CIQTEK exposera lors de la réunion annuelle SCANDEM 2026 de la Société nordique de microscopie

CIQTEK présentera ses solutions de microscopie électronique et fera une présentation lors de la session de l'entreprise.

Hefei, Chine — Du 9 au 12 juin 2026, la réunion annuelle SCANDEM 2026 de la Société nordique de microscopie se tiendra à Oulu, en Finlande. CIQTEK, fournisseur leader de solutions de mesure de précision quantique et de microscopie électronique, annonce sa participation à cet événement prestigieux. CIQTEK y présentera deux produits phares en microscopie électronique. Stand II.5 et faire une présentation lors de la session de l'entreprise afin d'échanger avec les principaux chercheurs et experts de la communauté mondiale de la microscopie.

À propos de SCANDEM 2026

SCANDEM est l'une des conférences annuelles de microscopie les plus anciennes et les plus influentes des pays nordiques. Organisée conjointement par le Centre d'analyse des matériaux du Biocentre d'Oulu et la Société nordique de microscopie, la conférence se tiendra dans le bâtiment Kieppi du Biocentre d'Oulu. Elle couvre deux grands domaines thématiques : les sciences de la vie (de l'imagerie d'organismes entiers aux techniques moléculaires) et les sciences des matériaux (métallurgie, géologie, catalyseurs, nanoparticules, etc.). Au programme : conférences plénières, présentations scientifiques, sessions d'affiches et un espace d'exposition. Environ 120 à 150 participants et une vingtaine de fournisseurs d'instruments sont attendus. Oulu, désignée Capitale européenne de la culture 2026, offre aux visiteurs du monde entier une atmosphère culturelle unique et un dynamisme exceptionnel en matière d'innovation.

Points saillants de l'exposition CIQTEK

Informations sur le stand

Le stand de CIQTEK est situé à II.5 Dans la zone d'exposition, l'équipe présentera sur place deux produits phares en microscopie électronique, et des spécialistes techniques seront disponibles pour fournir des présentations détaillées des produits et des conseils techniques.

Produits vedettes

• MEB-FEG à ultra-haute résolution SEM5000X : Le microscope électronique à balayage à émission de champ phare de CIQTEK Il est doté d'un système optique électronique avancé permettant une imagerie à ultra-haute résolution. ce qui le rend idéal pour l'analyse nanostructurale de précision en science des matériaux, en semi-conducteurs et en sciences de la vie. .
• MEB haute vitesse HEM6000 : Un poste de travail à haut débit conçu pour l'inspection de grandes surfaces et par lots Grâce à un courant de faisceau élevé exceptionnel, une stabilité remarquable et des flux de travail automatisés, il accélère considérablement la vitesse d'acquisition d'images pour le contrôle qualité industriel et la recherche avancée. .

Présentation de l'entreprise

CIQTEK présentera ses travaux à Séance 1 (Séance entreprise LS1+MS1, salle 101A) à partir d'environ 11h00 à 11h10 .

Présentateur Miles, spécialiste des solutions chez CIQTEK

Sujet « Exploiter la puissance de la solution unique de microscopie électronique à balayage haute vitesse de CIQTEK »

Cette présentation explorera les principes fondamentaux de la microscopie électronique à balayage à émission de champ (MEB-FEG) haute vitesse et révélera comment cette technologie de pointe révolutionne l'imagerie et l'analyse de données à grande échelle. Miles expliquera ce qui distingue le MEB-FEG haute vitesse de CIQTEK et mettra en lumière ses applications les plus performantes. Les participants découvriront également comment le système de microscopie haute vitesse intégré de CIQTEK combine plusieurs technologies pour offrir une véritable bande passante, garantissant un débit exceptionnel tout en préservant une résolution d'image remarquable.

Soutien de l'équipe européenne

Cette exposition est gérée par l'équipe européenne de CIQTEK (Frank, Miles, Markus et Changming), qui met à profit sa vaste expertise en instrumentation de microscopie et sa connaissance approfondie du marché local pour assurer des démonstrations de produits et un support technique professionnels et efficaces. Des brochures et des clés USB personnalisées seront mises à la disposition des visiteurs. N'hésitez pas à les demander sur notre stand.

Venez nous rendre visite

CIQTEK invite sincèrement les chercheurs, les scientifiques et les partenaires industriels de la communauté mondiale de la microscopie à visiter Stand II.5 et découvrir les dernières avancées et applications de pointe en matière de technologie de microscopie électronique.

Inscription Veuillez visiter https://ssl.eventilla.com/scandem2026 pour s'inscrire et accéder au programme détaillé de la conférence.

Nous avons hâte de vous rencontrer à Oulu, en Finlande !

Détails de la conférence