Beyond Nano présente le CIQTEK SEM3200 au 33e Congrès international de recherche sur les matériaux au Mexique
Beyond Nano présente le CIQTEK SEM3200 au 33e Congrès international de recherche sur les matériaux au Mexique
August 19, 2025
Beyond Nano, le distributeur de CIQTEK et un innovateur de premier plan en nanotechnologie, a fièrement présenté le
CIQTEK SEM3200
au
33e Congrès international de recherche sur les matériaux (IMRC 2025)
, 17-21 août.
L'IMRC est reconnu comme l'un des rassemblements les plus prestigieux en science des matériaux, réunissant des pionniers et des leaders d'opinion mondiaux. Cette année, il a offert à Beyond Nano la plateforme idéale pour présenter les innovations de pointe du CIQTEK.
Microscope électronique à balayage SEM3200
à un public international.
Conçu pour
imagerie avancée, performances supérieures et applications polyvalentes
, le CIQTEK SEM3200 est conçu pour répondre aux besoins évolutifs des chercheurs du monde universitaire et de l'industrie.
Les visiteurs du stand Beyond Nano ont eu l'occasion de découvrir le
Les capacités révolutionnaires du SEM3200 en première main
et d'échanger avec les experts de l'équipe sur ses fonctionnalités, son potentiel d'application et ses développements futurs. Avec le SEM3200, CIQTEK continue d'élargir les possibilités de
microscopie électronique
, aidant les chercheurs à ouvrir de nouvelles frontières dans la science des matériaux.
MEB à filament de tungstène haute performance et universel Microscope Le Microscope SEM CIQTEK SEM3200 Le SEM3200 est un excellent microscope électronique à balayage (MEB) à filament de tungstène polyvalent, doté de capacités globales exceptionnelles. Sa structure unique à double anode garantit une haute résolution et améliore le rapport signal/bruit de l'image à faibles tensions d'excitation. De plus, il offre une large gamme d'accessoires optionnels, faisant du SEM3200 un instrument d'analyse polyvalent et hautement évolutif.
Géorgie + Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et sa fonction « basse tension et haute résolution » garantit ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes d'ions facilitent une Ga + Source d'ions métalliques liquides avec faisceaux d'ions hautement stables et de haute qualité pour garantir la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour la nanoanalyse et la fabrication, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.