Le CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance, conçu pour ceux qui exigent l'excellence en imagerie. Il offre une qualité d'image exceptionnelle avec des visuels haute résolution et une profondeur de champ étendue, garantissant des détails et une dimension riches dans chaque image.
SEM3200 offre également un mode faible vide, permettant l'observation directe d'échantillons non conducteurs sans avoir besoin de revêtement. Son évolutivité étendue le rend compatible avec divers détecteurs et outils, notamment SE, BSE, EDS et EBSD.
Pour les scientifiques, le SEM3200 offre de nombreux avantages :
· Imagerie haute résolution : Obtenez une clarté et des détails époustouflants.
· Polyvalence : Positionnement flexible de l'échantillon avec une platine eucentrique à cinq axes.
· Évolutivité : Intégrez de manière transparente des détecteurs et des outils analytiques supplémentaires pour étendre les fonctionnalités.
· Interface conviviale : Simplifie les tâches d'imagerie complexes, améliorant ainsi la productivité et les résultats de la recherche.
Ces fonctionnalités permettent aux chercheurs de repousser les limites de leur travail, de la science des matériaux aux études biologiques.
Microscope SEM à filament de tungstène hautes performances avec d'excellentes capacités de qualité d'imagerie en modes vide poussé et faible Le CIQTEK SEM3200 SEM Microscope possède une grande profondeur de champ avec une interface conviviale pour permettre aux utilisateurs de caractériser les échantillons et d'explorer le monde de l'imagerie et de l'analyse microscopiques.