Microscope électronique à balayage à émission de champ FESEM | SEM5000Pro

Microscope SEM à filament de tungstène hautes performances avec d'excellentes capacités de qualité d'imagerie en modes vide poussé et faible Le CIQTEK SEM3200 SEM Microscope possède une grande profondeur de champ avec une interface conviviale pour permettre aux utilisateurs de caractériser les échantillons et d'explorer le monde de l'imagerie et de l'analyse microscopiques.

Microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) avec colonnes à faisceau d'ions focalisé (FIB) Le microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisé CIQTEK DB500 (FIB-SEM) adopte la technologie d'optique électronique « SuperTunnel », une faible aberration et une conception d'objectif non magnétique avec une capacité basse tension et haute résolution pour garantir l’analyse à l’échelle nanométrique. La colonne d'ions fournit une source d'ions de métal liquide Ga+ avec un faisceau d'ions très stable et de haute qualité pour la nanofabrication. FIB-SEM DB500 dispose d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz, d'un mécanisme électrique anti-contamination pour l'objectif et de 24 ports d'extension, ce qui en fait une plate-forme complète de nano-analyse et de fabrication avec des configurations complètes et une extensibilité. .

Microscopie électronique à balayage par émission de champ ultra haute résolution (FESEM) : 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV Le FESEM ultra haute résolution CIQTEK SEM5000X utilise le processus d'ingénierie de colonne amélioré, la technologie « SuperTunnel » et la conception d'objectif haute résolution pour améliorer la résolution d'imagerie basse tension. Les ports de la chambre à échantillons FESEM SEM5000X s'étendent jusqu'à 16 et le verrouillage de charge d'échange d'échantillons prend en charge une taille de tranche allant jusqu'à 8 pouces (diamètre maximum 208 mm), élargissant considérablement les applications. Les modes de numérisation avancés et les fonctions automatisées améliorées offrent des performances plus élevées et une expérience encore plus optimisée.

Microscope électronique à balayage à émission de champ analytique (FESEM) équipé d'un canon électronique à émission de champ Schottky à haute luminosité et longue durée de vie Avec la conception de colonne d'optique électronique à condensateur à trois étages pour des courants de faisceau jusqu'à 200 nA, le SEM4000Pro offre des avantages dans les domaines EDS, EBSD, WDS et autres applications analytiques. Le système prend en charge le mode faible vide ainsi qu'un détecteur d'électrons secondaires à faible vide hautes performances et un détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable, qui peuvent aider à observer directement des échantillons peu conducteurs, voire non conducteurs. Le mode de navigation optique standard et une interface utilisateur intuitive facilitent votre travail d'analyse.

Microscope électronique à balayage à grande vitesse pour l'imagerie à grande échelle de échantillons de grand volume CIQTEK HEM6000 intègre des technologies telles que le canon à électrons à grand faisceau à haute luminosité, le système de déviation du faisceau d'électrons à grande vitesse, la décélération de l'étage d'échantillonnage à haute tension, l'axe optique dynamique et l'objectif combiné électromagnétique et électrostatique à immersion pour obtenir des objectifs élevés. -Accédez rapidement des images tout en garantissant une résolution à l'échelle nanométrique. Le processus de fonctionnement automatisé est conçu pour des applications telles qu'un flux de travail d'imagerie haute résolution sur de grandes surfaces plus efficace et plus intelligent. La vitesse d'imagerie peut atteindre plus de 5 fois plus rapide qu'un microscope électronique à balayage à émission de champ conventionnel (fesem).