La technologie SEM de CIQTEK reçoit les éloges des clients en visite
La technologie SEM de CIQTEK reçoit les éloges des clients en visite
November 27, 2024
CIQTEK a récemment accueilli des clients estimés, Dan du Royaume-Uni et Philippe de France, qui ont visité l'entreprise pour explorer son microscope électronique à balayage (MEB) de pointe. Les deux clients ont été très impressionnés par la technologie SEM de CIQTEK, qui combine une ingénierie supérieure, des caractéristiques de conception et des fonctionnalités conviviales.
Lors de leur visite, Dan et Philippe ont apporté leurs propres échantillons de démonstration et mené des expériences à l'aide du CIQTEK SEM. Ils ont exprimé leur plus grande satisfaction quant à la qualité des résultats d’imagerie obtenus. Les capacités du SEM ont dépassé leurs attentes, leur permettant de capturer et d'examiner leurs échantillons avec des détails et une précision remarquables.
Le CIQTEK SEM se distingue en intégrant les meilleures fonctionnalités d'ingénierie et de conception de sa catégorie. Il offre aux utilisateurs un SEM à filament de tungstène haute performance qui excelle à la fois en termes de qualité et de facilité d'utilisation. Le SEM offre des fonctionnalités haut de gamme actuellement disponibles sur le marché, garantissant une expérience utilisateur complète et transparente.
L'une des caractéristiques remarquables qui a retenu l'attention de Dan et Philippe a été l'assistance intelligente à l'astigmatisme du SEM. Cette fonctionnalité intelligente permet aux utilisateurs de tous niveaux de produire rapidement des images de haute qualité avec une clarté exceptionnelle. Les détecteurs à haute luminosité du SEM contribuent en outre à sa capacité à fournir des images précises et détaillées, garantissant ainsi des résultats précis pour la recherche et l'analyse scientifiques.
CIQTEKreste dédié à fournir des solutions innovantes qui permettent aux chercheurs et aux scientifiques de faire progresser leurs découvertes et d'apporter des contributions significatives à divers domaines d'études. CIQTEK continue d'établir de nouvelles normes dans l'industrie des instruments scientifiques et d'inspirer les clients du monde entier.
La microscopie électronique à balayage par émission de champ à ultra haute résolution (FESEM) reprend les limites Le CIQTEK SEM5000X est un FESEM ultra haute résolution avec une conception de colonne d'optique électronique optimisée, réduisant les aberrations globales de 30 %, atteignant une ultra haute résolution de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. . Sa haute résolution et sa stabilité le rendent avantageux dans la recherche avancée sur les matériaux nanostructuraux, ainsi que dans le développement et la fabrication de puces IC à semi-conducteurs à nœuds de haute technologie.
Microscope SEM à filament de tungstène universel et hautes performances Le microscope SEM CIQTEK SEM3200 est un excellent microscope électronique à balayage à filament de tungstène (MEB) à usage général doté de capacités globales exceptionnelles. Sa structure unique de canon électronique à double anode garantit une haute résolution et améliore le rapport signal/bruit de l'image à de faibles tensions d'excitation. De plus, il offre une large gamme d'accessoires en option, faisant du SEM3200 un instrument d'analyse polyvalent doté d'excellentes possibilités d'utilisation.