CIQTEK dévoile sa solution 4D-STEM pour la microscopie électronique avancée
CIQTEK dévoile sa solution 4D-STEM pour la microscopie électronique avancée
September 28, 2025
Microscopie électronique à transmission à balayage quadridimensionnel (4D-STEM)
La microscopie électronique est l'une des avancées les plus innovantes. En effectuant un balayage bidimensionnel de la surface de l'échantillon tout en enregistrant un diagramme de diffraction complet à chaque point de balayage grâce à un détecteur pixellisé, 4D-STEM génère un jeu de données quadridimensionnel contenant des informations en espace réel et en espace réciproque.
Cette technique s'affranchit des limites de la microscopie électronique conventionnelle, qui ne collecte généralement qu'un seul signal de diffusion. Elle capture et analyse désormais l'intégralité du spectre des interactions électron-échantillon. Grâce à 4D-STEM, les chercheurs peuvent exploiter de multiples fonctionnalités avancées au sein d'une même expérience, notamment l'imagerie virtuelle, la cartographie de l'orientation et de la contrainte des cristaux, l'analyse de la distribution des champs électrique et magnétique (contraste de phase différentiel), et même la reconstruction à résolution atomique par empilement par diffraction. Elle élargit considérablement la dimensionnalité et la profondeur de la caractérisation des matériaux, offrant ainsi un outil sans précédent pour la recherche en nanosciences et sur les matériaux.
Lors de la Conférence nationale chinoise sur la microscopie électronique 2025 (26-30 septembre, Wuhan),
CIQTEK
publie son
Solution 4D-STEM
, conçu pour briser les limites de l'imagerie traditionnelle et fournir des données avec une dimensionnalité et une puissance analytique inégalées.
Flux de travail du système
Le
Solution CIQTEK 4D-STEM
caractéristiques
haute résolution spatiale, analyse multidimensionnelle, fonctionnement à faible dose
pour minimiser les dommages du faisceau et un traitement flexible des données
, fournissant aux chercheurs des méthodes fiables et exceptionnelles pour l’analyse avancée des matériaux.
Géorgie + Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et sa fonction « basse tension et haute résolution » garantit ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes d'ions facilitent une Ga + Source d'ions métalliques liquides avec faisceaux d'ions hautement stables et de haute qualité pour garantir la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour la nanoanalyse et la fabrication, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.
Ultra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.