Maîtriser le micromonde : comment CIQTEK renforce les capacités des chercheurs de l’USTC grâce à une formation pratique en microscopie électronique à balayage (MEB).
Maîtriser le micromonde : comment CIQTEK renforce les capacités des chercheurs de l’USTC grâce à une formation pratique en microscopie électronique à balayage (MEB).
March 17, 2026
CIQTEK a récemment conclu un programme de formation intensif de deux jours à l'Université des sciences et technologies de Chine (USTC). En combinant théorie approfondie et pratique, notre équipe a aidé près de 60 chercheurs à passer d'une simple utilisation des microscopes électroniques à une véritable maîtrise de ces outils pour la recherche avancée sur les semi-conducteurs.
Combler le fossé entre la technologie et la découverte
Chez CIQTEK, nous sommes convaincus que la puissance des instruments scientifiques de pointe dépend de l'expertise de ceux qui les utilisent. Récemment, notre équipe Customer Success s'est rendue au Centre d'expérimentation des circuits intégrés de l'USTC. Notre mission était simple : simplifier la complexité…
Microscopie électronique à balayage (MEB)
et fournir aux chercheurs les compétences pratiques dont ils ont besoin pour repousser les limites de l'observation à micro-échelle.
Cette initiative « Le service avant tout » a réuni une soixantaine d'étudiants et de professeurs pour une exploration approfondie du monde de la microscopie de précision.
Passer de la théorie à la maîtrise
Une expérience réussie commence par une solide compréhension du « pourquoi » qui sous-tend le « comment ». La formation était structurée selon un modèle à deux volets : une théorie approfondie suivie d’une pratique intensive en groupe.
En salle de formation, Zhang Jing, notre responsable de la réussite client, a su simplifier des concepts complexes pour les rendre plus accessibles. Les sessions ont abordé tous les aspects, des principes physiques fondamentaux des faisceaux d'électrons à l'optimisation avancée des paramètres.
Plus précisément, nous nous sommes concentrés sur :
Les fondamentaux :
Comment fonctionne le SEM et ses principales applications fonctionnelles.
Optimisation:
Ajustement des paramètres clés pour obtenir les données les plus précises possibles.
Focus sur les semi-conducteurs :
Techniques de caractérisation spécifiques adaptées à la recherche sur les circuits intégrés.
En simplifiant les connaissances techniques « pointues », nous avons veillé à ce que chaque participant dispose de bases solides avant même de toucher au matériel.
Un enseignement pratique avec une touche humaine
La véritable magie opérait lors des séances pratiques. Nous savons que lire un manuel ne remplace jamais la réalisation concrète d'un scan. C'est pourquoi notre équipe s'est installée au laboratoire pour un enseignement « côte à côte ».
Au cours des ateliers en petits groupes, nous avons guidé les participants tout au long du processus :
Préparation de l'échantillon :
La première étape cruciale pour la réussite de tout examen.
Fonctionnement de la machine :
Se familiariser avec l'interface matérielle CIQTEK.
Analyse d'images :
Apprendre à interpréter ce que l'on voit.
Dépannage :
Identifier et résoudre les problèmes courants en temps réel.
Cette approche individualisée nous a permis de corriger les erreurs en temps réel et de répondre aux questions précises au fur et à mesure qu'elles se posaient. Résultat ? Un gain d'efficacité opérationnelle notable et de nombreux chercheurs satisfaits qui utilisent désormais nos instruments en toute confiance.
Un engagement complet envers votre recherche
CIQTEK
Nos racines plongent dans le monde universitaire, et nous avons à cœur de contribuer à la communauté scientifique. Notre philosophie repose sur la réussite de nos clients. Pour nous, la relation ne s'arrête pas à la livraison d'un instrument ; c'est tout simplement son point de départ.
Nous proposons un service complet pour protéger votre parcours de recherche :
Livraison sans encombre :
Préparer son équipement à fonctionner.
Entraînement approfondi :
S'assurer que votre équipe possède les compétences nécessaires pour obtenir les meilleurs résultats.
Maintenance quotidienne :
Maintenir le matériel en parfait état.
Assistance technique continue :
Nous sommes joignables par téléphone ou par courriel en cas de problème.
En fournissant ce soutien de bout en bout, CIQTEK est fière de préserver les innovations réalisées dans les laboratoires universitaires et de soutenir la prochaine génération de recherche sur les semi-conducteurs et les circuits intégrés.
Perspectives d'avenir
Bien que cette session de deux jours soit terminée, notre collaboration avec la communauté scientifique se poursuit. CIQTEK restera à l'écoute des besoins des utilisateurs et fournira le service professionnel et attentif que les scientifiques méritent. Nous souhaitons que nos microscopes électroniques soient plus que de simples outils ; nous voulons qu'ils soient des partenaires fiables sur la voie de la découverte.
Que vous exploriez le monde microscopique ou repoussiez les limites de la science des matériaux, nous sommes là pour vous accompagner.
Analytique Schottky Microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro Le MEB-FE est un modèle analytique équipé d'un canon à électrons Schottky à émission de champ haute luminosité et longue durée de vie. Sa conception à lentille électromagnétique à trois étages offre des avantages significatifs pour les applications analytiques telles que l'EDS/EDX, l'EBSD, le WDS, etc. Ce modèle est équipé en standard d'un mode vide faible et d'un détecteur d'électrons secondaires à vide faible haute performance, ainsi que d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable, facilitant l'observation d'échantillons peu conducteurs ou non conducteurs.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.