CIQTEK SEM rejoint les formations en microscopie électronique de Münster 2026 en Allemagne

CIQTEK est heureux d'annoncer que le Microscope électronique à balayage à filament de tungstène CIQTEK SEM3200 participera à Formations SEM à Münster 2026 , offrant aux participants une expérience pratique des instruments lors des sessions organisées à partir de Du 16 au 20 mars 2026 dans Münster, Allemagne .

Cette collaboration permet aux chercheurs, ingénieurs et utilisateurs de microscopie participant au programme de formation d'utiliser directement le système SEM3200 et d'explorer ses capacités dans des contextes analytiques réels. Pour nombre d'entre eux, ce sera l'occasion d'acquérir une expérience pratique des technologies modernes de microscopie électronique à balayage lors de l'un des programmes de formation en microscopie les plus anciens d'Europe.

À propos des formations SEM de Münster

Les formations SEM à Münster sont organisées par Akademie für Elektronenmikroskopie und Analytik gGmbH , une institution bien établie dédiée à l'enseignement de la microscopie électronique et de la microanalyse.

Depuis des décennies, l'académie organise des sessions de formation intensives couvrant des sujets tels que :

• Principes fondamentaux de la microscopie électronique à balayage

• Analyse par spectroscopie de dispersion d'énergie (EDS)

• Techniques d'imagerie électronique

• Préparation des échantillons et flux de travail pratiques

• Interprétation des données pour l'analyse des matériaux

Ces formations attirent chaque année un groupe de participants très diversifié. Parmi eux figurent des chercheurs universitaires, des ingénieurs de laboratoire, des spécialistes des matériaux industriels et du personnel de plateformes de microscopie venus de toute l'Europe et d'ailleurs.

La formation se déroule au Fachhochschulzentrum de l'Université des Sciences Appliquées de Münster Les cours combinent théorie et pratique en laboratoire. Plusieurs microscopes sont mis à disposition des participants afin qu'ils puissent acquérir une expérience opérationnelle directe.

Le programme de cours de 2026 comprend plusieurs sessions spécialisées, telles que :

• R-1 : Introduction à la microscopie électronique à balayage

• R-2 : Microscopie électronique à balayage (MEB) et microanalyse avancées

• R-3 : Techniques SEM avancées

• Formation à l'analyse EBSD

• Cours d'analyse des particules

Pendant le séances du 16 au 20 mars , le CIQTEK SEM3200 sera disponible comme l'un des instruments utilisés pour la formation et les démonstrations.

Consultez les cours ici : http://www.akademie-elektronenmikroskopie.de/uebersicht.php

Soutien à l'éducation et au partage des connaissances en microscopie électronique

Les programmes de formation comme les cours de microscopie électronique à balayage de Münster jouent un rôle important au sein de la communauté de la microscopie électronique. Ils offrent une plateforme où les chercheurs et les ingénieurs peuvent perfectionner leurs compétences pratiques et échanger avec les formateurs et les autres participants.

CIQTEK est convaincue que la formation pratique est essentielle au développement de la recherche scientifique et des capacités d'analyse. En soutenant les initiatives de formation et en fournissant des instruments pour les travaux pratiques, l'entreprise vise à aider les utilisateurs à mieux maîtriser la technologie MEB et ses applications.

Ces événements favorisent également le dialogue entre les concepteurs d'instruments et les utilisateurs finaux. Les retours d'expérience issus des formations contribuent souvent à améliorer l'ergonomie, la conception logicielle et les flux de travail analytiques.

Gamme de produits de microscopie électronique CIQTEK

Le SEM3200 fait partie du portefeuille croissant d'instruments de microscopie électronique de CIQTEK, conçus pour les laboratoires de recherche, les universités et les installations d'analyse industrielle.

CIQTEK propose une gamme de solutions de microscopie électronique à balayage, notamment :

- Série SEM à filament de tungstène

Systèmes fiables et économiques pour l'imagerie de routine et l'analyse des matériaux.

- Série de microscopes électroniques à balayage à émission de champ

Instruments à haute résolution conçus pour l'observation avancée des nanostructures et les applications de recherche exigeantes.

- SEM à faisceau d'ions focalisé (FIB-SEM)

Systèmes à double faisceau pour la préparation d'échantillons à l'échelle nanométrique, la coupe transversale et l'analyse 3D.

Perspectives pour Münster 2026

Les formations SEM de Münster 2026 réuniront à nouveau les membres de la communauté de la microscopie pour plusieurs semaines d'apprentissage intensif et d'expérience pratique. Le CIQTEK se réjouit de cette initiative. Microscope électronique à balayage SEM3200 contribuera au programme et apportera son soutien aux participants lors de leurs séances pratiques.

En collaborant avec des établissements de formation et des organismes de recherche, CIQTEK continue de soutenir le développement de l'expertise en microscopie et l'avancement des technologies de caractérisation des matériaux dans le monde entier.