Découvrez les technologies phares de CIQTEK au JASIS 2025, stand 7B-407
Découvrez les technologies phares de CIQTEK au JASIS 2025, stand 7B-407
August 01, 2025
Nous sommes ravis d'annoncer que
CIQTEK
exposera à
JASIS 2025
, l'un des plus grands salons d'Asie consacrés aux instruments d'analyse et scientifiques. Nous vous invitons chaleureusement à nous rendre visite à
Stand 7B-407
pour découvrir nos dernières innovations et vous connecter avec notre équipe d'experts.
Date:
3-5 septembre 2025
Emplacement:
Makuhari Messe International Exhibition Hall, Chiba, Japon
Stand CIQTEK :
7B-407
Lors du salon de cette année, CIQTEK mettra en avant une gamme de technologies de pointe dans plusieurs catégories, notamment :
Découvrez notre culture en pleine croissance
Portefeuille de produits EPR
, y compris
EPR au sol/de paillasse, EPR à impulsions/CW
, largement utilisé en chimie, matériaux, catalyse et recherche biologique.
CIQTEK présentera également ses
Analyseurs BET
et des instruments connexes pour la caractérisation de la surface, de la taille des pores et de l'adsorption de gaz, qui sont des outils essentiels dans des domaines tels que les produits pharmaceutiques, les catalyseurs et les nanomatériaux.
Rendez-vous au stand 7B-407
Rejoignez-nous pour découvrir comment CIQTEK fait progresser l'avenir de l'instrumentation scientifique !
Ultra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.
Grande vitesse Émission de champ entièrement automatisée Microscope électronique à balayage Poste de travail CIQTEK HEM6000 des technologies d'installations telles que le canon à électrons à courant à faisceau large et haute luminosité, le système de déviation de faisceau d'électrons à grande vitesse, la décélération de l'étage d'échantillonnage à haute tension, l'axe optique dynamique et l'objectif combiné électromagnétique et électrostatique à immersion pour obtenir une acquisition d'image à grande vitesse tout en garantissant une résolution à l'échelle nanométrique. Le processus automatisé est conçu pour des applications telles qu'un flux de travail d'imagerie haute résolution de grande surface plus efficace et plus intelligent. Sa vitesse d'imagerie est plus de cinq fois supérieure à celle d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) classique.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.
Spectromètre de paillasse à résonance paramagnétique électronique ou résonance de spin électronique (RPE, RPE) en bande X Le CIQTEK EPR200M est un modèle nouvellement conçu spectromètre RPE de paillasse spécialisée dans l'analyse qualitative et quantitative de radicaux libres, ions de métaux de transition, dopage des matériaux et défauts Il s’agit d’un excellent outil de recherche pour la surveillance en temps réel des réactions chimiques, l’évaluation approfondie des propriétés des matériaux et l’exploration des mécanismes de dégradation des polluants dans les sciences de l’environnement. L'EPR200M adopte un design compact et intègre parfaitement la source micro-ondes, le champ magnétique, la sonde et le contrôleur principal, garantissant sensibilité et stabilité tout en étant compatible avec divers besoins expérimentaux. Son interface conviviale permet une prise en main rapide, même pour les débutants, rendant l'instrument EPR véritablement facile à utiliser. ★ Envoyez un e-mail à nos experts pour des solutions personnalisées, des devis ou des brochures détaillées : info@ciqtek.com
Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Ga+ Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et dispose de la fonction « basse tension et haute résolution » pour garantir ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes ioniques fournissent une source d'ions métal liquide Ga+ avec des faisceaux d'ions extrêmement stables et de haute qualité, garantissant ainsi la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour l'analyse et la fabrication de nanoparticules, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.