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Analyse MEB par émission de champ haute résolution des interfaces semi-conducteur-métal

Jun 27 , 2025

L'interface entre les matériaux semi-conducteurs et les électrodes métalliques joue un rôle crucial dans les performances des dispositifs électroniques. La morphologie de surface, la composition chimique et la structure électronique à l'interface ont un impact direct sur des facteurs clés tels que la conductivité, la stabilité et la fiabilité globale du dispositif. Par conséquent, une analyse comp...

Mots clés : MEB à émission de champ pour semi-conducteurs SEM pour la recherche sur les matériaux électroniques MEB-FE haute résolution
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