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CIQTEK continue d'étendre sa présence en Europe avec la création d'un Station de démonstration SEM en Espagne , exploité par le distributeur local de confiance IESMAT Située à Madrid, la station de démonstration dispose d'un Microscope SEM universel à filament de tungstène haute performance CIQTEK SEM3200 , offrant aux utilisateurs espagnols un accès pratique à des démonstrations en direct, des tests d'échantillons et une utilisation pratique. L'établissement propose également des formations professionnelles. Service et consultation technique en espagnol , aidant les clients locaux à mieux comprendre et appliquer les technologies avancées de microscopie électronique de CIQTEK. Depuis l'installation du CIQTEK SEM3200, IESMAT a activement organisé une série de séminaires et ateliers tout au long de 2025 , généralement organisés tous les un à deux mois. Ces événements accueillent des chercheurs et des professionnels du monde universitaire et de l'industrie pour explorer les performances et les avantages des Microscopes électroniques à balayage CIQTEK à travers séances pratiques et expériences d'apprentissage interactives . Atelier SEM IESMAT en janvier 2025 Séminaire IESMAT SEM en février 2025 Séminaire SEM le plus récent de l'IESMAT en septembre 2025 Le prochain événement, Journée II de microscopie électronique IESMAT , aura lieu le 6 novembre 2025, à Madrid Les participants apprécieront : Microscopie électronique pratique en direct avec le CIQTEK SEM3200 Analyses de pointe en utilisant EDS et EBSD Aperçu des tendances actuelles et des orientations futures de la microscopie électronique en Espagne Le Station de démonstration SEM à l'IESMAT marque une étape importante dans le parcours de CIQTEK stratégie européenne de développement Il améliore l'accessibilité locale aux technologies avancées de microscopie électronique et offre aux chercheurs une expérience concrète et authentique. Grâce à une étroite collaboration avec des partenaires comme l'IESMAT, le CIQTEK renforce son engagement auprès du marché européen, favorise l'innovation et renforce ses liens avec la communauté scientifique. CIQTEK reste déterminé à donner aux utilisateurs du monde entier les moyens d'agir grâce à une instrumentation avancée, un service localisé et une collaboration continue pour le progrès scientifique.

Cette semaine, CIQTEK a été heureux d'accueillir l'équipe de notre distributeur coréen GSEM au Usine de microscopes électroniques CIQTEK À Wuxi, en Chine. La visite a réuni des membres des services commerciaux, d'application et de service après-vente, qui ont participé à une série de formations intensives et professionnelles axées sur l'utilisation et la maintenance des microscopes électroniques. L'usine de microscopes électroniques CIQTEK est le centre de fabrication et de formation dédié aux systèmes de microscopie électronique. Dotée d'installations de production de pointe, de lignes d'assemblage de précision et de laboratoires de démonstration, l'usine intègre la R&D, la fabrication, le contrôle qualité et la formation des utilisateurs pour garantir des performances et une fiabilité optimales. CIQTEK SEM , FIB-SEM , et TEM lignes de produits. La formation a été animée par M. Gao, responsable du département Solutions de microscopie électronique du CIQTEK, en collaboration avec des ingénieurs seniors de l'équipe de microscopie électronique du CIQTEK. Au cours du programme, les participants ont reçu des instructions systématiques sur les procédures clés telles que la cuisson de la pompe ionique, le contrôle de la position de l'ouverture, le centrage du filament, la pratique de l'imagerie haute résolution, ainsi que l'installation et l'étalonnage des accessoires. Tout au long de la semaine, l'équipe GSEM a travaillé en étroite collaboration avec les ingénieurs de CIQTEK afin d'acquérir une compréhension théorique et pratique de la technologie de microscopie électronique de CIQTEK. Ces sessions ont été conçues pour que les ingénieurs commerciaux et de service de GSEM possèdent l'expertise technique nécessaire pour accompagner les clients locaux en Corée, de l'installation et l'exploitation du système au dépannage et à la maintenance avancés. Cette formation a non seulement renforcé les capacités techniques de GSEM, mais aussi le partenariat entre CIQTEK et GSEM. Grâce à une collaboration continue en matière de connaissance des produits, de support applicatif et de service client, CIQTEK et GSEM proposeront conjointement des solutions plus professionnelles, plus efficaces et plus fiables. Marché coréen de la microscopie électronique . CIQTEK reste déterminé à autonomiser les partenaires mondiaux grâce à une formation professionnelle, une collaboration technique et une innovation continue dans l'instrumentation scientifique.

