Célébrer l'installation réussie de Ciqtek SEM5000X à GSEM en Corée

Microscopie électronique à balayage d'émission de champ ultra-élevé (FESEM)Le Ciqtek SEM5000X est un FESEM à ultra-haute résolution avec une conception optimisée de colonne d'optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30%, atteignant une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV Sa haute résolution et sa stabilité le rendent avantageux dans la recherche avancée en matières de matériaux nano-structurales, ainsi que dans le développement et la fabrication de puces IC semi-conductrices de nœuds de haute technologie.

Microscope électronique à balayage à émission de champ analytique (FESEM) avec grand faisceau I CIQTEK SEM4000Pro est un modèle analytique de FE-SEM, équipé d'un canon à électrons à émission de champ Schottky à haute luminosité et longue durée de vie. La conception de la lentille électromagnétique à 3 étages offre des avantages significatifs dans les applications analytiques telles que EDS/EDX, EBSD, WDS, etc. Il est livré en standard avec un mode faible vide et un détecteur d'électrons secondaires à faible vide haute performance, ainsi qu'un détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable, qui profite à l'observation d'échantillons peu conducteurs ou non conducteurs.

Microscope SEM à filament de tungstène universel et hautes performances Le microscope SEM CIQTEK SEM3200 est un excellent microscope électronique à balayage à filament de tungstène (MEB) à usage général doté de capacités globales exceptionnelles. Sa structure unique de canon électronique à double anode garantit une haute résolution et améliore le rapport signal/bruit de l'image à de faibles tensions d'excitation. De plus, il offre une large gamme d'accessoires en option, faisant du SEM3200 un instrument d'analyse polyvalent doté d'excellentes possibilités d'utilisation.