CIQTEK at the 2026 MMMS Annual Spring Meeting in Illinois, USA
CIQTEK at the 2026 MMMS Annual Spring Meeting in Illinois, USA
February 11, 2026
March 27, 2026 – Evanston, Illinois, USA
CIQTEK is excited to join the Annual Spring Meeting of the Midwest Microscopy and Microanalysis Society (MMMS) on March 27, 2026, hosted at Northwestern University in Evanston, Illinois. This gathering is a must-attend event for researchers, microscopists, and industry professionals across the Midwest, providing a platform to share the latest in electron microscopy, microanalysis, and cutting-edge lab techniques.
Meet CIQTEK's Electron Microscopy USA Team
Our US local team will be on-site to meet attendees, discuss real-world lab challenges, and share insights into CIQTEK's full line of electron microscopy solutions. From routine SEMs to advanced field-emission systems, CIQTEK designs instruments that deliver reliable imaging, high performance, and practical usability for academic, industrial, and research labs.
The MMMS Spring Meeting is more than a conference; it’s a chance to see the latest technology in action, exchange ideas with peers, and explore tools that can make everyday lab work easier and more efficient. CIQTEK is proud to be part of this vibrant microscopy community, supporting innovation and practical solutions for researchers across the Midwest.
Come meet us in Evanston on March 27!
Explore our SEM lineup, chat with our team, and discover how CIQTEK instruments can support your microscopy and microanalysis needs.
Ultra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.
Géorgie + Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et sa fonction « basse tension et haute résolution » garantit ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes d'ions facilitent une Ga + Source d'ions métalliques liquides avec faisceaux d'ions hautement stables et de haute qualité pour garantir la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour la nanoanalyse et la fabrication, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.