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Microscope électronique à balayage à émission de champ | SEM5000

CIQTEK SEM5000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ doté d'une capacité d'imagerie et d'analyse haute résolution, soutenu par de nombreuses fonctions, bénéficiant d'une conception avancée de colonne d'optique électronique, avec une technologie de tunnel de faisceau d'électrons à haute pression (SuperTunnel), une faible aberration et une non-immersion. lentille d'objectif, permet d'obtenir une imagerie haute résolution basse tension, l'échantillon magnétique peut également être analysé.

Grâce à la navigation optique, aux fonctionnalités automatisées, à l'interface utilisateur d'interaction homme-machine soigneusement conçue et au processus de fonctionnement et d'utilisation optimisé, que vous soyez un expert ou non, vous pouvez rapidement démarrer et terminer un travail d'imagerie et d'analyse haute résolution.

 

• Imagerie haute résolution à faible tension accélératrice.

• L'objectif composite électromagnétique améliore la résolution basse tension et permet l'observation magnétique des échantillons.

• La technologie de tunneling haute pression (SuperTunnel) assure une résolution basse tension.

• Le chemin optique électronique sans croisement réduit efficacement les aberrations du système et améliore la résolution.

• Lentille d'objectif à température constante refroidie à l'eau, pour assurer la stabilité, la fiabilité et la répétabilité du travail de la lentille d'objectif.

• Système d'ouvertures à six trous à déviation magnétique, avec ouvertures commutables automatiquement, aucun ajustement mécanique nécessaire, permet d'obtenir une imagerie haute résolution ou un mode d'analyse à grand faisceau grâce à une commutation rapide en un clic.

 

Paramètres clés Résolution

0,9 nm à 15 kV, SE

1,3 nm à 1,0 kV, SE

0,8 nm à 30 kV, STEM

Tension d'accélération 20 V ~ 30 kV
Grossissement 1 ~ 2 500 000 x
Type de pistolet à électrons Pistolet à électrons à émission de champ Schottky haute luminosité
Chambre à spécimens Système de vide Contrôle entièrement automatique, système de vide sans huile
Caméra Double caméras (navigation optique + moniteur de chambre)
Gamme de scène

X : 125 mm, Y : 125 mm, Z : 50 mm

T : -10°~ +90°, R : 360°

(*Version à chambre extra-large en option disponible)

Détecteurs et extensions Standard

Détecteur Inlens SE

Détecteur Everhart-Thornley (ETD)

Facultatif

Détecteur d'électrons rétrodiffusés à angle moyen à insertion plate

Détecteur d'électrons à transmission à balayage rétractable automatique STEM

Loadlock d'échange de spécimens

Suppresseur de faisceau rapide

Spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS/EDX)

Diagramme de diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD)

Courant induit par un faisceau d'électrons (EBIC)

Cathodoluminescence (CL)

Étape de traction in situ

Nanomanipulateur

Assemblage d'images à grande échelle

Panneau de commande avec trackball et bouton

Logiciel Langue Anglais
Système opérateur les fenêtres
La navigation Nav-Cam, navigation gestuelle
Fonctions automatiques Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmatiseur automatique

 

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