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Filament de tungstène SEM | SEM3300

Microscope électronique à balayage à filament de tungstène de nouvelle génération

Le CIQTEK SEM3300 microscope électronique à balayage (SEM) intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », des détecteurs d'électrons intégrés et un objectif composé électrostatique et électromagnétique. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution de longue date d'un tel SEM est dépassée, permettant au SEM à filament de tungstène d'effectuer des tâches d'analyse à basse tension auparavant uniquement réalisables avec des SEM à émission de champ.

Renseignez-vous maintenant

ⶠDétecteur d'électrons intégré à l'objectif

  • SEM In-lens Electron Detector
  • SEM3300 analysis images

    Images du diaphragme d'une batterie au lithium prises à 1 kV avec un grossissement de 20 000 fois sur film, images prises avec SEM3300

ⶠNavigation optique

L'utilisation d'une caméra à chambre montée verticalement pour capturer des images optiques pour la navigation au stade de l'échantillon permet un positionnement plus intuitif et plus précis de l'échantillon.

  • SEM Optical Navigation

ⶠFonctions automatiques

Fonctions améliorées de luminosité et de contraste automatiques, de mise au point automatique et de correction automatique de l'astigmatisme. Imagerie en un seul clic !

Mise au point automatique

  • during autofocus
  • after autofocus

Correction automatique de l'astigmatisme

  • during autofocus
  • after autofocus

Luminosité et contraste automatiques

  • during autofocus
  • after autofocus

ⶠUtilisation plus sûre

ⶠRemplacement facile du filament

Module de filament de remplacement pré-aligné prêt à l'emploi.

Galerie d'images du microscope SEM CIQTEK SEM3300

ⶠLogiciel d'analyse des particules et des pores (particules) *En option

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Le logiciel du microscope CIQTEK SEM utilise divers algorithmes de détection et de segmentation de cibles, adaptés à différents types d'échantillons de particules et de pores. il permet une analyse quantitative des statistiques sur les particules et les pores et peut être appliqué dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie et les sciences de l'environnement.

ⶠLogiciel de post-traitement d'images

SEM Microscope Image Post-processing Software

Effectuez un post-traitement d'image en ligne ou hors ligne sur des images capturées par des microscopes électroniques et intégrez des fonctions de traitement d'image EM couramment utilisées, des outils de mesure et d'annotation pratiques.

ⶠMesure automatique *En option

SEM Microscope software Auto Measure

Reconnaissance automatique des bords de largeur de ligne, ce qui entraîne des mesures plus précises et une plus grande cohérence. Prend en charge plusieurs modes de détection de bords, tels que Ligne, Espace, Pas, etc. Compatible avec plusieurs formats d'image et équipé de diverses fonctions de post-traitement d'image couramment utilisées. Le logiciel est facile à utiliser, efficace et précis.

ⶠKit de développement logiciel (SDK) *En option

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fournir un ensemble d'interfaces pour contrôler le microscope SEM, y compris l'acquisition d'images, les paramètres de conditions de fonctionnement, la mise sous/hors tension, le contrôle de scène, etc. Des définitions d'interface concises permettent le développement rapide de scripts et de logiciels de fonctionnement spécifiques au microscope électronique, permettant suivi automatisé des régions d'intérêt, acquisition de données d'automatisation industrielle, correction de la dérive d'image et autres fonctions. Peut être utilisé pour le développement de logiciels dans des domaines spécialisés tels que l'analyse des diatomées, l'inspection des impuretés de l'acier, l'analyse de la propreté, le contrôle des matières premières, etc.

ⶠAutoMap *Facultatif

  • during autofocus

Spécifications du microscope SEM CIQTEK SEM3300
Optique électronique Résolution 2,5 nm à 15 kV, SE
4 nm à 3 kV, SE
5 nm à 1 kV, SE
Tension d'accélération 0,1 kV ~ 30 kV
Grossissement (Polaroid) 1x ~ 300 000x
Chambre à spécimens Caméra Navigation optique
Surveillance de la chambre
Type d'étape Motorisé compatible avec le vide à 5 axes
Plage XY 125mm
Plage Z 50mm
Plage T - 10° ~ 90°
Gamme R 360°
Détecteurs SEM Norme Détecteur d'électrons intégré à l'objectif (Inlens)
Détecteur Everhart-Thornley (ETD)
Facultatif Détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable (BSED)
Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS / EDX)
Diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD)
Facultatif Loadlock pour échange de spécimens
Panneau de commande avec trackball et bouton
Interface utilisateur Système d'exploitation Windows
Navigation Navigation optique, navigation rapide par gestes, trackball (en option)
Fonctions automatiques Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmatisation automatique
Balises chaudes : vendre des microscopes électroniques à balayage fabricants de sem coût du microscope sem types de microscope électronique à balayage acheter un microscope électronique à balayage technologie SEM sem se ESB grossissement du sem
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