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MEB-FEG | MEB4000X

Stable, polyvalent, flexible et efficace

Le CIQTEK SEM4000X est stable, polyvalent, flexible et efficace microscope électronique à balayage à émission de champ (MEB-FEG) Il atteint une résolution de 1,8 nm à 1,0 kV et relève aisément les défis de l'imagerie haute résolution pour divers types d'échantillons. Il peut être équipé d'un mode de décélération ultra-rapide du faisceau pour améliorer encore la résolution à basse tension.

Le microscope utilise une technologie multidétecteur, avec un détecteur d'électrons intégré à la colonne (UD) capable de détecter les signaux SE et BSE tout en offrant une haute résolution. Le détecteur d'électrons monté sur la chambre (LD) intègre un scintillateur à cristal et des tubes photomultiplicateurs, offrant une sensibilité et une efficacité accrues, pour des images stéréoscopiques d'excellente qualité. L'interface utilisateur graphique est intuitive et propose des fonctions automatisées telles que le réglage automatique de la luminosité et du contraste, la mise au point automatique, le stigmateur automatique et l'alignement automatique, permettant une acquisition rapide d'images à ultra-haute résolution.

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▶ Optique électronique

sem Electron Optics

▶ Logiciel d'analyse des particules et des pores (Particle) *Facultatif

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Le logiciel du microscope électronique à balayage CIQTEK utilise divers algorithmes de détection et de segmentation de cibles, adaptés à différents types d'échantillons de particules et de pores. Il permet une analyse quantitative des statistiques des particules et des pores et peut être appliqué dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie et les sciences de l'environnement.

▶ Logiciel de post-traitement d'images *Facultatif

SEM Microscope Image Post-processing Software

Effectuez un post-traitement d'images en ligne ou hors ligne sur des images capturées par des microscopes électroniques et intégrez des fonctions de traitement d'images EM couramment utilisées, des outils de mesure et d'annotation pratiques.

▶ Mesure automatique *Facultatif

SEM Microscope software Auto Measure

Reconnaissance automatique des contours de lignes pour des mesures plus précises et une meilleure cohérence. Prise en charge de plusieurs modes de détection de contours (lignes, espaces, pas, etc.). Compatible avec de nombreux formats d'image et doté de fonctions de post-traitement courantes. Ce logiciel est simple d'utilisation, performant et précis.

▶ Kit de développement logiciel (SDK) *Facultatif

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Ce logiciel fournit un ensemble d'interfaces pour le contrôle du microscope électronique à balayage (MEB), incluant l'acquisition d'images, la configuration des paramètres de fonctionnement, la mise sous/hors tension, le contrôle de la platine, etc. Des définitions d'interface concises permettent le développement rapide de scripts et de logiciels spécifiques au fonctionnement du microscope électronique, autorisant le suivi automatisé des zones d'intérêt, l'acquisition de données pour l'automatisation industrielle, la correction de la dérive d'image et d'autres fonctions. Il peut être utilisé pour le développement de logiciels dans des domaines spécialisés tels que l'analyse des diatomées, le contrôle des impuretés de l'acier, l'analyse de la propreté, le contrôle des matières premières, etc.

▶ AutoMap *Facultatif

FESEM Microscope software Auto Measure

Spécifications du microscope électronique à balayage à émission de champ CIQTEK SEM4000X
Optique électronique Résolution 0,9 nm à 30 kV, SE
1,0 nm à 15 kV, SE
1,8 nm à 1 kV, SE
1,5 nm à 1 kV (décélération du faisceau ultrarapide)
0,8 nm à 15 kV (décélération du faisceau ultrarapide)
Tension d'accélération 0,2 kV ~ 30 kV
Grossissement (Polaroid) 1 ~ 1 000 000 x
Type de canon à électrons Canon à électrons à émission de champ Schottky
Chambre d'échantillons Caméra Double caméra (navigation optique + surveillance de la chambre)
Gamme de scènes

X : 110 mm

Y : 110 mm

Z : 65 mm

T : -10° à +70°

R: 360°

Détecteurs et extensions SEM Standard

Détecteur d'électrons intégré à la lentille : UD-BSE/UD-SE

Détecteur Everhart-Thornley : LD

Facultatif

Détecteur d'électrons rétrodiffusés (BSED)

Détecteur rétractable pour microscopie électronique à transmission à balayage (STEM)

Détecteur de vide poussé (LVD)

Spectromètre à dispersion d'énergie (EDS / EDX)

Diagramme de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD)

Sablier d'échange d'échantillons (4 pouces / 8 pouces)

Panneau de commande à boule et bouton

Technologie de mode de décélération à faisceau ultrarapide

Interface utilisateur Langue Anglais
Système d'exploitation Windows
Navigation Navigation optique, navigation rapide par gestes, trackball (en option)
Fonctions automatiques Luminosité et contraste automatiques, mise au point automatique, stigmatiseur automatique
Balises chaudes : Fournisseur mondial de fabricant et fournisseur mondial de microscope électronique à balayage à émission de champ Détecteurs SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM haute résolution FESEM meilleur prix Pistolet à électrons à émission de champ Schottky haute luminosité Microscopie électronique à balayage à émission de champ à meilleur grossissement Applications du microscope électronique à balayage à émission de champ Microscope électronique à balayage à émission de champ pdf Notes sur le microscope électronique à balayage à émission de champ
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