CIQTEK présentera la microscopie électronique volumique haute vitesse au forum technologique vEM 2026
CIQTEK présentera la microscopie électronique volumique haute vitesse au forum technologique vEM 2026
September 28, 2026
CIQTEK participera au 2026 vEM Technology Forum à l'université de Pékin à Pékin, pour présenter nos dernières solutions de microscopie électronique volumique (Volume EM).
Les visiteurs peuvent rencontrer l'équipe CIQTEK sur notre stand pour découvrir comment la MEB haute vitesse, l'imagerie haute résolution à basse tension (kV), l'acquisition automatisée de grandes surfaces et la reconstruction 3D peuvent aider les chercheurs à traiter des jeux de données de microscopie volumique de plus en plus volumineux et complexes.
Présentation de poster CIQTEK
Lors du forum, Xin Ren (Luke), responsable senior des solutions de microscopie électronique chez CIQTEK, présentera nos derniers travaux sur le MEB haute vitesse pour la microscopie électronique volumique à grande échelle.
Titre du poster : Libérer la puissance d'une microscopie électronique à balayage haute vitesse unique sans compromis sur la superbe résolution d'imagerie à basse tension pour les applications de microscopie volumique à grande échelle de CIQTEK
Le poster explorera comment le HEM6000 combine une vitesse d'imagerie élevée, une résolution robuste à basse tension, une imagerie de grande surface et une automatisation intelligente pour soutenir les flux de travail de microscopie électronique volumique à grande échelle.
Rencontrez CIQTEK à Pékin
Le 2026 vEM Technology Forum rassemble des chercheurs et des experts en microscopie pour échanger des idées sur les technologies de microscopie électronique volumique, les flux de travail, l'automatisation, l'imagerie à grande échelle, le traitement des données et les applications émergentes.
Nous sommes impatients de rencontrer la communauté vEM, de partager nos derniers développements et d'en apprendre davantage sur les défis d'imagerie réels sur lesquels travaillent les chercheurs.
Visitez le stand CIQTEK, rencontrez notre équipe EM et découvrez ce que la microscopie électronique volumique haute vitesse peut apporter à vos recherches.
Date : 11-15 octobre 2026 Lieu : Université de Pékin, Pékin, Chine
Grande vitesse Émission de champ entièrement automatisée Microscope électronique à balayage Poste de travail CIQTEK HEM6000 des technologies d'installations telles que le canon à électrons à courant à faisceau large et haute luminosité, le système de déviation de faisceau d'électrons à grande vitesse, la décélération de l'étage d'échantillonnage à haute tension, l'axe optique dynamique et l'objectif combiné électromagnétique et électrostatique à immersion pour obtenir une acquisition d'image à grande vitesse tout en garantissant une résolution à l'échelle nanométrique. Le processus automatisé est conçu pour des applications telles qu'un flux de travail d'imagerie haute résolution de grande surface plus efficace et plus intelligent. Sa vitesse d'imagerie est plus de cinq fois supérieure à celle d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) classique.