Nouvelles et événements

CIQTEK, leader dans le domaine des instruments scientifiques haut de gamme, est fier de participer à Conférence conjointe FBNL sur la résonance magnétique (FBNL-MR 2026) depuis Du 2 au 5 juin à l'Université de Lille, en France. L'innovation sur le stand Rendez-vous sur la page de l'équipe CIQTEK pour découvrir notre gamme de produits de pointe. EPR (ESR) et RMN Spectromètres. Nos spécialistes d'application seront sur place pour discuter de la manière dont les technologies de mesure de précision de CIQTEK soutiennent la recherche complexe en science des matériaux, en chimie et en sciences de la vie. Ne manquez pas notre conférence Rejoignez-nous Résonance magnétique Gestionnaire de solutions, Dr Jeff Sun , pour une présentation de 10 minutes sur l'avenir de la spectroscopie RPE : Sujet: EPR de nouvelle génération : combiner une instrumentation en bande Q haute performance avec un traitement spectral amélioré par l’intelligence artificielle Souligner: Découvrez comment CIQTEK intègre du matériel haute fréquence en bande Q à des algorithmes d'IA pour révolutionner la résolution spectrale et l'efficacité des données. Nous nous réjouissons à l'idée d'établir des liens avec les communautés de résonance magnétique de France, de Belgique, des Pays-Bas et du Luxembourg. Pour toute question, veuillez consulter le site web. www.ciqtekglobal.com ou contactez info@ciqtek.com.

[Odense, Danemark] CIQTEK est fière d'annoncer sa participation à 77e réunion annuelle de la Société nordique de microscopie (SCANDEM 2026) , qui s'est tenu à Odense, au Danemark, du 9 au 12 juin. Venez nous rendre visite au stand II.5 En tant que centre névralgique de l'instrumentation de précision, Odense offre le cadre idéal à CIQTEK pour réaliser « Résonance académique « avec des institutions nordiques de premier plan. En renforçant nos liens avec les écosystèmes scientifiques du Danemark, de la Suède et de la Norvège, nous visons à répondre aux besoins de caractérisation les plus exigeants et à donner aux chercheurs les moyens d’agir. » recherche régionale et croissance industrielle grâce à nos outils de mesure de précision. Conférence d'experts : Innovations en microscopie électronique à balayage à haute vitesse L'un des points forts de la participation de CIQTEK sera une présentation technique réalisée par notre responsable des solutions : Conférencier: Dr Miles Yao, responsable des solutions chez CIQTEK Sujet: Exploiter la puissance de la solution unique de microscopie électronique à balayage haute vitesse de CIQTEK Se concentrer: Découvrez comment les solutions SEM haute vitesse uniques de CIQTEK permettent une imagerie à grande échelle et haute résolution pour accélérer la productivité de la recherche. Vision globale : Assistance professionnelle sans faille CIQTEK SCANDEM étend rapidement son réseau de services mondial. Lors de SCANDEM 2026, notre équipe européenne apportera son expertise directement à la communauté de recherche nordique. Nous nous engageons à fournir assistance réactive et professionnelle Au-delà des frontières – de l’installation au développement d’applications spécialisées – nous assurons l’excellence scientifique de nos partenaires en Europe du Nord.

