CIQTEK lance une solution de tests mécaniques in situ : une plateforme de R&D ouverte pour la recherche multi-scénarios

La recherche sur le comportement microscopique des matériaux entre dans une nouvelle ère couplage multi-scénarios et caractérisation dynamique in situ . CIQTEK a lancé une solution innovante Solution de test mécanique in situ , conçu avec une ouverture et une compatibilité exceptionnelles. Il permet une intégration transparente de la gamme complète de CIQTEK microscopes électroniques avec des dispositifs de test in situ courants, offrant une plate-forme flexible et efficace pour l'analyse couplée dans divers scénarios de recherche.

Brisant les limites des systèmes fermés, la solution intègre tous les éléments critiques nécessaires à EM in situ adaptabilité, avec :

• Courant de faisceau élevé : >100 nA, idéal pour une analyse EDS/EBSD rapide

• Grand espace : 360 × 310 × 288 mm (L × l × H)

• Capacité de charge élevée : 5 kg (jusqu'à 10 kg avec des fixations personnalisées)

• CCD multi-vues : assurer la sécurité du système pendant l'exploitation in situ

• Interfaces multiples : supportant des accessoires de bride personnalisés

• Pré-acceptation : débogage complet des accessoires avant la livraison, garantissant une fonctionnalité complète sans problèmes d'installation sur site

La solution peut être configurée sur La gamme complète de produits de microscopie électronique de CIQTEK , y compris CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Systèmes à double faisceau DB550 , et bien plus encore. Il offre également une compatibilité parfaite avec les platines de traction, les platines de chauffage, les nanoindenteurs et les stations de travail électrochimiques des principaux fournisseurs mondiaux. Cette architecture ouverte permet aux chercheurs de combiner avec souplesse les équipements les plus adaptés, optimisant ainsi les performances expérimentales.

La solution de scène in situ de CIQTEK aidé les clients à publier un papier à fort impact (DOI : 10.1126/science.adq6807).

Solution mécanique in situ de CIQTEK Il prend également en charge le couplage multi-champs (mécanique, thermique, électrochimique), permettant l'observation en temps réel à l'échelle nanométrique des matériaux dans des environnements complexes. En synchronisant l'imagerie haute résolution avec les signaux in situ, les chercheurs peuvent capturer avec précision des phénomènes critiques tels que la propagation des fissures, les transitions de phase et les réactions interfaciales.

Avec une plage de températures de -170 à 1200 °C, un contrôle de charge avancé et des systèmes de réponse rapide, il simule avec précision les conditions de service des matériaux dans divers secteurs industriels. Associé aux EBSD et EDS, il fournit des ensembles de données complets pour comprendre le comportement des matériaux sous des stimuli couplés.

Postulé avec succès dans matériaux aérospatiaux, nouveaux dispositifs énergétiques et matériaux biomédicaux , cette solution démontre la compatibilité et l'évolutivité exceptionnelles de CIQTEK dans les plates-formes de microscopie électronique avancées.