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Filament de tungstène SEM | SEM3300

Ultra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène

Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.

Renseignez-vous maintenant

▶ Détecteur d'électrons intégré à la lentille

  • SEM In-lens Electron Detector
  • SEM3300 analysis images

    Images du diaphragme d'une batterie au lithium prises à 1 kV avec un grossissement de 20 000 fois sur film, images prises avec SEM3300

▶ Navigation optique

L'utilisation d'une caméra à chambre montée verticalement pour capturer des images optiques pour la navigation sur la platine de l'échantillon permet un positionnement de l'échantillon plus intuitif et plus précis.

▶ Fonctions automatiques

Fonctions automatiques améliorées de luminosité et de contraste, de mise au point automatique et de correction automatique de l'astigmatisme. Imagerie en un seul clic !

>> Mise au point automatique

>> Correction automatique de l'astigmatisme

>> Luminosité et contraste automatiques

▶ Utilisation plus sûre

▶ Remplacement facile du filament

Module de filament de remplacement pré-aligné prêt à l'emploi.

Galerie d'images du microscope SEM3300 de CIQTEK

▶ Logiciel d'analyse des particules et des pores (Particle) *Facultatif

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Le logiciel de microscope SEM CIQTEK utilise divers algorithmes de détection et de segmentation de cibles, adaptés à différents types d'échantillons de particules et de pores. Il permet une analyse quantitative des statistiques des particules et des pores et peut être appliqué dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie et les sciences de l'environnement.

▶ Logiciel de post-traitement d'images

SEM Microscope Image Post-processing Software

Effectuez un post-traitement d'images en ligne ou hors ligne sur des images capturées par des microscopes électroniques et intégrez des fonctions de traitement d'images EM couramment utilisées, des mesures pratiques et des outils d'annotation.

▶ Mesure automatique *Facultatif

SEM Microscope software Auto Measure

Reconnaissance automatique des contours de largeur de ligne, pour des mesures plus précises et une meilleure cohérence. Prise en charge de plusieurs modes de détection de contours, tels que Ligne, Espace, Pas, etc. Compatible avec de nombreux formats d'image et doté de diverses fonctions de post-traitement d'image courantes. Le logiciel est simple d'utilisation, efficace et précis.

▶ Kit de développement logiciel (SDK) *Facultatif

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fournit un ensemble d'interfaces pour le contrôle du microscope MEB, incluant l'acquisition d'images, les réglages des conditions de fonctionnement, la mise sous/hors tension, le contrôle de la platine, etc. Des définitions d'interface concises permettent le développement rapide de scripts et de logiciels spécifiques au microscope électronique, permettant le suivi automatisé des zones d'intérêt, l'acquisition de données pour l'automatisation industrielle, la correction de la dérive d'image, etc. Peut être utilisé pour le développement logiciel dans des domaines spécialisés tels que l'analyse des diatomées, l'inspection des impuretés de l'acier, l'analyse de la propreté, le contrôle des matières premières, etc.

▶ Carte automatique *Facultatif

Spécifications du microscope SEM CIQTEK SEM3300
Optique électronique Résolution 2,5 nm à 15 kV, SE
4 nm à 3 kV, SE
5 nm à 1 kV, SE
Tension d'accélération 0,1 kV ~ 30 kV
Grossissement (Polaroid) 1 x ~ 300 000 x
Chambre d'échantillons Caméra Navigation optique
Surveillance de la chambre
Type de scène Aspirateur motorisé compatible 5 axes
Gamme XY 125 mm
Gamme Z 50 mm
Gamme T - 10° ~ 90°
Gamme R 360°
Détecteurs SEM Standard Détecteur d'électrons intégré à la lentille (Inlens)
Détecteur Everhart-Thornley (ETD)
Facultatif Détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable (BSED)
Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS / EDX)
Diagramme de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD)
Facultatif Sas d'échange d'échantillons
Panneau de commande à boule de commande et bouton
Interface utilisateur Système opérateur Windows
Navigation Navigation optique, navigation rapide par gestes, trackball (en option)
Fonctions automatiques Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmatisation automatique
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