epr spectrometer modernization

Modernisation et mise à niveau du spectromètre EPR

Modernisez et mettez à niveau votre ancien instrument RPE pour la recherche RPE de pointe

Ce service de modernisation et de mise à niveau des systèmes EPR vous offrira notamment les fonctionnalités suivantes : :

Sensibilité accrue : Technologie de source et de détection de signaux micro-ondes à très faible bruit

Meilleure résolution : Technologie de contrôle précis du champ magnétique

Excellente compatibilité : Compatible avec une large gamme de spectromètres RPE

Livraison rapide : Livraison complète du matériel modernisé sous 2 à 6 mois

Service de haute qualité : Installation sur site et garantie de 2 ans

★ Envoyez-nous un courriel pour plus de détails : info@ciqtek.com

▶ Spectromètre EPR CIQTEK Modernisation et mise à niveau Parcours


Ponts micro-ondes

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade -  CW Microwave Bridge Features

Caractéristiques du pont micro-ondes CW

Bande X

• Gamme de fréquences micro-ondes : 9,2 à 9,9 GHz
• Puissance de sortie micro-ondes maximale en mode nivelé : 200 mW
• Atténuateur micro-ondes : de 0 à 60 dB par incréments de 1 dB
• Prise en charge du réglage automatisé et manuel
• Modernisable en bande Q
• Dimensions : 85 × 62 × 18 cm

Bande Q

• Fréquence micro-ondes : 33,7 à 34,4 GHz
• Puissance micro-ondes de sortie maximale : 100 mW
• Atténuateur micro-ondes : 0 à 50 dB
• Dimensions : 65 × 62 × 20 cm

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade -  Pulsed microwave amplifier features

Caractéristiques de l'amplificateur à micro-ondes pulsées

Les amplificateurs à semi-conducteurs présentent la même linéarité et la même distorsion d'intermodulation que les amplificateurs à tubes à ondes progressives. Ils sont toutefois plus compacts, ont une durée de vie plus longue et ne nécessitent ni alimentation haute tension ni fonctionnement périodique.

Bande X

• Puissance de l'amplificateur micro-ondes : 500 W
• Dimensions : 43 x 35 x 15 cm

Bande Q

• Puissance de l'amplificateur à semi-conducteurs : 200 W
• Dimensions : 45 × 40 × 16 cm


▶ EPR Console de spectromètre et alimentation magnétique

Caractéristiques des pièces CW

1. Contrôleur de champ magnétique : Stabilité du champ magnétique dans la zone d'échantillonnage : 10 mG/h ; Plage de fonctionnement : -0,1 à 1,8 T

2. Détection de verrouillage numérique

3. Alimentation magnétique ultra stable

4. Plage de fréquences de modulation : 0,5 à 120 kHz

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade -  Pulsed Part features

Caractéristiques des parties pulsées

Unité d'acquisition de données

• Nombre de canaux : 2
• Fréquence d'échantillonnage : 1 GHz
• Prend en charge les modes de déclenchement internes et externes

Générateur d'impulsions

• 12 chaînes numériques
• Résolution temporelle : 0,05 ns

Résonateurs

Résonateur à facteur Q élevé

1. Fréquence de résonance de la cavité : 9,5 à 9,9 GHz

2. Q à vide ≥ 16 000 (couplage critique)

3. Amplitude maximale du champ de modulation : 20 Gauss

4. Compatible avec l'azote et l'hélium à température variable système de température

5. Autotune disponible

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - High-Q Resonator

Largeur du résonateur : 50 mm
Fenêtre optique : Ø 5 mm, compatible avec la fibre optique
Accès maximal à l'échantillon : Ø 10 mm


Résonateur à double mode

1. Fréquence de résonance de la cavité : 9,6 à 10 GHz (mode perpendiculaire), 9,4 à 9,8 GHz (mode parallèle)

2. Amplitude maximale du champ de modulation : 10 Gauss

3. Compatible avec l'azote et l'hélium à température variable système de température

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade -  Dual Mode Resonator

Largeur du résonateur : 46 mm
Fenêtre optique : Ø 5 mm, compatible avec la fibre optique
Accès maximal à l'échantillon : Ø 10 mm


Résonateur pulsé PW-4201-DR

1. Fréquence de résonance de la cavité : 9,4 à 9,8 GHz

2. Bande passante du résonateur : 400 ± 40 MHz

3. Temps mort de détection : ≤ 100 ns

4. Compatible avec le système de température variable à l'azote et à l'hélium

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - PW-4201-DR Pulsed Resonator

Tige d'échantillon : 423 mm
Fenêtre optique : 5 × 12,5 mm
Bride : KF50
Diamètre des tubes d'échantillon disponibles : 3 mm ou 4 mm de diamètre extérieur


Résonateur pulsé ENDOR

1. Fréquence de résonance de la cavité : 9,4 à 9,8 GHz

2. Bande passante du résonateur : 400 ± 40 MHz

3. Temps mort de détection : ≤ 100 ns

4. Compatible avec le système de température variable à l'azote et à l'hélium

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - ENDOR Pulsed Resonator

Tige d'échantillon : 423 mm
Fenêtre optique : 5 × 12,5 mm
Bride : KF50
Diamètre des tubes d'échantillon disponibles : 3 mm ou 4 mm de diamètre extérieur


Systèmes cryogéniques

Système cryogénique à flux continu d'hélium liquide

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - Liquid Helium Continuous-Flow Cryogenics System

Plage de température contrôlable (zone d'échantillonnage) : Standard : 4,4–300 K ; Optionnel : 3,2–300 K

Stabilité thermique : ± 0,1 K (dans la zone de température de l'hélium liquide)
Refroidissement rapide : temps de refroidissement < 30 minutes
Faible perte d'hélium liquide
Installation facile


Système cryogénique sec sans hélium liquide

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - Liquid Helium-free Dry Cryogenic System

Plage de température contrôlable de la zone d'échantillon : 4 à 300 K
Stabilité thermique : ± 0,1 K (dans la zone de température de l'hélium liquide)
Plage de contrôle de température plus étendue
Fonctionnement stable et facile
Récupération rapide de la température après changement d'échantillon (<30 minutes)
Coûts d'exploitation extrêmement bas

  • CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - CW-type Cryostat
    Cryostat de type CW

    Compatible avec les résonateurs à facteur de qualité élevé et les résonateurs à double mode.

  • CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - L-type Cryostat
    Cryostat de type L

    Compatible avec le résonateur pulsé DR et le résonateur ENDOR.
    Diamètre intérieur de la cavité : 45 mm (système humide) ; 43 mm (système sec)


Système à température variable à azote liquide

CIQTEK EPR Spectrometer Upgrade - Liquid Nitrogen Variable Temperature System

Plage de température contrôlable de la zone d'échantillonnage : 93 à 573 K
Stabilité thermique : ± 0,2 K
Refroidissement rapide : temps de refroidissement < 30 minutes
Compatible avec les tests à haute température

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