers algorithmes de détection et de segmentation de cibles, adaptés à différents types d'échantillons de particules et de pores. Il permet une analyse quantitative des statistiques des particules et des pores et peut être appliqué dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie et les sciences de l'environnement.

▶ Logiciel de post-traitement d'images *Facultatif

SEM Microscope Image Post-processing Software

Effectuez un post-traitement d'images en ligne ou hors ligne sur des images capturées par des microscopes électroniques et intégrez des fonctions de traitement d'images EM couramment utilisées, des mesures pratiques et des outils d'annotation.

▶ Mesure automatique *Facultatif

Reconnaissance automatique des contours de largeur de ligne, pour des mesures plus précises et une meilleure cohérence. Prise en charge de plusieurs modes de détection de contours, tels que Ligne, Espace, Pas, etc. Compatible avec de nombreux formats d'image et doté de diverses fonctions de post-traitement d'image courantes. Le logiciel est simple d'utilisation, efficace et précis.

▶ Kit de développement logiciel (SDK) *Facultatif

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fournit un ensemble d'interfaces pour le contrôle du microscope MEB, incluant l'acquisition d'images, les réglages des conditions de fonctionnement, la mise sous/hors tension, le contrôle de la platine, etc. Des définitions d'interface concises permettent le développement rapide de scripts et de logiciels spécifiques au microscope électronique, permettant le suivi automatisé des zones d'intérêt, l'acquisition de données pour l'automatisation industrielle, la correction de la dérive d'image, etc. Peut être utilisé pour le développement logiciel dans des domaines spécialisés tels que l'analyse des diatomées, l'inspection des impuretés de l'acier, l'analyse de la propreté, le contrôle des matières premières, etc.

▶ Carte automatique *Facultatif

Microscope CIQTEK FESEM SEM5000Pro sur le campus d'Ulsan, Université polytechnique de Corée
Nos clients coréens ont installé avec succès le FESEM SEM5000 sur le campus d'Ulsan. Il est largement considéré comme l'un des MEB les plus avancés du moment. (Vidéo incluse)

>> Lire la suite

Présentation du CIQTEK FESEM SEM5000Pro

CIQTEK FESEM SEM5000Pro sur le campus d'Ulsan de l'Université polytechnique, Corée

À l'intérieur de l'usine CIQTEK : visite de la fabrication d'un microscope électronique

Spécifications du microscope CIQTEK FESEM SEM5000Pro
Optique électronique	Résolution	0,8 nm à 15 kV, SE 1,2 nm à 1,0 kV, SE
	Tension d'accélération	0,02 kV ~ 30 kV
	Grossissement (Polaroid)	1 ~ 2 500 000 x
	Type de canon à électrons	Canon à électrons à émission de champ Schottky
Chambre d'échantillons	Caméra	Double caméra (navigation optique + moniteur de chambre)
	Caméra	Double caméra (navigation optique + moniteur de chambre)
	Gamme de scènes	X : 110 mm, Y : 110 mm, Z : 65 mm T : -10°～ +70°, R : 360°
Détecteurs et extensions SEM	Standard	Détecteur d'électrons Inlens Détecteur Everhart-Thornley (ETD)
Détecteurs et extensions SEM	Facultatif	Détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable (BSED) Microscope électronique à balayage et transmission rétractable (STEM) Détecteur de vide faible (LVD) Spectroscopie dispersive en énergie (EDS / EDX) Diagramme de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD) Sas d'échange d'échantillons (4 pouces / 8 pouces) Panneau de commande à boule de commande et bouton
Logiciel	Langue	Anglais
	Système opérateur	Windows
	Navigation	Navigation optique, navigation rapide par gestes, trackball (en option)
	Fonctions automatiques	Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmatisation automatique