epr spectroscopy

Modernisation et mise à niveau du spectromètre EPR

Modernisez et mettez à niveau votre ancienne spectroscopie EPR pour une recherche EPR de pointe

Cette modernisation vous apportera des fonctionnalités telles que :

Sensibilité plus élevée : Technologie de détection de signal et de source micro-ondes à très faible bruit

Meilleure résolution : Technologie de contrôle précis du champ magnétique

Excellente compatibilité : Compatible avec une large gamme de spectromètres EPR

Livraison rapide: Livraison complète du matériel modernisé dans un délai de 2 à 6 mois

Service de haute qualité : Installation sur site et garantie de 2 ans

★ Envoyez-nous un e-mail pour plus de détails : info@ciqtek.com

▶ Spectroscopie EPR CIQTEK Modernisation Chemins


Ponts micro-ondes

CIQTEK EPR Spectroscopy Modernization -  CW Microwave Bridge Features

Caractéristiques du pont micro-ondes CW

bande X

• Gamme de fréquences micro-ondes : 9,2 à 9,9 GHz
• Puissance de sortie maximale des micro-ondes en mode nivelé : 200 mW
• Atténuateur micro-ondes : 0 à 60 dB par pas de 1 dB
• Prise en charge du réglage automatique et manuel
• Modernisable en bande Q
• Dimensions : 85 × 62 × 18 cm

bande Q

• Fréquence micro-ondes : ≈ 34 GHz
• Plage de puissance micro-ondes : 50 à 80 mW
• Atténuateur micro-ondes : 0 à 50 dB par pas de 1 dB
• Dimensions : 56 × 56 × 13 cm

CIQTEK EPR Spectroscopy Modernization -  Pulsed microwave amplifier features

Caractéristiques de l'amplificateur à micro-ondes pulsées

Les amplificateurs à semi-conducteurs présentent la même linéarité et la même distorsion d'intermodulation que les amplificateurs à tube à ondes progressives. Ils sont néanmoins plus compacts, ont une durée de vie plus longue et ne nécessitent ni alimentation haute tension ni fonctionnement périodique.

bande X

• Puissance de l'amplificateur micro-ondes : 450 W
• Dimensions : 48 x 44 x 22 cm

bande Q

• Puissance de l'amplificateur de puissance à semi-conducteurs : 150 W
• Dimensions : 43 × 35 × 15 cm


▶ REP Console de spectromètre et alimentation magnétique

Caractéristiques des pièces CW

1. Contrôleur de champ magnétique : Stabilité du champ magnétique dans la région de l'échantillon : 10 mG/heure ; Plage de fonctionnement : -0,1 à 1,8 T

2. Détection de verrouillage numérique

3. Alimentation magnétique ultra stable

4. Plage de fréquences de modulation : 0,5 à 120 kHz

CIQTEK EPR Spectroscopy Modernization -  Pulsed Part features

Caractéristiques de la partie pulsée

Unité d'acquisition de données

• Nombre de canaux : 2
• Taux d'échantillonnage : 1 GHz
• Prend en charge les modes de déclenchement interne et externe

Générateur d'impulsions

• 12 chaînes numériques
• Résolution temporelle : 0,05 ns

Résonateurs

Résonateur à facteur Q élevé

1. Fréquence de résonance de la cavité : 9,5 à 9,9 GHz

2. Q déchargé ≥ 18 000 (couplage critique)

3. Amplitude maximale du champ de modulation : 20 Gauss

4. Compatible avec l'azote et l'hélium à température variable système de température

5. Autotune disponible

CIQTEK EPR Spectroscopy Modernize - High-Q Resonator

Largeur du résonateur : 50 mm
Fenêtre optique : Ø 5 mm, compatible avec la fibre optique
Accès maximal à l'échantillon : Ø 10 mm


Résonateur bimode

1. Fréquence de résonance de la cavité : 9,6 à 10 GHz (mode perpendiculaire) 9,4 à 9,8 GHz (mode parallèle)

2. Amplitude maximale du champ de modulation : 10 Gauss

3. Compatible avec l'azote et l'hélium à température variable système de température

CIQTEK EPR Spectroscopy Modernize -  Dual Mode Resonator

Largeur du résonateur : 46 mm
Fenêtre optique : Ø 5 mm, compatible avec la fibre optique
Accès maximal à l'échantillon : Ø 10 mm


Résonateur pulsé PW-4201-DR

1. Fréquence de résonance de la cavité : 9,4 à 9,8 GHz

2. Bande passante du résonateur : 400 ± 40 MHz

3. Temps mort de détection : ≤ 100 ns

4. Compatible avec les systèmes à température variable à l'azote et à l'hélium

CIQTEK EPR Spectroscopy Modernize - PW-4201-DR Pulsed Resonator

Tige d'échantillon : 423 mm
Fenêtre optique : 5 × 12,5 mm
Bride : KF50
Diamètre du tube d'échantillon disponible : 3 mm ou 4 mm de diamètre extérieur


Résonateur pulsé ENDOR

1. Fréquence de résonance de la cavité : 9,4 à 9,8 GHz

2. Bande passante du résonateur : 400 ± 40 MHz

3. Temps mort de détection : ≤ 100 ns

4. Compatible avec les systèmes à température variable à l'azote et à l'hélium

CIQTEK EPR Spectroscopy Modernize - ENDOR Pulsed Resonator

Tige d'échantillon : 423 mm
Fenêtre optique : 5 × 12,5 mm
Bride : KF50
Diamètre du tube d'échantillon disponible : 3 mm ou 4 mm de diamètre extérieur


Systèmes cryogéniques

Système cryogénique à flux continu d'hélium liquide

CIQTEK EPR Spectroscopy Modernize - Liquid Helium Continuous-Flow Cryogenics System

Plage de température contrôlable de la zone d'échantillon : 3,2/4,4 à 300 K
Stabilité de la température : ± 0,1 K (dans la zone de température de l'hélium liquide)
Refroidissement rapide : temps de refroidissement < 30 min
Faible perte d'hélium liquide
Installation facile


Système cryogénique sec sans hélium liquide

CIQTEK EPR Spectroscopy Modernize - Liquid Helium-free Dry Cryogenic System

Plage de température contrôlable de la zone d'échantillon : 4 à 300 K
Stabilité de la température : ± 0,1 K (dans la zone de température de l'hélium liquide)
Plage de contrôle de température plus large
Fonctionnement stable et facile
Récupération rapide de la température après changement d'échantillon (< 30 minutes)
Coûts d'exploitation extrêmement bas

  • CIQTEK EPR Instruments
    Cryostat de type CW

    Compatible avec le résonateur High-Q et le résonateur à double mode.

  • CIQTEK EPR Instruments
    Cryostat de type L

    Compatible avec le résonateur pulsé DR et le résonateur ENDOR.
    ID de la cavité : 45 mm (système humide) ; 43 mm (système sec)


Système de température variable à l'azote liquide

CIQTEK EPR Spectroscopy Modernize - Liquid Nitrogen Variable Temperature System

Plage de température contrôlable de la zone d'échantillon : 100 à 600 K
Stabilité de la température : ± 0,2 K
Refroidissement rapide : temps de refroidissement < 30 minutes
Compatible avec les tests à haute température

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