Le Formations SEM à Münster 2026 s'est conclue avec un succès exceptionnel, avec le CIQTEK SEM3200 il est devenu l'un des systèmes les plus discutés lors des séances pratiques. Tout au long du programme, de nombreux participants ont pu utiliser le microscope presque immédiatement, souvent sans formation préalable. L'interface intuitive du système, sa facilité d'utilisation et ses excellentes performances d'imagerie ont marqué durablement les participants. Une expérience pratique qui s'est démarquée Du 16 au 20 mars, Microscope électronique à balayage à filament de tungstène CIQTEK SEM3200 a été activement utilisée lors des séances d'entraînement à Münster, en Allemagne. Contrairement aux démonstrations traditionnelles, l'accent était mis ici sur une véritable prise en main. Les participants étaient encouragés à manipuler directement le système, à explorer les paramètres et à réaliser leurs propres analyses. Ce qui a rendu cette expérience unique, c'est la rapidité avec laquelle les utilisateurs se sont familiarisés avec l'instrument. Dans de nombreux cas, les participants ont commencé à utiliser le SEM3200 de manière autonome, sans avoir besoin d'instructions détaillées. Cette prise en main immédiate a été l'un des points forts les plus souvent mentionnés durant la formation. Des retours positifs de vrais utilisateurs Au cours des séances, les retours des participants ont été constants et très positifs. De nombreux utilisateurs ont décrit le SEM3200 comme suit : Facile à utiliser, même pour les débutants Doté d'une interface claire et intuitive Capable de fournir des images nettes et haute résolution Offrant un ensemble de fonctionnalités complet et pratique Plusieurs participants ont été sincèrement surpris de la rapidité avec laquelle ils ont pu démarrer et obtenir des résultats concrets. Pour les utilisateurs expérimentés en microscopie, l'efficacité et la réactivité du système ont été particulièrement remarquables. Quant aux nouveaux utilisateurs, la simplicité d'utilisation a considérablement facilité l'apprentissage. Échantillons réels, résultats réels Un large éventail d'échantillons réels a été testé lors des séances d'entraînement, notamment : Cellules macrophages Matériaux en alliage Ces expériences en direct ont permis aux participants d'évaluer le SEM3200 dans des scénarios pratiques plutôt que lors de démonstrations contrôlées. Les résultats ont systématiquement impressionné les utilisateurs. La haute qualité d'image, la stabilité des performances et la flexibilité d'utilisation ont permis aux participants d'obtenir rapidement des données exploitables. Nombre d'entre eux ont indiqué que le système avait dépassé leurs attentes, notamment en termes de netteté d'image et de facilité d'utilisation générale. À propos des formations SEM de Münster Les formations SEM de Münster sont organisées par Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gGmbH , une institution bien établie spécialisée dans la microscopie électronique et la microanal...

CIQTEK , un fabricant mondial de premier plan d'instruments scientifiques haut de gamme, est fier d'annoncer sa participation à la 61e réunion annuelle de la Southeastern Microscopy Society (SEMS), qui se tiendra du 11 au 13 mai 2026 à Athens, en Géorgie. Équipe CIQTEK US : Expertise et assistance localisées Pour mieux servir le marché nord-américain, CIQTEK a mis en place une équipe locale dédiée aux États-Unis. Lors du salon SEMS 2026, nos spécialistes d'application et nos ingénieurs de service proposeront des consultations sur site, illustrant ainsi la réactivité de notre réseau d'assistance local : de l'installation et du développement d'applications à la maintenance technique continue, nous garantissons une expérience optimale à nos clients. Importance stratégique : Engagement académique et croissance régionale La participation à SEMS 2026 constitue une étape clé de l'engagement de CIQTEK en faveur de la croissance régionale. Nous sommes impatients d'échanger avec des chercheurs d'institutions de renom telles que l'Université de Géorgie (UGA) afin de cerner les besoins sur le terrain et de stimuler l'innovation future. Cet événement renforce également notre présence dans les secteurs industriels du Sud-Est des États-Unis. Se concentrer sur Microscopie électronique à balayage (MEB) Technologie Conformément au thème principal de la conférence, CIQTEK présentera sa gamme de microscopes électroniques à balayage haute performance (par exemple, le SEM3300). Ces plateformes offrent une imagerie haute résolution, une stabilité exceptionnelle et des flux de travail intelligents, fournissant des solutions de caractérisation précises pour la recherche en sciences des matériaux et en sciences de la vie. Contactez directement notre équipe américaine : info.usa@ciqtek.com

CIQTEK ont participé à Réunion et exposition annuelles de la TMS 2026 , qui s'est tenu du 15 au 19 mars 2026 à San Diego, en Californie, aux États-Unis. Notre équipe américaine et notre partenaire de distribution local ont accueilli les visiteurs à Stand n° 307 , où nous avons présenté nos dernières nouveautés solutions de microscopie électronique pour les applications en science des matériaux. À propos de TMS 2026 Organisé par La Société des minéraux, des métaux et des matériaux (TMS) Cette réunion annuelle est un événement incontournable pour la communauté mondiale des sciences des matériaux. Elle rassemble des chercheurs, des ingénieurs et des professionnels de l'industrie travaillant dans des domaines tels que la métallurgie, les matériaux avancés, la fabrication additive et les technologies de caractérisation. Cet événement offre une plateforme solide pour échanger des idées, découvrir de nouvelles technologies et discuter des défis concrets liés à la recherche et à la production de matériaux. Solutions SEM sur mesure pour la recherche sur les matériaux CIQTEK a présenté des solutions de microscopie électronique conçues pour prendre en charge un large éventail d'applications en science des matériaux. Nos systèmes sont parfaitement adaptés pour : Analyse de la microstructure des métaux et alliages Analyse des défaillances et investigation des défauts Caractérisation des poudres et des particules Recherche sur la fabrication additive et les nouveaux matériaux De nombreux visiteurs se sont montrés particulièrement intéressés par la capacité des systèmes CIQTEK à offrir des performances d'imagerie stables tout en restant faciles à utiliser. Pour les laboratoires qui recherchent un équilibre entre performance, facilité d'utilisation et budget, cette combinaison est essentielle. Nous avons également mené des discussions approfondies avec les utilisateurs concernant leurs difficultés quotidiennes, telles que l'amélioration de l'efficacité de l'imagerie, la simplification des flux de travail et la gestion d'échantillons complexes. Ces échanges nous permettent de mieux adapter nos solutions aux besoins réels des applications. Forte présence et soutien locaux aux États-Unis La participation au salon TMS 2026 s'inscrit dans la stratégie plus large de CIQTEK visant à développer son activité de microscopie électronique sur le marché américain. Nous proposons : UN centre de démonstration basé aux États-Unis pour une évaluation pratique Assistance technique et applicative locale aux États-Unis Réponse plus rapide pour le service et la formation Nous continuons d'investir dans les équipes locales, les infrastructures et les partenariats afin de mieux accompagner les chercheurs et les utilisateurs industriels. En combinant une technologie de pointe à un service de proximité, CIQTEK vise à rendre la microscopie électronique de haute qualité plus accessible en Amér

