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FESEM | SEM4000X

Stable, polyvalent, flexible et efficace

Le CIQTEK SEM4000X est une solution stable, polyvalente, flexible et efficace microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) Il atteint une résolution de 1,9 nm à 1,0 kV et relève facilement les défis de l'imagerie haute résolution pour divers types d'échantillons. Il peut être mis à niveau avec un mode de décélération ultra-faible pour améliorer encore la résolution basse tension.

Le microscope utilise la technologie multidétecteur, avec un détecteur d'électrons en colonne (UD) capable de détecter les signaux SE et BSE tout en offrant des performances haute résolution. Le détecteur d'électrons monté sur la chambre (LD) intègre un scintillateur à cristal et des tubes photomultiplicateurs, offrant une sensibilité et une efficacité accrues, permettant d'obtenir des images stéréoscopiques d'excellente qualité. L'interface utilisateur graphique est conviviale et propose des fonctions d'automatisation telles que la luminosité et le contraste automatiques, la mise au point automatique, le stigmateur automatique et l'alignement automatique, permettant une capture rapide d'images ultra-haute résolution.

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▶ Optique électronique

sem Electron Optics

▶ Logiciel d'analyse des particules et des pores (Particle) *Facultatif

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Le logiciel de microscope SEM CIQTEK utilise divers algorithmes de détection et de segmentation de cibles, adaptés à différents types d'échantillons de particules et de pores. Il permet une analyse quantitative des statistiques des particules et des pores et peut être appliqué dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie et les sciences de l'environnement.

▶ Logiciel de post-traitement d'images *Facultatif

SEM Microscope Image Post-processing Software

Effectuez un post-traitement d'images en ligne ou hors ligne sur des images capturées par des microscopes électroniques et intégrez des fonctions de traitement d'images EM couramment utilisées, des mesures pratiques et des outils d'annotation.

▶ Mesure automatique *Facultatif

SEM Microscope software Auto Measure

Reconnaissance automatique des contours de largeur de ligne, pour des mesures plus précises et une meilleure cohérence. Prise en charge de plusieurs modes de détection de contours, tels que Ligne, Espace, Pas, etc. Compatible avec de nombreux formats d'image et doté de diverses fonctions de post-traitement d'image courantes. Le logiciel est simple d'utilisation, efficace et précis.

▶ Kit de développement logiciel (SDK) *Facultatif

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Fournit un ensemble d'interfaces pour le contrôle du microscope MEB, incluant l'acquisition d'images, les réglages des conditions de fonctionnement, la mise sous/hors tension, le contrôle de la platine, etc. Des définitions d'interface concises permettent le développement rapide de scripts et de logiciels spécifiques au microscope électronique, permettant le suivi automatisé des zones d'intérêt, l'acquisition de données pour l'automatisation industrielle, la correction de la dérive d'image, etc. Peut être utilisé pour le développement logiciel dans des domaines spécialisés tels que l'analyse des diatomées, l'inspection des impuretés de l'acier, l'analyse de la propreté, le contrôle des matières premières, etc.

▶ Carte automatique *Facultatif

FESEM Microscope software Auto Measure

Spécifications du microscope FESEM CIQTEK SEM4000X
Optique électronique Résolution 0,9 nm à 30 kV, SE
1,2 nm à 15 kV, SE
1,9 nm à 1 kV, SE
1,5 nm à 1 kV (décélération du faisceau ultra)
1 nm à 15 kV (décélération du faisceau ultra)
Tension d'accélération 0,2 kV ~ 30 kV
Grossissement (Polaroid) 1 ~ 1 000 000 x
Type de canon à électrons Canon à électrons à émission de champ Schottky
Chambre d'échantillons Caméra Double caméra (navigation optique + surveillance de la chambre)
Gamme de scènes

X : 110 mm

Y : 110 mm

Z : 65 mm

T : -10°~ +70°

R : 360°

Détecteurs et extensions SEM Standard

Détecteur d'électrons intégré à la lentille : UD-BSE/UD-SE

Détecteur Everhart-Thornley : LD

Facultatif

Détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED)

Détecteur rétractable pour microscopie électronique à transmission et balayage (STEM)

Détecteur de vide faible (LVD)

Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS / EDX)

Diagramme de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD)

Sas d'échange d'échantillons (4 pouces/8 pouces)

Panneau de commande à boule de commande et bouton

Technologie de mode de décélération Ultra Beam

Interface utilisateur Langue Anglais
Système d'exploitation Windows
Navigation Navigation optique, navigation rapide par gestes, trackball (en option)
Fonctions automatiques Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmatisation automatique
Balises chaudes : Fournisseur mondial de fabricant et fournisseur mondial de microscope électronique à balayage à émission de champ Détecteurs SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM haute résolution FESEM meilleur prix Pistolet à électrons à émission de champ Schottky haute luminosité Microscopie électronique à balayage à émission de champ à meilleur grossissement Applications du microscope électronique à balayage à émission de champ Microscope électronique à balayage à émission de champ pdf Notes sur le microscope électronique à balayage à émission de champ
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