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field emission scanning electron microscope fe sem

FESEM | SEM4000Pro

Microscope électronique à balayage à émission de champ analytique (FESEM) avec grand faisceau I

CIQTEK SEM4000Pro est un modèle analytique de FE-SEM, équipé d'un canon à électrons à émission de champ Schottky à haute luminosité et longue durée de vie. La conception de la lentille électromagnétique à 3 étages offre des avantages significatifs dans les applications analytiques telles que EDS/EDX, EBSD, WDS, etc. Il est livré en standard avec un mode faible vide et un détecteur d'électrons secondaires à faible vide haute performance, ainsi qu'un détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable, qui profite à l'observation d'échantillons peu conducteurs ou non conducteurs.

Renseignez-vous maintenant

ⶠOptique électronique

sem4000pro Electron Optics

ⶠMode vide faible

En mode faible vide, une plage de 10 à 180 Pa peut être atteinte sans ouverture de limitation de pression. La chambre à vide de lentille d'objectif spécialement conçue minimise le libre parcours moyen des électrons dans des conditions de vide faible et atteint une résolution de 1,5 nm à 30 kV en mode vide faible.

L'émission d'électrons secondaires de la surface de l'échantillon ionise les molécules d'air et génère simultanément des électrons, des ions et des photons. Les électrons générés ionisent davantage d'autres molécules d'air, le détecteur d'électrons secondaires (LVD) sous vide faible capture une grande quantité de signaux photoniques produits dans un tel processus.

  • SEM Low Vacuum Mode
  • SEM Low Vacuum Mode

Le faisceau d'électrons incident ionise les molécules d'air à la surface de l'échantillon, générant des électrons et des ions. Ces ions neutralisent la charge de la surface, réduisant ainsi l'effet de charge.

ⶠLogiciel d'analyse des particules et des pores (particules) *En option

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Le logiciel du microscope CIQTEK SEM utilise divers algorithmes de détection et de segmentation de cibles, adaptés à différents types d'échantillons de particules et de pores. il permet une analyse quantitative des statistiques sur les particules et les pores et peut être appliqué dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie et les sciences de l'environnement.

ⶠLogiciel de post-traitement d'image *En option

SEM Microscope Image Post-processing Software

Effectuez un post-traitement d'image en ligne ou hors ligne sur des images capturées par des microscopes électroniques et intégrez des fonctions de traitement d'image EM couramment utilisées, des outils de mesure et d'annotation pratiques.

ⶠMesure automatique *En option

SEM Microscope software Auto Measure

Reconnaissance automatique des bords de largeur de ligne, ce qui entraîne des mesures plus précises et une plus grande cohérence. Prend en charge plusieurs modes de détection de bords, tels que Ligne, Espace, Pas, etc. Compatible avec plusieurs formats d'image et équipé de diverses fonctions de post-traitement d'image couramment utilisées. Le logiciel est facile à utiliser, efficace et précis.

ⶠKit de développement logiciel (SDK) *En option

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fournir un ensemble d'interfaces pour contrôler le microscope SEM, y compris l'acquisition d'images, les paramètres de conditions de fonctionnement, la mise sous/hors tension, le contrôle de scène, etc. Des définitions d'interface concises permettent le développement rapide de scripts et de logiciels de fonctionnement spécifiques au microscope électronique, permettant suivi automatisé des régions d'intérêt, acquisition de données d'automatisation industrielle, correction de la dérive d'image et autres fonctions. Peut être utilisé pour le développement de logiciels dans des domaines spécialisés tels que l'analyse des diatomées, l'inspection des impuretés de l'acier, l'analyse de la propreté, le contrôle des matières premières, etc.

ⶠAutoMap *Facultatif

FESEM Microscope software Auto Measure

Spécifications du microscope CIQTEK SEM4000Pro FESEM
Optique électronique Résolution Vide poussé

0,9 nm à 30 kV, SE
Faible vide

2,5 nm à 30 kV, ESB, 30 Pa

1,5 nm à 30 kV, SE, 30 Pa
Tension d'accélération 0,2 kV ~ 30 kV
Grossissement (Polaroid) 1 ~ 1 000 000x
Type de pistolet électronique Pistolet à électrons à émission de champ Schottky
Chambre à spécimens Faible vide Maximum 180 Pa
Caméra Double caméras (navigation optique + surveillance de la chambre)
Plage XY 110mm
Plage Z 65mm
Plage T -10° ~ +70°
Gamme R 360°
Détecteurs et extensions SEM Standard

Détecteur Everhart-Thornley (ETD)

Détecteur de faible vide (LVD)

Détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED)

Facultatif

Détecteur de microscopie électronique à transmission à balayage rétractable (STEM)

Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS/EDX)

Diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD)

Loadlock d'échange d'échantillons (4 pouces/8 poucesï¼

Panneau de commande avec trackball et bouton
Interface utilisateur Langue Anglais
OS Windows
Navigation Navigation optique, navigation rapide par gestes, Trackball (en option)
Fonctions automatiques Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmatisation automatique
Balises chaudes : Fournisseur mondial de fabricant et fournisseur mondial de microscope électronique à balayage à émission de champ Détecteurs SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM haute résolution FESEM meilleur prix Pistolet à électrons à émission de champ Schottky haute luminosité Microscopie électronique à balayage à émission de champ à meilleur grossissement Applications du microscope électronique à balayage à émission de champ Microscope électronique à balayage à émission de champ pdf Notes sur le microscope électronique à balayage à émission de champ
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