CIQTEK et USTC célèbrent une année de collaboration au sein du laboratoire commun de microscopie électronique in situ de pointe.
CIQTEK et USTC célèbrent une année de collaboration au sein du laboratoire commun de microscopie électronique in situ de pointe.
December 30, 2025
Les instruments de pointe ne suffisent pas à eux seuls à engendrer des percées scientifiques. Les véritables progrès surviennent lorsque la technologie et les chercheurs travaillent en étroite collaboration.
Un an après le lancement du
Laboratoire commun de microscopie électronique in situ haut de gamme
, la collaboration entre le Centre expérimental d'ingénierie et de science des matériaux et
CIQTEK
a montré comment un état d'esprit d'innovation partagé peut ouvrir de nouvelles perspectives dans
recherche sur les matériaux in situ, micro- et nanofabrication, et études liées à la mécanique
.
« Choisir CIQTEK n'a jamais consisté simplement à acheter un instrument », explique le professeur Ming Gong, directeur adjoint du Centre expérimental d'ingénierie et de science des matériaux. « Nous avons choisi un partenaire capable de travailler avec nous pour explorer et résoudre les défis scientifiques de pointe. »
Une plateforme de recherche fondamentale basée sur la microscopie électronique in situ
Le Centre expérimental d'ingénierie et de science des matériaux est l'une des six plateformes expérimentales publiques de niveau universitaire de l'Université des sciences et technologies de Chine. Il soutient un large éventail de disciplines, notamment la mécanique, le génie mécanique, l'instrumentation et la thermophysique de l'ingénierie.
Ce centre joue un rôle essentiel dans le développement de la recherche sur le comportement mécanique des matériaux, les systèmes fluidiques complexes, la métrologie de précision, la fabrication de micro- et nanodispositifs et les matériaux pour les énergies renouvelables. En associant un accès libre à des services d'analyse professionnels, il favorise la collaboration interdisciplinaire et relie la recherche académique aux besoins industriels concrets.
Dans ce cadre,
microscopie électronique in situ
est devenue une capacité essentielle. Elle permet aux chercheurs d'observer directement les changements structurels et fonctionnels des matériaux dans des conditions réelles, offrant ainsi des perspectives que les méthodes d'analyse traditionnelles ne peuvent fournir.
À mesure que la recherche en science des matériaux s'oriente vers des échelles de longueur plus petites et des processus plus dynamiques, les méthodes traditionnelles de préparation des échantillons ne suffisent plus. Les études modernes nécessitent de plus en plus
préparation spécifique au site, observation in situ et reconstruction tridimensionnelle
à l'échelle micro et nano.
Pour répondre à ces demandes, le centre a mis en place un
Microscope électronique à double faisceau FIB-SEM
, fourni par
CIQTEK
Cet instrument scientifique de pointe permet une micro- et nanofabrication précise tout en maintenant des performances d'imagerie à haute résolution, ce qui en fait un outil essentiel pour la recherche de pointe.
« Notre objectif était très clair », explique le professeur Gong. « Nous souhaitions fournir des conditions expérimentales de pointe favorisant les percées dans les sciences et l'ingénierie de pointe, tout en offrant une base technique solide pour les innovations industrielles futures. »
CIQTEK FIBSEM au laboratoire commun de microscopie électronique in situ haut de gamme
Choisir CIQTEK : Technologie, fiabilité et collaboration
Lors du processus de sélection des instruments, le centre s'est concentré sur trois facteurs clés :
stabilité du système, précision des performances et assistance technique à long terme
.
"Les spécifications de base de
FIB-SEM de CIQTEK
« Nos systèmes sont déjà au niveau des meilleurs systèmes mondiaux », déclare le professeur Gong. « Cela nous a mis en confiance dès le départ. Mais ce qui nous a vraiment convaincus, c’est l’ouverture de CIQTEK à la collaboration. »
CIQTEK a travaillé en étroite collaboration avec les chercheurs pour comprendre leurs besoins expérimentaux réels, en leur offrant un soutien flexible en matière de développement d'applications et de compatibilité logicielle. Cette approche a permis de transformer
microscope électronique à double faisceau
en une plateforme capable d'évoluer en permanence grâce à la recherche en cours, plutôt que de rester une configuration fixe.
Plus qu'un simple équipement : un partenaire de recherche à long terme
Après plus d'un an de fonctionnement quotidien, le CIQTEK
Microscope électronique à double faisceau FIB-SEM
s'est avéré stable et fiable dans des conditions de recherche intensives.
« L’expérience globale a dépassé nos attentes », déclare Yu Bai, ingénieur au Centre expérimental d’ingénierie et de science des matériaux. « Le système offre des performances constamment excellentes, tant en micro- et nanofabrication qu’en imagerie haute résolution, ce qui est essentiel pour nos recherches sur les matériaux in situ. »
De même, et c'est tout aussi important, CIQTEK a continué de recueillir les commentaires des utilisateurs et de traduire les défis de la recherche en orientations concrètes d'optimisation et de mise à niveau. Cette interaction continue garantit que l'instrument reste adapté à l'évolution des besoins expérimentaux.
Réponse rapide aux défis expérimentaux non standard
Un exemple illustre clairement la valeur de cette collaboration. Lors d'un projet dépassant les scénarios d'application standard du système, l'équipe de recherche a rencontré un obstacle technique majeur.
« Les ingénieurs d'application de CIQTEK sont arrivés sur place immédiatement », se souvient Bai. « Ils ont travaillé avec nous pour affiner l'approche expérimentale et ont rapidement livré une mise à jour logicielle personnalisée. »
Cette réaction rapide a permis à l'équipe de mener à bien l'expérience et a démontré comment
collaboration université-industrie
peut accélérer directement le progrès scientifique.
« À ce moment-là, nous avons vraiment compris ce que signifie avoir un partenaire », ajoute Bai. « Pas seulement un fournisseur d'équipement, mais une équipe qui nous accompagne tout au long du processus d'innovation. »
Perspectives d'avenir : Faire progresser ensemble la recherche sur les matériaux in situ
La collaboration entre le Centre expérimental d'ingénierie et de science des matériaux et le CIQTEK offre un exemple clair de la manière dont l'instrumentation scientifique de pointe et une coopération étroite peuvent soutenir l'innovation indépendante.
Comme le
Laboratoire commun de microscopie électronique in situ haut de gamme
La situation continue d'évoluer, les deux parties se concentreront davantage sur
recherche in situ sur les matériaux liée à la mécanique, à la micro- et nanofabrication et aux méthodologies expérimentales avancées
Grâce à une collaboration continue, ils visent à fournir un soutien technique solide à la recherche de haut niveau et aux futures percées scientifiques.
Géorgie + Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et sa fonction « basse tension et haute résolution » garantit ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes d'ions facilitent une Ga + Source d'ions métalliques liquides avec faisceaux d'ions hautement stables et de haute qualité pour garantir la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour la nanoanalyse et la fabrication, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.