CIQTEK avec succès a participé dans Pittcon 2026 , du 9 au 11 mars, San Antonio, Texas, de liaison avec chercheurs, instrument spécialistes, et industrie professionnels depuis à travers Nord Amérique et autour le monde. À stand # 1113 , le CIQTEK équipe présenté c'est dernier solutions dans électron microscopie , RMN et EPR spectroscopie , et gaz adsorption analyse , dessin fort intérêt depuis visiteurs fonctionnement dans matériels science, chimie, et avancé recherche. Soutenu par le CIQTEK U. S. équipe et locale distribution partenaires , le stand fourni un accueillant espace pour dans- profondeur technique discussions et en direct démonstrations. Beaucoup visiteurs arrêté par à apprendre plus à propos CIQTEK instruments et explorer comment ces technologies peut soutien leur recherche projets. Présentation CIQTEK Électron Microscopie Électron microscopie était un de le clé points forts à le CIQTEK stand . Visiteurs avait le opportunité à apprendre à propos CIQTEK électron microscopie (SE) M/FIB, TEM) solutions , conçu à fournir fiable haut- résolution imagerie pour un large gamme de applications. Chercheurs depuis universités et recherche laboratoires étaient particulièrement intéressé dans comment CIQTEK MEB systèmes peut soutien matériels caractérisation, nanostructure analyse, et semi-conducteur recherche . Le CIQTEK équipe commun réel application exemples et discuté comment écurie imagerie performance et utilisateur- amical opération peut aide laboratoires obtenir haut- qualité résultats plus efficacement. RMN et EPR Spectroscopie pour Moderne Recherche CIQTEK aussi introduit c'est portefeuille de spectromètres de résonance magnétique nucléaire (RMN) et de résonance paramagnétique électronique (RPE) ce qui a suscité un vif intérêt de la part des scientifiques dans chimie, catalyse, et matériels recherche. Beaucoup visiteurs étaient intéressé par CIQTEK Solutions EPR de paillasse , conçu pour rendre la spectroscopie RPE plus accessible aux laboratoires qui en recherchent compact systèmes avec fort performance. Discussions à le stand couvert une gamme d'applications, notamment l'étude des radicaux libres, des ions de métaux de transition et des défauts des matériaux . Surface et Porosité Analyse Dans ajout à électron microscopie et EPR, CIQTEK présenté c'est gaz adsorption analyseurs pour surface zone et pore structure caractérisation. Ces instruments sont largement utilisé dans recherche zones tel comme catalyseurs, énergie matériels, poreux matériels, et environnemental science. Visiteurs étaient intéressé dans discuter mesures flux de travail, données interprétation, et comment gaz adsorption techniques peut complément autre caractérisation méthodes dans matériels recherche. Renforcement Relations dans Nord Amérique Avec le soutien de L'équipe américaine de CIQTEK et ses partenaires locaux CIQTEK continue d'étendre sa présence sur le marché nord-américain et de fournir un soutien technique réactif à clients! Contactez notre équipe américai...

