Conférence et Expo Pittcon 2024

Haute résolution sous faible excitation Le CIQTEK SEM5000Pro est un microscope électronique à balayage à émission de champ Schottky (FE-SEM) spécialisé en haute résolution, même sous une faible tension d'excitation. L'utilisation d'une technologie avancée d'optique électronique « Super-Tunnel » facilite un trajet de faisceau sans croisement avec une conception de lentille composée électrostatique-électromagnétique. Ces avancées réduisent l'effet de charge spatiale, minimisent les aberrations de l'objectif, améliorent la résolution d'imagerie à basse tension et atteignent une résolution de 1,2 nm à 1 kV, ce qui permet l'observation directe d'échantillons non conducteurs ou semi-conducteurs, réduisant ainsi efficacement l'échantillon. dommages causés par l'irradiation.

Microscope électronique à balayage à grande vitesse pour l'imagerie à grande échelle de échantillons de grand volume CIQTEK HEM6000 intègre des technologies telles que le canon à électrons à courant large et à haute luminosité, le système de déviation du faisceau d'électrons à grande vitesse, la décélération de l'étage d'échantillonnage à haute tension, l'axe optique dynamique et l'objectif combiné électromagnétique et électrostatique à immersion. pour obtenir une acquisition d'images à grande vitesse tout en garantissant une résolution à l'échelle nanométrique. Le processus de fonctionnement automatisé est conçu pour des applications telles qu'un flux de travail d'imagerie haute résolution sur de grandes surfaces plus efficace et plus intelligent. La vitesse d'imagerie peut atteindre plus de 5 fois celle d'un microscope électronique à balayage à émission de champ classique (FESEM).

Microscope SEM à filament de tungstène universel et hautes performances Le microscope SEM CIQTEK SEM3200 est un excellent microscope électronique à balayage à filament de tungstène (MEB) à usage général doté de capacités globales exceptionnelles. Sa structure unique de canon électronique à double anode garantit une haute résolution et améliore le rapport signal/bruit de l'image à de faibles tensions d'excitation. De plus, il offre une large gamme d'accessoires en option, faisant du SEM3200 un instrument d'analyse polyvalent doté d'excellentes possibilités d'utilisation.

Microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) avec colonnes à faisceau d'ions focalisé (FIB) Le microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisé CIQTEK DB550 (FIB-SEM) dispose d'une colonne de faisceau d'ions focalisé pour la nano-analyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et une conception d'objectif non magnétique, et possède la fonction « basse tension, haute résolution » pour garantir ses capacités analytiques à l'échelle nanométrique. Les colonnes d'ions facilitent une source d'ions de métal liquide Ga+ avec des faisceaux d'ions très stables et de haute qualité pour garantir les capacités de nanofabrication. Le DB550 est une station de travail de nano-analyse et de fabrication tout-en-un avec un nano-manipulateur intégré, un système d'injection de gaz et un logiciel GUI convivial.

Microscope électronique à balayage à filament de tungstène de nouvelle génération Le CIQTEK SEM3300 microscope électronique à balayage (SEM) intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », des détecteurs d'électrons intégrés et un objectif composé électrostatique et électromagnétique. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution de longue date d'un tel SEM est dépassée, permettant au SEM à filament de tungstène d'effectuer des tâches d'analyse à basse tension auparavant uniquement réalisables avec des SEM à émission de champ.

Microscope électronique à transmission (TEM) à émission de champ 120 kV 1. Espaces de travail divisés : Les utilisateurs utilisent le TEM dans une pièce divisée avec un confort réduisant les interférences environnementales sur le TEM. 2. Efficacité opérationnelle élevée : le logiciel désigné intègre des processus hautement automatisés, permettant une interaction TEM efficace avec une surveillance en temps réel. 3. Expérience opérationnelle améliorée : Équipé d'un canon à électrons à émission de champ avec un système hautement automatisé. 4. Haute extensibilité : Il existe suffisamment d'interfaces réservées aux utilisateurs pour passer à une configuration supérieure, qui répond à diverses exigences d'application.

Moderniser votre ancienne spectroscopie EPR pour la recherche EPR de pointeCette modernisation vous apportera des fonctionnalités, notamment:●–¶ Sensibilité plus élevée:Source de micro-ondes à un bruit ultra-bas et technologie de détection de signal ●–¶ Meilleure résolution: Technologie de contrôle magnétique des champs magnétiques●–¶ Excellente compatibilité: Compatible avec une large gamme de spectromètres EPR ●–¶ Livraison rapide: Livraison complète du matériel modernisé dans les 2 à 6 mois ●–¶ Service de haute qualité: Installation sur place et garantie de 2 ans ● Envoyez-nous un e-mail pour plus de détails: info@ciqtek.com

CIQTEK SEM5000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ doté d'une capacité d'imagerie et d'analyse haute résolution, soutenu par de nombreuses fonctions, bénéficiant d'une conception avancée de colonne d'optique électronique, avec une technologie de tunnel de faisceau d'électrons à haute pression (SuperTunnel), une faible aberration et une non-immersion. lentille d'objectif, permet d'obtenir une imagerie haute résolution basse tension, l'échantillon magnétique peut également être analysé. Grâce à la navigation optique, aux fonctionnalités automatisées, à l'interface utilisateur d'interaction homme-machine soigneusement conçue et au processus de fonctionnement et d'utilisation optimisé, que vous soyez un expert ou non, vous pouvez rapidement démarrer et terminer un travail d'imagerie et d'analyse haute résolution.