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Microscope électronique à balayage à filament de tungstène | SEM2000

Le CIQTEK SEM2000 est un microscope électronique à balayage à filament de tungstène analytique fondamental et polyvalent avec une résolution de 20 kV jusqu'à 3,9 nm et une prise en charge de la mise à niveau jusqu'à 30 kV, permettant l'observation des informations microstructurales d'échantillons à l'échelle sub-microscopique.

Il a une amplitude de mouvement plus étendue qu'un SEM de bureau/de paillasse. Il convient au criblage rapide d'échantillons et dispose de davantage d'interfaces d'extension pour BSED, EDS/EDX et d'autres accessoires pour permettre une gamme d'applications plus large.

  • Résolution
    3,9 nm à 20 kV
  • Tension d'accélération
    0,5 ~ 20 kV (30 kV en option)
  • Grossissement
    1 ~ 300 000x

 

Interface utilisateur simple

Interface claire et simple

Les fonctionnalités sont simples et faciles à utiliser. Même les débutants peuvent se lancer rapidement après un apprentissage rapide.

Fonctionnalités d'automatisation avancées

Le contraste de luminosité automatique, la mise au point automatique et la dispersion automatique de l'image sont tous réglables en un seul clic.

Fonctions de mesure étendues

Fonctions de gestion, de prévisualisation et d'édition de photos avec fonctions de mesure telles que la longueur, la surface, la rondeur et l'angle.


 

Fonctions en vedette

Navigation optique

Navigation facile en cliquant là où vous voulez voir.

Caméra de navigation optique standard pour des photos haute définition des scènes d'échantillonnage et un positionnement rapide des échantillons.

 

 

Anti-collision

Conception anti-collision plus conviviale pour les novices pour une protection maximale des unités sensibles.

 

Imagerie en un clic

*Le logiciel est facile à utiliser avec une imagerie en un clic.

 

 

Distance de travail

La distance d'analyse optimale et la distance d'image sont deux en un pour bénéficier facilement de performances de qualité.

 

 

Imagerie simultanée de plusieurs informations

Le logiciel prend en charge la commutation en un clic entre SE et BSE pour l'imagerie hybride. Les informations morphologiques et compositionnelles de l’échantillon peuvent être observées en même temps.

 

Indicateurs de résolution

 

Détecteurs polyvalents

Détecteur de rétrodiffusion haute sensibilité

· Imagerie multicanal

Le détecteur a une conception compacte et une sensibilité élevée. Avec une conception à 4 segments, il n’est pas nécessaire d’incliner l’échantillon pour obtenir des images d’ombres dans différentes directions ainsi que des images de distribution de composition.

 

 

· Comparaison de l'imagerie des électrons secondaires (SE) et de l'imagerie des électrons rétrodiffusés (ESB)

En mode d’imagerie électronique rétrodiffusée, l’effet de charge est considérablement diminué et davantage d’informations sur la composition de la surface de l’échantillon peuvent être obtenues.

 

 

Spectre énergétique

Résultats de l’analyse de surface du spectre énergétique des inclusions métalliques.

 

 

 

Diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD)

Le microscope électronique à filament de tungstène doté d'un courant de faisceau important répond pleinement aux exigences de test de l'EBSD haute résolution et est capable d'analyser des matériaux polycristallins tels que les métaux, les céramiques et les minéraux pour l'étalonnage de l'orientation des cristaux et de la taille des grains.

La figure montre la carte antipodale EBSD d'un échantillon de métal Ni, qui peut identifier la taille et l'orientation des grains, déterminer les joints et les jumeaux des grains et porter des jugements précis sur l'organisation et la structure des matériaux.

 

Systèmes électro-optiques Pistolet à électrons Filament de tungstène de type fourche pré-aligné de taille moyenne
Résolution

3,9 nm à 20 kV (SE)

4,5 nm à 20 kV (ESB)

Grossissement 1 x ~ 300 000 x
Tension d'accélération 0,5kV ~ 20kV
Systèmes d'imagerie Détecteur

Détecteur d'électrons secondaires (ETD)

*Détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED), *spectomètre d'énergie EDS, etc.

Format d'image TIFF, JPG, BMP, PNG
Système de vide Vide poussé Mieux que 5×10 -4 Pa
Mode de contrôle Système de contrôle entièrement automatisé
Pompes Pompe mécanique ×1, pompe moléculaire ×1
Chambre d'échantillon Caméra Navigation optique
Exemple de tableau Automatique à deux axes
Distance

X : 100 mm

Y : 100 mm

Logiciel Système opérateur les fenêtres
Navigation Navigation optique, navigation rapide par gestes
Fonctions automatiques Contraste de luminosité automatique, mise au point automatique, dissipation automatique
Fonctions spéciales Dispersion assistée intelligente, *Assemblage d'images à grande échelle (accessoires en option)
Exigences d'installation Espace L ≥ 3000 mm, L ≥ 4000 mm, H ≥ 2300 mm
Température 20°C (68°F) ~ 25°C (77°F)
Humidité ≤ 50 %
Source de courant 220 V CA (±10 %), 50 Hz, 2 kVA
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