Le CIQTEK SEM3200 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène haute performance, conçu pour ceux qui exigent l'excellence en imagerie. Il offre une qualité d'image exceptionnelle avec des visuels haute résolution et une profondeur de champ étendue, garantissant des détails et une dimension riches dans chaque image.
SEM3200 offre également un mode faible vide, permettant l'observation directe d'échantillons non conducteurs sans avoir besoin de revêtement. Son évolutivité étendue le rend compatible avec divers détecteurs et outils, notamment SE, BSE, EDS et EBSD.
Pour les scientifiques, le SEM3200 offre de nombreux avantages :
· Imagerie haute résolution : Obtenez une clarté et des détails époustouflants.
· Polyvalence : Positionnement flexible de l'échantillon avec une platine eucentrique à cinq axes.
· Évolutivité : Intégrez de manière transparente des détecteurs et des outils analytiques supplémentaires pour étendre les fonctionnalités.
· Interface conviviale : Simplifie les tâches d'imagerie complexes, améliorant ainsi la productivité et les résultats de la recherche.
Ces fonctionnalités permettent aux chercheurs de repousser les limites de leur travail, de la science des matériaux aux études biologiques.
Microscope SEM à filament de tungstène universel et hautes performances Le microscope SEM CIQTEK SEM3200 est un excellent microscope électronique à balayage à filament de tungstène (MEB) à usage général doté de capacités globales exceptionnelles. Sa structure unique de canon électronique à double anode garantit une haute résolution et améliore le rapport signal/bruit de l'image à de faibles tensions d'excitation. De plus, il offre une large gamme d'accessoires en option, faisant du SEM3200 un instrument d'analyse polyvalent doté d'excellentes possibilités d'utilisation.
Microscope électronique à balayage à filament de tungstène de nouvelle génération Le CIQTEK SEM3300 microscope électronique à balayage (SEM) intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », des détecteurs d'électrons intégrés et un objectif composé électrostatique et électromagnétique. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution de longue date d'un tel SEM est dépassée, permettant au SEM à filament de tungstène d'effectuer des tâches d'analyse à basse tension auparavant uniquement réalisables avec des SEM à émission de champ.
Microscope électronique à transmission (TEM) à émission de champ 120 kV 1. Espaces de travail divisés : Les utilisateurs utilisent le TEM dans une pièce divisée avec un confort réduisant les interférences environnementales sur le TEM. 2. Efficacité opérationnelle élevée : le logiciel désigné intègre des processus hautement automatisés, permettant une interaction TEM efficace avec une surveillance en temps réel. 3. Expérience opérationnelle améliorée : Équipé d'un canon à électrons à émission de champ avec un système hautement automatisé. 4. Haute extensibilité : Il existe suffisamment d'interfaces réservées aux utilisateurs pour passer à une configuration supérieure, qui répond à diverses exigences d'application.