Dernières nouvelles du Nouvel An ： CIQTEK s'associe à LINK-GULF LLC en tant que distributeur exclusif dans la région du Moyen-Orient pour les microscopes électroniques

Microscope SEM à filament de tungstène universel et hautes performances Le microscope SEM CIQTEK SEM3200 est un excellent microscope électronique à balayage à filament de tungstène (MEB) à usage général doté de capacités globales exceptionnelles. Sa structure unique de canon électronique à double anode garantit une haute résolution et améliore le rapport signal/bruit de l'image à de faibles tensions d'excitation. De plus, il offre une large gamme d'accessoires en option, faisant du SEM3200 un instrument d'analyse polyvalent doté d'excellentes possibilités d'utilisation.

Microscope électronique à transmission (TEM) à émission de champ 120 kV 1. Espaces de travail divisés : Les utilisateurs utilisent le TEM dans une pièce divisée avec un confort réduisant les interférences environnementales sur le TEM. 2. Efficacité opérationnelle élevée : le logiciel désigné intègre des processus hautement automatisés, permettant une interaction TEM efficace avec une surveillance en temps réel. 3. Expérience opérationnelle améliorée : Équipé d'un canon à électrons à émission de champ avec un système hautement automatisé. 4. Haute extensibilité : Il existe suffisamment d'interfaces réservées aux utilisateurs pour passer à une configuration supérieure, qui répond à diverses exigences d'application.

La microscopie électronique à balayage par émission de champ à ultra haute résolution (FESEM) reprend les limites Le CIQTEK SEM5000X est un FESEM ultra haute résolution avec une conception de colonne d'optique électronique optimisée, réduisant les aberrations globales de 30 %, atteignant une ultra haute résolution de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. . Sa haute résolution et sa stabilité le rendent avantageux dans la recherche avancée sur les matériaux nanostructuraux, ainsi que dans le développement et la fabrication de puces IC à semi-conducteurs à nœuds de haute technologie.

Microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) avec colonnes à faisceau d'ions focalisé (FIB) Le microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisé CIQTEK DB550 (FIB-SEM) dispose d'une colonne de faisceau d'ions focalisé pour la nano-analyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et une conception d'objectif non magnétique, et possède la fonction « basse tension, haute résolution » pour garantir ses capacités analytiques à l'échelle nanométrique. Les colonnes d'ions facilitent une source d'ions de métal liquide Ga+ avec des faisceaux d'ions très stables et de haute qualité pour garantir les capacités de nanofabrication. Le DB550 est une station de travail de nano-analyse et de fabrication tout-en-un avec un nano-manipulateur intégré, un système d'injection de gaz et un logiciel GUI convivial.