CIQTEK participera à la réunion annuelle 2026 de la GLMS dans le Michigan, aux États-Unis
CIQTEK participera à la réunion annuelle 2026 de la GLMS dans le Michigan, aux États-Unis
September 29, 2026
CIQTEK participera à la réunion annuelle 2026 de la Great Lakes Microscopy Society (GLMS) le 9 octobre 2026, à Michigan Technological University à Houghton, Michigan.
La réunion rassemble des chercheurs, des étudiants et des professionnels de la microscopie travaillant dans les domaines de la microscopie électronique, de la microanalyse, de la science des matériaux et de la recherche biologique.
Rencontrez l'équipe EM de CIQTEK aux États-Unis
Lors du GLMS 2026, CIQTEK présentera ses solutions de microscopie électronique pour un large éventail d'applications de recherche.
Notre équipe de microscopie électronique aux États-Unis sera sur place pour échanger avec les participants et discuter des applications réelles de microscopie et des besoins en matière de flux de travail.
Des responsables de solutions MEB expérimentés seront également disponibles pour répondre aux questions techniques et aider les chercheurs à explorer des solutions de microscopie adaptées à leurs laboratoires.
Date : 9 octobre 2026 Lieu : Michigan Technological University, Houghton, Michigan, USA
MEB à filament de tungstène haute performance et universel Microscope Le Microscope SEM CIQTEK SEM3200 Le SEM3200 est un excellent microscope électronique à balayage (MEB) à filament de tungstène polyvalent, doté de capacités globales exceptionnelles. Sa structure unique à double anode garantit une haute résolution et améliore le rapport signal/bruit de l'image à faibles tensions d'excitation. De plus, il offre une large gamme d'accessoires optionnels, faisant du SEM3200 un instrument d'analyse polyvalent et hautement évolutif.
Grande vitesse Émission de champ entièrement automatisée Microscope électronique à balayage Poste de travail CIQTEK HEM6000 des technologies d'installations telles que le canon à électrons à courant à faisceau large et haute luminosité, le système de déviation de faisceau d'électrons à grande vitesse, la décélération de l'étage d'échantillonnage à haute tension, l'axe optique dynamique et l'objectif combiné électromagnétique et électrostatique à immersion pour obtenir une acquisition d'image à grande vitesse tout en garantissant une résolution à l'échelle nanométrique. Le processus automatisé est conçu pour des applications telles qu'un flux de travail d'imagerie haute résolution de grande surface plus efficace et plus intelligent. Sa vitesse d'imagerie est plus de cinq fois supérieure à celle d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) classique.
Géorgie + Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et sa fonction « basse tension et haute résolution » garantit ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes d'ions facilitent une Ga + Source d'ions métalliques liquides avec faisceaux d'ions hautement stables et de haute qualité pour garantir la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour la nanoanalyse et la fabrication, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.