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CIQTEK is the manufacturer and global supplier of high-value scientific instruments, such as Electron Microscopes, Electron Paramagnetic Resonance (Electron Spin Resonance), Gas Adsorption Analyzers, Scanning NV Microscopes, etc.
Ultra-high Resolution Field Emission Scanning Electron Microscope for sale
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Microscope électronique à balayage à émission de champ ultra haute résolution | SEM5000X

CIQTEK SEM5000X est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) ultra haute résolution avec une résolution révolutionnaire de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV.

Bénéficiant du processus d'ingénierie de colonne amélioré, de la technologie « SuperTunnel » et de la conception d'objectif haute résolution, le SEM5000X peut apporter de nouvelles améliorations en matière de résolution d'imagerie basse tension. Les ports de la chambre d'échantillon s'étendent jusqu'à 16 et le verrouillage de charge d'échange d'échantillon prend en charge une taille de tranche allant jusqu'à 8 pouces (diamètre maximum 208 mm), ce qui élargit considérablement les applications. couverture. Les modes de numérisation avancés et les fonctions automatisées améliorées apportent des performances plus élevées et une expérience encore plus optimisée.

Paramètres clés Résolution

0,6 nm à 15 kV, SE

1,0 nm à 1 kV, SE

Tension d'accélération 20 V ~ 30 kV
Grossissement 1 ~ 2 500 000 x
Type de pistolet à électrons Pistolet à électrons à émission de champ Schottky
Chambre à spécimens
Système de vide
Contrôle entièrement automatisé
Appareils photo Double caméras (navigation optique + moniteur de chambre)
Type de scène Platine d'échantillon eucentrique mécanique à 5 axes
Gamme de scène

X=110 mm, Y=110 mm, Z=65 mm

T : -10*~+70°, R : 360°

Détecteurs et extensions Standard

Détecteur intégré à l'objectif

Détecteur Everhart-Thornley (ETD)

Facultatif

Détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable (BSED)

Détecteur de microscopie électronique à transmission à balayage rétractable (STEM)

Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS)

Diagramme de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD)

Loadlock d'échange de spécimens (4" et 8" en option)

Trackball et amp; Panneau de commande à boutons

Décélération en tandem de l'étage d'échantillon

Champ magnétique et amp; Système de protection contre le bruit acoustique (certifié SEMI)

Logiciel Langues

Anglais

Système opérateur

les fenêtres

La navigation

Nav-Cam, navigation rapide par gestes

Fonctions automatiques

Luminosité et luminosité automatiques Contraste, mise au point automatique, stigmatiseur automatique

 

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