TEM+FIB ! CIQTEK a reçu une haute reconnaissance de la part des experts présents sur CEMS

La Conférence nationale sur la microscopie électronique(CEMS) s'est tenue à Dongguan du 17 au 21 octobre 2024. La conférence a attiré près de 2 000 experts, universitaires et représentants d'universités, d'instituts de recherche, d'entreprises et entreprises de technologie d’instruments.

CIQTEK a présenté le microscope électronique à balayage DB550 à faisceau d'ions focalisé et le champ transmission d'émission microscope électronique TH-F120 et a réalisé des démonstrations en direct sur site, qui ont reçu une large attention de la part des participants.

"NTechnologie et progrès de détection sélective d'électrons de signal sur axe de nouvelle génération

dans le développement du microscope électronique à balayage FEG à froid"

M. Cao Feng, vice-président de CIQTEK, a prononcé un discours liminaire lorsdurant la conférence, présentant les dernières avancées technologiques et réalisations innovantes de l'entreprise dans le domaine de la microscopie électronique, et recevant une haute reconnaissance de la part de les experts présents.

Afin de fournir aux utilisateurs une expérience tangible des réalisations en matière de développement de microscopes électroniques haut de gamme et de démontrer les performances réelles des produits, CIQTEK a de nouveau installé le « Laboratoire de microscope électronique » sur le lieu de la conférence.

Grâce à un agencement soigné par une équipe de professionnels, le stand a non seulement recréé un environnement de laboratoire, mais a également réalisé la démonstration en direct du microscope électronique à balayage DB550 et du microscope électronique à transmission d'émission de champ TH-F120. La préparation et l'imagerie des échantillons sur site ont pleinement mis en valeur les performances supérieures des microscopes électroniques haut de gamme produits dans le pays, attirant un grand nombre de visiteurs professionnels pour des échanges de visites.