Synergie4 présente actuellement les produits de microscope électronique de CIQTEK au salon E-MRS 2025, en France
Synergie4 présente actuellement les produits de microscope électronique de CIQTEK au salon E-MRS 2025, en France
May 28, 2025
CIQTEK
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produits au salon E-MRS 2025. L'événement se déroulera à Strasbourg, en France, du 26 au 30 mai, et leur stand sera situé au stand 27.
L'E-MRS compte aujourd'hui plus de 4 000 membres issus de l'industrie, du gouvernement, du monde universitaire et des laboratoires de recherche. Ses rencontres servent de plateforme d'échanges sur les dernières avancées technologiques en matière de matériaux fonctionnels. Se démarquant de nombreuses sociétés professionnelles unidisciplinaires, l'E-MRS favorise l'échange d'informations entre scientifiques, ingénieurs et responsables de recherche à un niveau interdisciplinaire.
Cette participation à la réunion et exposition E-MRS 2025 ne met pas seulement en valeur
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produits, mais souligne également leur engagement à rester à la pointe de la science des matériaux et des avancées de la recherche.
La présence de Synergie4 à cet événement prestigieux souligne l'esprit de collaboration et le dévouement à l'excellence que CIQTEK et ses partenaires incarnent dans leur quête de faire progresser la science et la technologie des matériaux.
MEB à filament de tungstène haute performance et universel Microscope Le Microscope SEM CIQTEK SEM3200 Le SEM3200 est un excellent microscope électronique à balayage (MEB) à filament de tungstène polyvalent, doté de capacités globales exceptionnelles. Sa structure unique à double anode garantit une haute résolution et améliore le rapport signal/bruit de l'image à faibles tensions d'excitation. De plus, il offre une large gamme d'accessoires optionnels, faisant du SEM3200 un instrument d'analyse polyvalent et polyvalent.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.
Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Ga+ Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et dispose de la fonction « basse tension et haute résolution » pour garantir ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes ioniques fournissent une source d'ions métal liquide Ga+ avec des faisceaux d'ions extrêmement stables et de haute qualité, garantissant ainsi la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour l'analyse et la fabrication de nanoparticules, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.