CIQTEK participera à 16e Société autrichienne de microscopie électronique ( Atelier ASEM sur la microscopie électronique avancée , se déroulant le 20-21 avril 2026 , au Institut des sciences et technologies d'Autriche (ISTA) dans Klosterneuburg , Autriche . Cet atelier réunit des chercheurs, des ingénieurs et des experts en microscopie afin d'explorer les dernières avancées en technologies de microscopie électronique, imagerie MEB et applications scientifiques . Présentation des solutions de microscopie électronique CIQTEK Lors de cet événement, Équipe européenne de microscopie électronique CIQTEK introduira son microscopie électronique à balayage (MEB) et MEB à émission de champ (MEB-FE) systèmes , mettant en évidence les applications dans science des matériaux, nanotechnologie, recherche sur les semi-conducteurs et sciences de la vie Les participants pourront découvrir les microscopes électroniques CIQTEK, performants, fiables et conviviaux, conçus pour répondre à divers besoins de recherche. En outre, le Dr Fengfa Yao, scientifique principal en solutions EM de l'équipe de microscopie électronique CIQTEK EU, donnera une présentation technique intitulée « Exploiter la puissance de la microscopie électronique à balayage haute vitesse unique sans compromis sur la résolution d'image exceptionnelle à faible kV pour les applications de microscopie volumique à grande échelle par CIQTEK La conférence présentera les dernières avancées de CIQTEK en imagerie MEB à haute vitesse , démontrant comment les chercheurs peuvent parvenir à une acquisition de données rapide tout en conservant une excellente résolution d'imagerie à faible kV, ce qui est essentiel pour applications de microscopie volumique à grande échelle . Assistance dédiée à la région DACH Pour mieux servir ses clients européens, CIQTEK a L'équipe de microscopie électronique dédiée à la région DACH (Allemagne, Autriche, Suisse) est établie et en pleine expansion. , fournissant ventes localisées, assistance technique et service Cela garantit une réponse rapide et des solutions sur mesure pour les instituts de recherche et les laboratoires de toute la région. Informations sur l'événement Événement : 16e atelier de l'ASEM sur la microscopie électronique avancée Dates : 20 et 21 avril 2026 Emplacement: Institut des sciences et technologies d'Autriche (ISTA), Klosterneuburg , Autriche

CIQTEK est heureux d'annoncer que le Microscope électronique à balayage à filament de tungstène CIQTEK SEM3200 participera à Formations SEM à Münster 2026 , offrant aux participants une expérience pratique des instruments lors des sessions organisées à partir de Du 16 au 20 mars 2026 dans Münster, Allemagne . Cette collaboration permet aux chercheurs, ingénieurs et utilisateurs de microscopie participant au programme de formation d'utiliser directement le système SEM3200 et d'explorer ses capacités dans des contextes analytiques réels. Pour nombre d'entre eux, ce sera l'occasion d'acquérir une expérience pratique des technologies modernes de microscopie électronique à balayage lors de l'un des programmes de formation en microscopie les plus anciens d'Europe. À propos des formations SEM de Münster Les formations SEM à Münster sont organisées par Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gGmbH , une institution bien établie dédiée à l'enseignement de la microscopie électronique et de la microanalyse. Depuis des décennies, l'académie organise des sessions de formation intensives couvrant des sujets tels que : Principes fondamentaux de la microscopie électronique à balayage Analyse par spectroscopie de dispersion d'énergie (EDS) Techniques d'imagerie électronique Préparation des échantillons et flux de travail pratiques Interprétation des données pour l'analyse des matériaux Ces formations attirent chaque année un groupe de participants très diversifié. Parmi eux figurent des chercheurs universitaires, des ingénieurs de laboratoire, des spécialistes des matériaux industriels et du personnel de plateformes de microscopie venus de toute l'Europe et d'ailleurs. La formation se déroule au Fachhochschulzentrum de l'Université des Sciences Appliquées de Münster Les cours combinent théorie et pratique en laboratoire. Plusieurs microscopes sont mis à disposition des participants afin qu'ils puissent acquérir une expérience opérationnelle directe. Le programme de cours de 2026 comprend plusieurs sessions spécialisées, telles que : R-1 : Introduction à la microscopie électronique à balayage R-2 : Microscopie électronique à balayage (MEB) et microanalyse avancées R-3 : Techniques SEM avancées Formation à l'analyse EBSD Cours d'analyse des particules Pendant le séances du 16 au 20 mars , le CIQTEK SEM3200 sera disponible comme l'un des instruments utilisés pour la formation et les démonstrations. Consultez les cours ici : http://www.akademie-elektronenmikroskopie.de/uebersicht.php Soutien à l'éducation et au partage des connaissances en microscopie électronique Les programmes de formation comme les cours de microscopie électronique à balayage de Münster jouent un rôle important au sein de la communauté de la microscopie électronique. Ils offrent une plateforme où les chercheurs et les ingénieurs peuvent perfectionner leurs compétences pratiques et échanger avec les formateurs et les autres participants. CIQTEK est convaincue que la formation pratique est e...