CIQTEK a franchi une étape mondiale en achevant le première mondiale Modernisation du spectromètre EPR projet à l'Université Queen Mary de Londres. Cette mise à niveau réussie témoigne de la solide expertise technique de CIQTEK et de son engagement à fournir des services efficaces et de haute qualité aux chercheurs du monde entier. Le projet a eu lieu à Université Queen Mary de Londres , dans le École des sciences physiques et chimiques , où le groupe de recherche RPE s'appuyait depuis longtemps sur un spectromètre RPE vieillissant. Au fil du temps, leur système ne répondait plus aux exigences des études avancées de résonance magnétique. Face à ce défi, l'équipe a cherché un moyen fiable et efficace d'améliorer ses capacités RPE sans remplacer entièrement son instrument existant. Après avoir appris à propos de Le service de modernisation EPR complet et leader du secteur de CIQTEK Après une communication approfondie avec l'équipe EPR de CIQTEK, les chercheurs ont identifié la solution idéale. L'approche de modernisation de CIQTEK offre une solution rentable pour prolonger la durée de vie des instruments EPR existants tout en améliorant significativement les performances grâce à du matériel mis à niveau, des systèmes de contrôle optimisés et des fonctionnalités avancées telles que EPR à onde continue (CW) . L'équipe EPR prépare l'expédition En octobre 2025, les ingénieurs d'installation et de formation de CIQTEK ont assuré un service complet et fluide, de l'expédition et de l'installation sur site à la formation des utilisateurs professionnels. La modernisation a été menée à bien avec efficacité, permettant au groupe EPR de l'Université Queen Mary de poursuivre ses recherches avec un système modernisé et performant. Équipes EPR du CIQTEK et de l'Université Queen Mary Le Dr Liu, chef de l'équipe de recherche EPR, a partagé ses commentaires après l'achèvement du projet : Cette collaboration a largement dépassé nos attentes. L'efficacité du service a été excellente, la formation était complète et bien organisée, et nous sommes très satisfaits des résultats des tests. Nous sommes impatients de collaborer à nouveau avec CIQTEK. Ses commentaires reflètent parfaitement Principes de service de CIQTEK : « Service de qualité. Partenaire de confiance. » Nous tenons également à exprimer notre sincère gratitude à nos SciMed, partenaire britannique, pour son précieux soutien local et sa coordination tout au long du projet. Sa collaboration a permis une communication fluide et des progrès rapides à chaque étape. À propos du service de modernisation EPR de CIQTEK Service de modernisation et de mise à niveau EPR CIQTEK Offre aux utilisateurs d'EPR une seconde vie à leurs instruments. En remplaçant les modules de contrôle et de détection obsolètes par la technologie de pointe de CIQTEK, les chercheurs bénéficient d'une stabilité, d'une sensibilité et d'une expérience utilisateur améliorées, comparables à celles des spectromètres de nouvelle génération, tout en conse...

CIQTEK a franchi une nouvelle étape importante en Europe avec l'installation du Microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) SEM4000Pro au Salle d'exposition de démonstration SYNERGIE4 dans France . La nouvelle configuration permet aux chercheurs et aux utilisateurs industriels en Europe de découvrir imagerie haute résolution, performances analytiques et facilité d'utilisation Le CIQTEK SEM4000Pro offre une qualité d'image exceptionnelle pour l'observation fine des microstructures et prend en charge un large éventail d'applications en science des matériaux, en microélectronique et en R&D. SYNERGIE4 est le distributeur et prestataire français de CIQTEK pour ses solutions avancées de microscopie et de microanalyse. Forte d'une solide expérience en microscopie électronique et en instruments d'analyse, SYNERGIE4 accompagne les universités, les instituts de recherche et les laboratoires industriels dans toute la France avec des solutions sur mesure, une expertise technique et des formations. Désormais, le centre de démonstration de SYNERGIE4 dispose d'un CIQTEK SEM4000Pro entièrement opérationnel, offrant des démonstrations pratiques aux visiteurs pour explorer ses capacités d'imagerie, son interface logicielle intuitive et sa polyvalence dans divers domaines de recherche. « La présence du CIQTEK SEM4000Pro dans notre showroom nous permet de présenter ses performances d'imagerie directement à nos clients », a déclaré un représentant de SYNERGIE4. « C'est un excellent ajout à nos installations de démonstration et une étape importante dans l'élargissement de notre gamme de produits de microscopie. » Le SEM4000Pro étant désormais disponible en France, les utilisateurs européens peuvent évaluer directement ses performances, grâce à l'expertise locale et aux services de démonstration technique de SYNERGIE4. Cette collaboration marque une étape importante dans les efforts continus de CIQTEK pour améliorer l'accessibilité aux technologies avancées de microscopie électronique dans toute l'Europe .

