ⶠStructure à double anode au pistolet à électrons *En option
Anode intermittente
L'anode intermittente est installée entre l'ensemble cathodique et l'anode. Sous une faible tension d'excitation, l'efficacité d'extraction du faisceau d'électrons peut être améliorée, la résolution peut être augmentée de 10 % et le rapport signal/bruit peut être augmenté de 30 %.
Pour les échantillons de matériaux carbonés, sous de faibles tensions d'excitation, la profondeur de pénétration du faisceau est faible, ce qui permet de capturer les véritables informations sur la morphologie de la surface avec des détails plus riches de l'échantillon.
Pour les échantillons de fibres polymères, les tensions d'excitation élevées endommagent l'échantillon par le faisceau, tandis que le faisceau basse tension permet de préserver les détails de la surface sans dommage.
ⶠMode SEM à faible vide
Le microscope SEM CIQTEK SEM3200 prend en charge les modes de vide faible en 2 étapes : une pression de chambre de 5 à 180 Pa peut être atteinte sans ouverture de limitation de pression, et 180 à 1 000 Pa est réalisable avec le PLA. La chambre à vide de lentille d'objectif spécialement conçue minimise le libre parcours moyen des électrons dans un vide faible et maintient la résolution à 3 nm à 30 kV.
Le faisceau d'électrons incident ionise les molécules d'air au-dessus de la surface, produisant des électrons et des ions, dans lesquels les ions neutralisent les particules chargées générées sur la surface de l'échantillon, obtenant ainsi l'effet d'atténuation de charge.
L'émission d'électrons secondaires de la surface de l'échantillon ionise les molécules d'air, générant simultanément des électrons, des ions et des photosignaux. Les électrons générés ionisent ensuite d'autres molécules d'air et un grand nombre de signaux photo sont produits puis capturés par un détecteur à faible vide (LVD).
En mode vide poussé, le LVD détecte directement le signal de cathodoluminescence émis par l'échantillon, qui peut être capturé pour l'imagerie par cathodoluminescence, avec une imagerie simultanée à partir du canal BSED.
ⶠNavigation optique
L'utilisation d'une caméra à chambre montée verticalement pour capturer des images optiques pour la navigation au stade de l'échantillon permet un positionnement plus intuitif et plus précis de l'échantillon.
â¶Correction intelligente de l'astigmatisme par image assistée
Dans ce mode, la valeur d'astigmatisme de X et Y varie en fonction des pixels. La clarté de l'image est maximisée à la valeur d'astigmatisme optimale, permettant un ajustement rapide du stigmateur.
ⶠFonctions automatiques
Fonctions automatiques améliorées de luminosité et de contraste, de mise au point automatique et de correction automatique de l'astigmatisme. Imagerie en un seul clic !
Mise au point automatique
Correction automatique de l'astigmatisme
Luminosité et contraste automatiques
ⶠPlus sûr à utiliser
ⶠRemplacement facile du filament
Module de filament de remplacement pré-aligné prêt à l'emploi.
