CIQTEK à M&M 2025 : faire progresser notre expérience en microscopie électronique en Amérique du Nord
CIQTEK à M&M 2025 : faire progresser notre expérience en microscopie électronique en Amérique du Nord
July 31, 2025
CIQTEK
conclu avec succès une semaine dynamique et enrichissante à
Microscopie et microanalyse 2025 (M&M 2025)
, l'un des événements les plus influents de la communauté mondiale de la microscopie. Il s'agit d'une nouvelle étape importante dans le développement de notre présence dans le monde.
Amérique du Nord
marché de la microscopie électronique.
Sur le stand, notre équipe a rencontré un large éventail de chercheurs et de professionnels des sciences des matériaux, des sciences de la vie et d'autres disciplines. Nous avons présenté nos dernières innovations en matière de
haute performance
microscopie électronique à balayage à émission de champ (FESEM)
, en mettant l'accent sur la vitesse d'imagerie, la résolution et la convivialité. Le vif intérêt et les retours positifs reçus sur place ont confirmé l'intérêt de nos technologies pour la communauté scientifique.
L’un des points forts de l’événement a été la forte participation de nos participants.
Tutoriel du fournisseur
, mettant en vedette
Microscopie électronique CIQTEK
expert M. Luke Ren. Sa présentation sur
FESEM à grande vitesse (
OURLET
) imagerie
Cette séance a suscité des discussions enrichissantes et une participation active du public. Nous avons été ravis de constater le vif intérêt suscité et remercions sincèrement tous ceux qui ont participé et contribué au succès de cette séance.
Nous adressons également nos plus sincères remerciements à nos fidèles
distributeur américain
JH Technologies, pour son soutien exceptionnel tout au long de l'événement. Leur professionnalisme et leur dévouement ont joué un rôle crucial en nous permettant de toucher davantage d'utilisateurs et de partenaires à l'échelle nationale. Ensemble, nous bâtissons des bases plus solides pour la croissance à long terme de CIQTEK en Amérique du Nord.
M&M 2025 n'était pas seulement un salon professionnel ; c'était une étape importante dans notre démarche visant à proposer des solutions de microscopie électronique de pointe à un plus grand nombre de scientifiques et d'institutions. Nous sommes dynamisés par les échanges et inspirés par les collaborations, et nous anticipons déjà les opportunités futures.
Nous avons hâte de vous voir à
M&M 2026 à Milwaukee !
Ultra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.
Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Ga+ Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et dispose de la fonction « basse tension et haute résolution » pour garantir ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes ioniques fournissent une source d'ions métal liquide Ga+ avec des faisceaux d'ions extrêmement stables et de haute qualité, garantissant ainsi la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour l'analyse et la fabrication de nanoparticules, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.
Grande vitesse Émission de champ entièrement automatisée Microscope électronique à balayage Poste de travail CIQTEK HEM6000 des technologies d'installations telles que le canon à électrons à courant à faisceau large et haute luminosité, le système de déviation de faisceau d'électrons à grande vitesse, la décélération de l'étage d'échantillonnage à haute tension, l'axe optique dynamique et l'objectif combiné électromagnétique et électrostatique à immersion pour obtenir une acquisition d'image à grande vitesse tout en garantissant une résolution à l'échelle nanométrique. Le processus automatisé est conçu pour des applications telles qu'un flux de travail d'imagerie haute résolution de grande surface plus efficace et plus intelligent. Sa vitesse d'imagerie est plus de cinq fois supérieure à celle d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) classique.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.