CIQTEK accueille le programme de formation opérationnelle avancée sur les microscopes SEM pour la GSEM KOREA
CIQTEK accueille le programme de formation opérationnelle avancée sur les microscopes SEM pour la GSEM KOREA
August 15, 2024
CIQTEK , l'un des principaux fournisseurs d'instruments scientifiques avancés, annonce la réussite d'un programme de formation complet axé sur le fonctionnement et l'application de la série de microscopes électroniques à conserve ( SEM) de pointe avec GSEM KOREA . La formation s'est déroulée au CIQTEK Application Center du 7 au 8 août et visait à améliorer l'expertise des agents en imagerie haute résolution pour diverses disciplines scientifiques, en fournissant des informations précieuses sur les caractéristiques et fonctionnalités avancées .
Le programme mettait en vedette une équipe de formateurs expérimentés et d'experts techniques du CIQTEK , qui ont guidé les participants à travers les subtilités des opérations SEM . Les participants ont acquis des connaissances sur les techniques de préparation des échantillons, l’optimisation des paramètres d’imagerie et les méthodologies d’analyse des données pour obtenir des images de haute qualité et extraire avec précision des informations précieuses des échantillons.
Le Dr Lisa, scientifique principale des applications chez CIQTEK , a exprimé son enthousiasme pour la collaboration fructueuse avec la GSEM KOREA , déclarant : « Nous sommes ravis de nous associer à la GSEM KOREA pour proposer ce programme de formation complet. Et grâce à cette formation, nous avions pour objectif d'équiper les chercheurs. avec les compétences nécessaires pour exploiter efficacement ces instruments.
CIQTEK s'engage à promouvoir les progrès scientifiques et à doter les chercheurs de technologies de pointe. En organisant des programmes de formation et en s'associant avec des entreprises leaders comme GSEM KOREA , CIQTEK continue de faciliter l'échange de connaissances et de favoriser l'innovation dans la recherche scientifique.
Analytique Schottky Microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro Le MEB-FE est un modèle analytique équipé d'un canon à électrons Schottky à émission de champ haute luminosité et longue durée de vie. Sa conception à lentille électromagnétique à trois étages offre des avantages significatifs pour les applications analytiques telles que l'EDS/EDX, l'EBSD, le WDS, etc. Ce modèle est équipé en standard d'un mode vide faible et d'un détecteur d'électrons secondaires à vide faible haute performance, ainsi que d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable, facilitant l'observation d'échantillons peu conducteurs ou non conducteurs.
Ultra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.
MEB à filament de tungstène haute performance et universel Microscope Le Microscope SEM CIQTEK SEM3200 Le SEM3200 est un excellent microscope électronique à balayage (MEB) à filament de tungstène polyvalent, doté de capacités globales exceptionnelles. Sa structure unique à double anode garantit une haute résolution et améliore le rapport signal/bruit de l'image à faibles tensions d'excitation. De plus, il offre une large gamme d'accessoires optionnels, faisant du SEM3200 un instrument d'analyse polyvalent et polyvalent.
Microscope électronique à transmission (TEM) à émission de champ 120 kV 1. Espaces de travail divisés : Les utilisateurs utilisent le TEM dans une pièce divisée avec un confort réduisant les interférences environnementales sur le TEM. 2. Efficacité opérationnelle élevée : le logiciel désigné intègre des processus hautement automatisés, permettant une interaction TEM efficace avec une surveillance en temps réel. 3. Expérience opérationnelle améliorée : Équipé d'un canon à électrons à émission de champ avec un système hautement automatisé. 4. Haute extensibilité : Il existe suffisamment d'interfaces réservées aux utilisateurs pour passer à une configuration supérieure, qui répond à diverses exigences d'application.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.