À mesure que la fabrication de semi-conducteurs progresse vers des nœuds de processus plus fins, l'analyse des défauts au niveau de la plaquette, la localisation des défaillances et la fabrication micro-nano sont devenues essentielles pour améliorer le rendement. CIQTEK présente le Solution de traitement pleine grandeur à double faisceau pour plaquettes de 8 pouces , combinant une imagerie haute résolution et un traitement précis par faisceau d'ions pour réaliser une « observation-analyse-découpe » sur l'ensemble de la plaquette, offrant un support technique solide pour les processus avancés de semi-conducteurs. Cette solution est équipée d'une platine porte-échantillon haute précision à grande course de 150 mm, permettant l'observation et le traitement non destructifs de wafers entiers de 8 pouces. Grâce à un système de navigation optique externe et à des algorithmes anticollision intelligents, elle garantit un positionnement rapide et précis des wafers et un fonctionnement sûr. Le système est équipé d'un canon à électrons à émission de champ Schottky, offrant une résolution de 0,9 nm à 15 kV et une résolution de faisceau d'ions de 3 nm à 30 kV, permettant la détection de défauts, le découpage de sections transversales et la fabrication de microstructures à l'échelle nanométrique. Principaux avantages : Étage de déplacement de 150 mm : Combine une longue course avec une haute précision pour une plage d'observation étendue. Excellente compatibilité avec des luminaires de différentes tailles. La structure robuste assure la stabilité des plaquettes et un chargement rapide et fiable. Échange rapide de 8 pouces : Conception intelligente de support de poids avec une base coulissante pour plus de stabilité et de durabilité. Compatibilité pleine taille : prend en charge les plaquettes de 2/4/6/8 pouces. Échange rapide d'échantillons : pompage sous vide et chargement d'échantillons en une minute. Logiciel et anti-collision : Navigation intelligente entièrement automatique avec mouvement et positionnement précis. Mouvement coordonné multi-axes pour l'observation de la plaquette entière. Anti-collision intelligente : Simulation de trajectoire et calculs spatiaux algorithmiques pour éviter les risques. Surveillance multiple en temps réel : Surveillance multi-angle en temps réel de la position de la plaquette. Navigation optique externe : La conception de la structure ultra-stable supprime les tremblements de l'image. Imagerie haute définition avec un champ de vision précis pour un affichage sur toute la plaquette. L'éclairage antireflet professionnel réduit la réflexion de la surface des plaquettes. Plage d'observation des plaquettes Solution de microscope électronique à double faisceau CIQTEK combine un matériel exceptionnel avec des systèmes logiciels intelligents, permettant une détection efficace des défauts et une optimisation des processus grâce au réglage de la luminosité et du contraste en un clic, à la mise au point automatique et à la sortie d'ima...

Dans les sciences de la vie, la réalisation d’analyses structurelles et dynamiques 3D de haute précision et à grande échelle d’échantillons biologiques tels que des cellules et des tissus est devenue essentielle pour surmonter les goulots d’étranglement de la recherche. CIQTEK a introduit un itinéraire multi-technologies Microscopie électronique volumétrique (MEV) solution, intégration SS-SEM, SBF-SEM et FIB-SEM . Cela fournit une plate-forme complète, performante et intelligente pour la reconstruction biologique 3D, aidant les chercheurs à découvrir les mystères de la vie au niveau micro. Trois itinéraires techniques avancés 01. Imagerie haute vitesse SS-SEM En combinant le sectionnement sériel externe avec le CIQTEK MEB HEM6000-Bio à grande vitesse Cette solution permet une imagerie rapide et l'acquisition automatisée d'échantillons volumineux. L'efficacité d'acquisition des données est plus de cinq fois supérieure à celle d'un microscope électronique à balayage (MEB) conventionnel, permettant un fonctionnement à haut débit sans surveillance 24h/24 et 7j/7. 02. Coupe in situ SBF-SEM Basé sur le CIQTEK SEM5000X ultra-haute résolution Grâce à un microtome intégré, cette approche permet des cycles de coupe et d'imagerie in situ. Elle offre une utilisation simple, une automatisation poussée et évite efficacement la contamination de surface. 03. FIB-SEM Analyse de haute précision Grâce à des systèmes à double faisceau focalisé d'ions et d'électrons, cette méthode offre une résolution nanométrique sur l'axe Z pour analyser des structures fines telles que les organites et les membranes. Elle permet une reconstruction 3D in situ sans découpage physique. Intégration intelligente et applications étendues La solution CIQTEK VEM s'intègre en profondeur algorithmes d'IA et une plateforme logicielle multilingue , prenant en charge un flux de travail complet, de l'acquisition des données à la visualisation 3D, en passant par l'alignement et la segmentation des images. Compatible avec les logiciels de reconstruction courants, il réduit considérablement la courbe d'apprentissage. Les cas d’application couvrent les neurosciences, la biologie cellulaire et la microbiologie pathogène, offrant un outil puissant pour faire progresser la recherche en sciences de la vie.

