CIQTEK conclut avec succès son exposition au SCANDEM 2026 à Oulu, en Finlande
CIQTEK conclut avec succès son exposition au SCANDEM 2026 à Oulu, en Finlande
July 03, 2026
CIQTEK, un fournisseur leader de solutions de mesure de précision et de microscopie électronique, est heureux d'annoncer la conclusion réussie de sa participation à la réunion annuelle SCANDEM 2026 de la Société nordique de microscopie, qui s'est tenue du 9 au 12 juin 2026 à Oulu, en Finlande.
Présentation de l'événement
SCANDEM est l'une des conférences annuelles de microscopie les plus anciennes et les plus influentes de la région nordique. La réunion de cette année a été organisée conjointement par le Centre d'analyse des matériaux du Biocenter Oulu et la Société nordique de microscopie, et s'est déroulée dans le bâtiment Kieppi du Biocenter Oulu. La conférence couvrait deux grands domaines thématiques : les sciences de la vie (de l'imagerie d'organismes entiers aux techniques au niveau moléculaire) et la science des matériaux (métallurgie, géologie, catalyseurs, nanoparticules, et plus encore). Le programme comprenait des conférences plénières, des présentations scientifiques, des sessions d'affiches et un hall d'exposition, accueillant environ 120 à 150 participants et une vingtaine de fournisseurs d'instruments. Il est à noter qu'Oulu a été désignée Capitale européenne de la culture 2026, offrant aux visiteurs du monde entier une atmosphère culturelle unique et un environnement dynamique d'innovation.
Points forts du stand CIQTEK
Le stand de CIQTEK était situé à II.5dans la zone d'exposition. L'équipe européenne (Frank, Miles, Markus, Changming) était présente sur place pour présenter deux produits principaux de microscopie électronique et fournir des consultations techniques professionnelles aux participants.
Produits présentés :
SEM5000X FESEM à ultra-haute résolution: le microscope électronique à balayage à émission de champ phare de CIQTEK, doté d'un système optique électronique avancé offrant une imagerie à ultra-haute résolution, idéal pour l'analyse précise des nanostructures dans les sciences des matériaux, les semi-conducteurs et les sciences de la vie.
SEM haute vitesse HEM6000: une station de travail à haut débit conçue pour l'inspection de grandes surfaces et en lots, avec un courant de faisceau élevé exceptionnel, une stabilité remarquable et des flux de travail automatisés, accélérant considérablement les vitesses d'imagerie pour le contrôle qualité industriel et la recherche avancée.
Présentation de l'entreprise
CIQTEK a présenté une présentation lors de Session 1 (Session entreprise LS1+MS1, salle 101A)d'environ 11:00 à 11:10.
Présentateur: Miles, spécialiste des solutions chez CIQTEK
Sujet: « Libérer la puissance d'une solution unique de microscopie électronique à balayage haute vitesse de CIQTEK »
La présentation a exploré les principes fondamentaux de la microscopie électronique à balayage à émission de champ haute vitesse (FESEM) et a révélé comment cette technologie de pointe transforme l'imagerie et l'analyse à différentes échelles ainsi que le traitement de grandes quantités de données. Miles a expliqué ce qui rend le FESEM haute vitesse de CIQTEK particulièrement différent et a mis en avant les applications dans lesquelles il excelle le plus. Les participants ont également découvert comment le pack de microscopie haute vitesse de CIQTEK intègre plusieurs technologies pour ouvrir une véritable bande passante, offrant un débit révolutionnaire tout en maintenant une excellente résolution d'imagerie.
Sujets clés de la présentation
Lors de la session entreprise, la présentation de CIQTEK a abordé :
Pack technologique d'imagerie haute vitesse puissant: intégration d'une source d'électrons à haute luminosité et grand courant de faisceau, d'un pilote de balayage haute vitesse, d'une déviation électrostatique du faisceau haute vitesse, d'un traitement d'image haute vitesse, d'une acquisition haute vitesse des électrons de signal, d'une transmission vidéo haute vitesse, d'une platine porte-échantillon à mouvement haute vitesse et d'un flux de travail hautement automatisé — offrant une vitesse d'imagerie accrue, des heures d'imagerie continue prolongées et un flux de travail intelligent.
Système automatique de changement d'échantillons: doté d'une fonctionnalité de nettoyeur plasma pour une préparation et une manipulation efficaces des échantillons.
Spécifications du HEM6000: paramètres techniques détaillés incluant la résolution (1,5 nm @ 1 kV SE, 1,3 nm @ 3 kV SE, 1,5 nm @ 15 kV BSE), le grossissement (66× – 1 000 000×), la tension d'accélération (100 V – 30 kV), les capacités de la platine porte-échantillon et la vitesse d'acquisition (10 ns/pixel, 2×100M pixels/s).
Siège social de CIQTEK: situé au No. 1969, route Kongquetai, zone de haute technologie, Hefei, Anhui, Chine. Le site couvre une superficie de 76 000 m² avec une surface totale de plancher de 280 000 m², abrite plus de 800 employés et comprend une salle blanche de 4 000 m² (classe 10 000, partiellement classe 100).
Soutien de l'équipe européenne
Cette exposition a été gérée par l'équipe européenne de CIQTEK, qui a apporté une vaste expertise en instrumentation de microscopie et une expérience des services sur les marchés locaux afin de fournir des démonstrations professionnelles et efficaces des produits ainsi qu'un support technique. Des brochures produits et des clés USB personnalisées étaient disponibles pour les visiteurs sur le stand.
Conclusion
La participation de CIQTEK à SCANDEM 2026 a marqué une nouvelle étape importante dans la stratégie d'expansion mondiale de l'entreprise. L'événement a fourni une excellente plateforme pour échanger avec des chercheurs et des experts de premier plan de la communauté mondiale de la microscopie, présenter les technologies de microscopie électronique de pointe de CIQTEK et renforcer la présence de l'entreprise sur le marché européen. CIQTEK reste engagé à stimuler l'innovation dans le domaine de la microscopie électronique et se réjouit de poursuivre sa collaboration avec la communauté scientifique internationale.
À propos de CIQTEK
CIQTEK est un fournisseur leader de solutions de mesure de précision et de microscopie électronique, dédié à la fourniture de technologies de pointe pour la recherche scientifique et les applications industrielles. Grâce à un engagement fort envers l'innovation et l'excellence, CIQTEK continue de repousser les limites de la technologie de microscopie et de mesure dans le monde entier.