transmission electron microscope price

TEM à émission de champ | TH-F120

Microscope électronique à transmission (TEM) à émission de champ 120 kV

1. Espaces de travail divisés : Les utilisateurs utilisent le TEM dans une pièce divisée avec un confort réduisant les interférences environnementales sur le TEM.

2. Efficacité opérationnelle élevée : le logiciel désigné intègre des processus hautement automatisés, permettant une interaction TEM efficace avec une surveillance en temps réel.

3. Expérience opérationnelle améliorée : Équipé d'un canon à électrons à émission de champ avec un système hautement automatisé.

4. Haute extensibilité : Il existe suffisamment d'interfaces réservées aux utilisateurs pour passer à une configuration supérieure, qui répond à diverses exigences d'application.

Galerie d'images du microscope CIQTEK TEM TH-F120


TEM Microscope analysis image
TEM Microscope analysis image

  • tem image analysis
  • tem image analysis

Spécifications du microscope CIQTEK TH-F120 TEM
Version à contraste élevé Version haute résolution
Tension d'accélération 10kV ~120kV 10kV ~120kV
Limite d'informations 0,20 nm 0,14 nm
Résolution des points 0,36 nm 0,3 nm
Plage de grossissement 10 ~1 200 000 x 10 ~ 1 500 000 x
Taille du capteur de la caméra 4 096 x 4 096 (pixels) 4 096 x 4 096 (pixels)
Angle de rotation de la scène -90° ~ +90° -70° ~ +70°
Équipement optionnel EDS, STEM, caméra latérale, EELS, cryo-box
Laisser un message
N'hésitez pas à nous contacter pour plus de détails, demander un devis ou réserver une démo en ligne ! Nous vous répondrons dès que possible.
Soumettre
Produits connexes
fib sem microscopy

Microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) avec colonnes à faisceau d'ions focalisé (FIB) Le microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisé CIQTEK DB550 (FIB-SEM) dispose d'une colonne de faisceau d'ions focalisé pour la nano-analyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une conception d'objectif à faible aberration et non magnétique, et possède la fonction « basse tension, haute résolution » pour garantir ses capacités analytiques à l'échelle nanométrique. Les colonnes d'ions facilitent une source d'ions de métal liquide Ga+ avec des faisceaux d'ions très stables et de haute qualité pour garantir les capacités de nanofabrication. Le DB550 est une station de travail de nano-analyse et de fabrication tout-en-un avec un nano-manipulateur intégré, un système d'injection de gaz et un logiciel GUI convivial.

Apprendre encore plus
sem electron microscope

Microscope électronique à balayage à grande vitesse pour l'imagerie à grande échelle de échantillons de grand volume CIQTEK HEM6000 intègre des technologies telles que le canon à électrons à courant large et à haute luminosité, le système de déviation du faisceau d'électrons à grande vitesse, la décélération de l'étage d'échantillonnage à haute tension, l'axe optique dynamique et l'objectif combiné électromagnétique et électrostatique à immersion. pour obtenir une acquisition d'images à grande vitesse tout en garantissant une résolution à l'échelle nanométrique. Le processus de fonctionnement automatisé est conçu pour des applications telles qu'un flux de travail d'imagerie haute résolution sur de grandes surfaces plus efficace et plus intelligent. La vitesse d'imagerie peut atteindre 5 fois plus rapide qu'un microscope électronique à balayage à émission de champ conventionnel (FESEM).

Apprendre encore plus
fesem edx

Microscopie électronique à balayage par émission de champ ultra haute résolution (FESEM) : 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV Le FESEM ultra haute résolution CIQTEK SEM5000X utilise le processus d'ingénierie de colonne amélioré, la technologie « SuperTunnel » et la conception d'objectif haute résolution pour améliorer la résolution d'imagerie basse tension. Les ports de la chambre à échantillons FESEM SEM5000X s'étendent jusqu'à 16 et le verrouillage de charge d'échange d'échantillons prend en charge une taille de tranche allant jusqu'à 8 pouces (diamètre maximum 208 mm), élargissant considérablement les applications. Les modes de numérisation avancés et les fonctions automatisées améliorées offrent des performances plus élevées et une expérience encore plus optimisée.

Apprendre encore plus
sem microscope price

Lisez les informations des clients des SEM Microscopes CIQTEK etapprenez-en davantage sur les forces et les réalisations de CIQTEK en tant que leader de l'industrie SEM ! E-mail : info@ciqtek.com

Apprendre encore plus
Haut

Laisser un message

Laisser un message
N'hésitez pas à nous contacter pour plus de détails, demander un devis ou réserver une démo en ligne ! Nous vous répondrons dès que possible.
Soumettre

Maison

Des produits

Chat

contact