La recherche sur le comportement microscopique des matériaux entre dans une nouvelle ère couplage multi-scénarios et caractérisation dynamique in situ . CIQTEK a lancé une solution innovante Solution de test mécanique in situ , conçu avec une ouverture et une compatibilité exceptionnelles. Il permet une intégration transparente de la gamme complète de CIQTEK microscopes électroniques avec des dispositifs de test in situ courants, offrant une plate-forme flexible et efficace pour l'analyse couplée dans divers scénarios de recherche. Brisant les limites des systèmes fermés, la solution intègre tous les éléments critiques nécessaires à EM in situ adaptabilité, avec : Courant de faisceau élevé : >100 nA, idéal pour une analyse EDS/EBSD rapide Grand espace : 360 × 310 × 288 mm (L × l × H) Capacité de charge élevée : 5 kg (jusqu'à 10 kg avec des fixations personnalisées) CCD multi-vues : assurer la sécurité du système pendant l'exploitation in situ Interfaces multiples : supportant des accessoires de bride personnalisés Pré-acceptation : débogage complet des accessoires avant la livraison, garantissant une fonctionnalité complète sans problèmes d'installation sur site La solution peut être configurée sur La gamme complète de produits de microscopie électronique de CIQTEK , y compris CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Systèmes à double faisceau DB550 , et bien plus encore. Il offre également une compatibilité parfaite avec les platines de traction, les platines de chauffage, les nanoindenteurs et les stations de travail électrochimiques des principaux fournisseurs mondiaux. Cette architecture ouverte permet aux chercheurs de combiner avec souplesse les équipements les plus adaptés, optimisant ainsi les performances expérimentales. La solution de scène in situ de CIQTEK aidé les clients à publier un papier à fort impact (DOI : 10.1126/science.adq6807). Solution mécanique in situ de CIQTEK Il prend également en charge le couplage multi-champs (mécanique, thermique, électrochimique), permettant l'observation en temps réel à l'échelle nanométrique des matériaux dans des environnements complexes. En synchronisant l'imagerie haute résolution avec les signaux in situ, les chercheurs peuvent capturer avec précision des phénomènes critiques tels que la propagation des fissures, les transitions de phase et les réactions interfaciales. Avec une plage de températures de -170 à 1200 °C, un contrôle de charge avancé et des systèmes de réponse rapide, il simule avec précision les conditions de service des matériaux dans divers secteurs industriels. Associé aux EBSD et EDS, il fournit des ensembles de données complets pour comprendre le comportement des matériaux sous des stimuli couplés. Postulé avec succès dans matériaux aérospatiaux, nouveaux dispositifs énergétiques et matériaux biomédicaux , cette solution démontre la compatibilité et l'évolutivité exceptionnelles de CIQTEK d

Microscopie électronique à transmission à balayage quadridimensionnel (4D-STEM) La microscopie électronique est l'une des avancées les plus innovantes. En effectuant un balayage bidimensionnel de la surface de l'échantillon tout en enregistrant un diagramme de diffraction complet à chaque point de balayage grâce à un détecteur pixellisé, 4D-STEM génère un jeu de données quadridimensionnel contenant des informations en espace réel et en espace réciproque. Cette technique s'affranchit des limites de la microscopie électronique conventionnelle, qui ne collecte généralement qu'un seul signal de diffusion. Elle capture et analyse désormais l'intégralité du spectre des interactions électron-échantillon. Grâce à 4D-STEM, les chercheurs peuvent exploiter de multiples fonctionnalités avancées au sein d'une même expérience, notamment l'imagerie virtuelle, la cartographie de l'orientation et de la contrainte des cristaux, l'analyse de la distribution des champs électrique et magnétique (contraste de phase différentiel), et même la reconstruction à résolution atomique par empilement par diffraction. Elle élargit considérablement la dimensionnalité et la profondeur de la caractérisation des matériaux, offrant ainsi un outil sans précédent pour la recherche en nanosciences et sur les matériaux. Lors de la Conférence nationale chinoise sur la microscopie électronique 2025 (26-30 septembre, Wuhan), CIQTEK publie son Solution 4D-STEM , conçu pour briser les limites de l'imagerie traditionnelle et fournir des données avec une dimensionnalité et une puissance analytique inégalées. Flux de travail du système Le Solution CIQTEK 4D-STEM caractéristiques haute résolution spatiale, analyse multidimensionnelle, fonctionnement à faible dose pour minimiser les dommages du faisceau et un traitement flexible des données , fournissant aux chercheurs des méthodes fiables et exceptionnelles pour l’analyse avancée des matériaux.