Cette année, nous avons officiellement créé un groupe dédié
Équipe CIQTEK US
Cela signifie une présence locale accrue, une réponse plus rapide et une communication plus étroite avec les clients à travers le pays.
Et nous ne restons pas derrière un bureau.
Notre équipe américaine, en collaboration avec notre distributeur local officiel, JH Technologies, a récemment participé à
Symposium SMTA sur l'encapsulation au niveau de la plaquette 2026
et le
Réunion du 60e anniversaire de la Société texane de microscopie (TSM)
.
Soutien à l'emballage avancé lors de la conférence SMTA 2026
Lors du symposium SMTA sur l'encapsulation au niveau de la plaquette à San Francisco, nous avons rencontré des ingénieurs et des experts techniques travaillant dans le domaine de l'encapsulation avancée des semi-conducteurs.
Avec la miniaturisation croissante des composants, l'inspection et l'analyse des défauts deviennent plus exigeantes. Il est donc primordial pour les clients américains de disposer de solutions SEM fiables. Nous avons eu des échanges ouverts et concrets sur les défis réels du packaging au niveau de la plaquette. Les sujets abordés comprenaient la résolution d'imagerie, la caractérisation de surface et l'optimisation des procédés.
Ces discussions nous aident à mieux comprendre comment le microscope électronique CIQTEK peut soutenir des applications de fabrication et de recherche avancées.
CIQTEK et JH Technologies au SMTA 2026
TSM 2026 : Le début de l’engagement régional
La réunion du 60e anniversaire de la Société texane de microscopie a été particulièrement significative.
Contrairement aux grandes expositions nationales, les événements organisés par les sociétés de microscopie aux États-Unis, comme le TSM, permettent des échanges plus étroits et personnalisés. Nous y avons rencontré des chercheurs, des responsables de laboratoires et des professionnels de l'industrie, notamment dans les domaines des sciences des matériaux, des sciences de la vie et des laboratoires industriels.
Pour CIQTEK, TSM 2026 marque le début d'un plan plus vaste. Notre nouvelle équipe CIQTEK US poursuivra ses visites aux sociétés régionales de microscopie à travers le pays. Nous sommes convaincus que les relations authentiques se tissent lors d'échanges directs.
CIQTEK au TSM 2026
2026 n'est que le début.
Le lancement de notre équipe CIQTEK US marque une nouvelle étape dans le développement des microscopes électroniques CIQTEK aux États-Unis.
Nous investissons dans le soutien local.
Nous renforçons nos partenariats.
Nous nous intégrons à l'écosystème américain de la microscopie.
D'autres visites régionales sont à venir.
D'autres échanges techniques sont à venir.
2026 n'est pas une année comme les autres. C'est l'année où CIQTEK se rapproche de la communauté américaine de la microscopie.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.
Ultra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.
Géorgie + Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et sa fonction « basse tension et haute résolution » garantit ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes d'ions facilitent une Ga + Source d'ions métalliques liquides avec faisceaux d'ions hautement stables et de haute qualité pour garantir la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour la nanoanalyse et la fabrication, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.