FESEM | SEM4000X

Stable, polyvalent, flexible et efficace

Le CIQTEK SEM4000X est un microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) stable, polyvalent, flexible et efficace. Il atteint une résolution de 1,9 nm à 1,0 kV et relève facilement les défis d'imagerie haute résolution pour différents types d'échantillons. Il peut être mis à niveau avec un mode de décélération ultra-faisceau pour améliorer encore davantage la résolution basse tension.

Le microscope utilise une technologie multi-détecteurs, avec un détecteur d'électrons (UD) dans la colonne capable de détecter les signaux SE et BSE tout en offrant des performances haute résolution. Le détecteur d'électrons (LD) monté sur chambre intègre un scintillateur à cristal et des tubes photomultiplicateurs, offrant une sensibilité et une efficacité plus élevées, résultant en des images stéréoscopiques d'excellente qualité. L'interface utilisateur graphique est conviviale et comprend des fonctions d'automatisation telles que la luminosité et le contraste automatiques, la mise au point automatique, le stigmateur automatique et l'alignement automatique, permettant une capture rapide d'images ultra haute résolution.

Renseignez-vous maintenant

Haute résolution
Technologie multi-détecteurs
Alignement simplifié

Construit à partir d'une plate-forme haut de gamme
*Technologie de mode de décélération ultra-faisceau
Excellente extensibilité

â¶ Optique électronique

â¶ Logiciel d'analyse des particules et des pores (particules) *En option

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Le logiciel du microscope CIQTEK SEM utilise divers algorithmes de détection et de segmentation de cibles, adaptés à différents types d'échantillons de particules et de pores. il permet une analyse quantitative des statistiques sur les particules et les pores et peut être appliqué dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie et les sciences de l'environnement.

â¶ Logiciel de post-traitement d'image *En option

SEM Microscope Image Post-processing Software

Effectuez un post-traitement d'image en ligne ou hors ligne sur des images capturées par des microscopes électroniques et intégrez des fonctions de traitement d'image EM couramment utilisées, des outils de mesure et d'annotation pratiques.

â¶ Mesure automatique *En option

Reconnaissance automatique des bords de largeur de ligne, ce qui entraîne des mesures plus précises et une plus grande cohérence. Prend en charge plusieurs modes de détection de bords, tels que Ligne, Espace, Pas, etc. Compatible avec plusieurs formats d'image et équipé de diverses fonctions de post-traitement d'image couramment utilisées. Le logiciel est facile à utiliser, efficace et précis.

â¶ Kit de développement logiciel (SDK) *En option

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fournir un ensemble d'interfaces pour contrôler le microscope SEM, y compris l'acquisition d'images, les paramètres de conditions de fonctionnement, la mise sous/hors tension, le contrôle de scène, etc. Des définitions d'interface concises permettent le développement rapide de scripts et de logiciels de fonctionnement spécifiques au microscope électronique, permettant suivi automatisé des régions d'intérêt, acquisition de données d'automatisation industrielle, correction de la dérive d'image et autres fonctions. Peut être utilisé pour le développement de logiciels dans des domaines spécialisés tels que l'analyse des diatomées, l'inspection des impuretés de l'acier, l'analyse de la propreté, le contrôle des matières premières, etc.

â¶ AutoMap *Facultatif

Spécifications du microscope CIQTEK SEM4000X FESEM
Optique électronique	Résolution	0,9 nm à 30 kV, SE 1,2 nm à 15 kV, SE 1,9 nm à 1 kV, SE 1,5 nm à 1 kV (décélération ultra-faisceau) 1 nm à 15 kV (décélération ultra faisceau)
	Tension d'accélération	0,2 kV ~ 30 kV
	Grossissement (Polaroid)	1 ~ 1 000 000x
	Type de pistolet électronique	Pistolet à électrons à émission de champ Schottky
Chambre à spécimens	Caméra	Double caméras (navigation optique + surveillance de la chambre)


	Plage de scène	X : 110 mm Y : 110 mm Z : 50 mm T : -10°~ +70° D : 360°
Détecteurs et extensions SEM	Norme	Détecteur d'électrons intégré à l'objectif : UD-BSE/UD-SE Détecteur Everhart-Thornley : LD
Détecteurs et extensions SEM	Facultatif	Détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED) Détecteur de microscopie électronique à transmission à balayage rétractable (STEM) Détecteur de faible vide (LVD) Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS / EDX) Diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD) Loadlock pour échange d'échantillons (4 pouces/8 pouces) Panneau de commande avec boule de commande et bouton Technologie de mode de décélération ultra-faisceau
Interface utilisateur	Langue	Anglais
	OS	Windows
	Navigation	Navigation optique, navigation rapide par gestes, trackball (en option)
	Fonctions automatiques	Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmatisation automatique

Balises chaudes : Fournisseur mondial de fabricant et fournisseur mondial de microscope électronique à balayage à émission de champ Détecteurs SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM haute résolution FESEM meilleur prix Pistolet à électrons à émission de champ Schottky haute luminosité Microscopie électronique à balayage à émission de champ à meilleur grossissement Applications du microscope électronique à balayage à émission de champ Microscope électronique à balayage à émission de champ pdf Notes sur le microscope électronique à balayage à émission de champ

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