Microscope électronique à balayage à émission de champ | SEM5000

Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Ga+ Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et dispose de la fonction « basse tension et haute résolution » pour garantir ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes ioniques fournissent une source d'ions métal liquide Ga+ avec des faisceaux d'ions extrêmement stables et de haute qualité, garantissant ainsi la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour l'analyse et la fabrication de nanoparticules, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.

Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.

Stable, polyvalent, flexible et efficace Le CIQTEK SEM4000X est une solution stable, polyvalente, flexible et efficace microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) Il atteint une résolution de 1,9 nm à 1,0 kV et relève facilement les défis de l'imagerie haute résolution pour divers types d'échantillons. Il peut être mis à niveau avec un mode de décélération ultra-faible pour améliorer encore la résolution basse tension. Le microscope utilise la technologie multidétecteur, avec un détecteur d'électrons en colonne (UD) capable de détecter les signaux SE et BSE tout en offrant des performances haute résolution. Le détecteur d'électrons monté sur la chambre (LD) intègre un scintillateur à cristal et des tubes photomultiplicateurs, offrant une sensibilité et une efficacité accrues, permettant d'obtenir des images stéréoscopiques d'excellente qualité. L'interface utilisateur graphique est conviviale et propose des fonctions d'automatisation telles que la luminosité et le contraste automatiques, la mise au point automatique, le stigmateur automatique et l'alignement automatique, permettant une capture rapide d'images ultra-haute résolution.

MEB à filament de tungstène haute performance et universel Microscope Le Microscope SEM CIQTEK SEM3200 Le SEM3200 est un excellent microscope électronique à balayage (MEB) à filament de tungstène polyvalent, doté de capacités globales exceptionnelles. Sa structure unique à double anode garantit une haute résolution et améliore le rapport signal/bruit de l'image à faibles tensions d'excitation. De plus, il offre une large gamme d'accessoires optionnels, faisant du SEM3200 un instrument d'analyse polyvalent et polyvalent.