CIQTEK conclut avec succès sa participation à Microscopie et microanalyse 2026

CIQTEK participe à Microscopy & Microanalysis 2026

12 août 2026

Du 2 au 6 août, CIQTEK a participé à Microscopy & Microanalysis 2026 (M&M 2026) au Baird Center à Milwaukee, Wisconsin, États-Unis. Au stand 718, CIQTEK a présenté son microscope électronique à balayage à filament de tungstène SEM3300 et a rencontré les participants à la conférence.

M&M est un forum annuel consacré à la science et à la technologie de la microscopie et de la microanalyse. Lors de l’événement, CIQTEK a présenté le SEM à filament de tungstène SEM3300 sur son stand. Grâce aux supports produits, aux affichages d’images et aux échanges sur place, l’équipe a présenté aux visiteurs les produits de microscopie électronique de CIQTEK ainsi que leurs orientations d’application.

Le 3 août, CIQTEK a donné un tutoriel fournisseur intitulé :

Libérer la puissance de la microscopie électronique à balayage haute vitesse unique sans compromis sur une excellente résolution d’imagerie à faible kV pour les applications de microscopie volumique à grande échelle de CIQTEK

La présentation portait sur la microscopie électronique à balayage haute vitesse pour les applications de microscopie volumique à grande échelle. Les participants ont assisté à la présentation et ont échangé des idées avec l’équipe de CIQTEK sur le stand.

Tout au long de la conférence, l’équipe de CIQTEK a accueilli les visiteurs et a échangé avec eux sur les produits de microscopie électronique et les applications associées. Nous remercions les organisateurs de M&M 2026 ainsi que toutes les personnes ayant visité le stand de CIQTEK. CIQTEK continuera à développer des technologies et des produits de microscopie électronique pour les utilisateurs scientifiques et industriels.