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La recherche sur le comportement microscopique des matériaux entre dans une nouvelle ère couplage multi-scénarios et caractérisation dynamique in situ . CIQTEK a lancé une solution innovante Solution de test mécanique in situ , conçu avec une ouverture et une compatibilité exceptionnelles. Il permet une intégration transparente de la gamme complète de CIQTEK microscopes électroniques avec des dispositifs de test in situ courants, offrant une plate-forme flexible et efficace pour l'analyse couplée dans divers scénarios de recherche. Brisant les limites des systèmes fermés, la solution intègre tous les éléments critiques nécessaires à EM in situ adaptabilité, avec : Courant de faisceau élevé : >100 nA, idéal pour une analyse EDS/EBSD rapide Grand espace : 360 × 310 × 288 mm (L × l × H) Capacité de charge élevée : 5 kg (jusqu'à 10 kg avec des fixations personnalisées) CCD multi-vues : assurer la sécurité du système pendant l'exploitation in situ Interfaces multiples : supportant des accessoires de bride personnalisés Pré-acceptation : débogage complet des accessoires avant la livraison, garantissant une fonctionnalité complète sans problèmes d'installation sur site La solution peut être configurée sur La gamme complète de produits de microscopie électronique de CIQTEK , y compris CIQTEK SEM3200 , SEM5000X , Systèmes à double faisceau DB550 , et bien plus encore. Il offre également une compatibilité parfaite avec les platines de traction, les platines de chauffage, les nanoindenteurs et les stations de travail électrochimiques des principaux fournisseurs mondiaux. Cette architecture ouverte permet aux chercheurs de combiner avec souplesse les équipements les plus adaptés, optimisant ainsi les performances expérimentales. La solution de scène in situ de CIQTEK aidé les clients à publier un papier à fort impact (DOI : 10.1126/science.adq6807). Solution mécanique in situ de CIQTEK Il prend également en charge le couplage multi-champs (mécanique, thermique, électrochimique), permettant l'observation en temps réel à l'échelle nanométrique des matériaux dans des environnements complexes. En synchronisant l'imagerie haute résolution avec les signaux in situ, les chercheurs peuvent capturer avec précision des phénomènes critiques tels que la propagation des fissures, les transitions de phase et les réactions interfaciales. Avec une plage de températures de -170 à 1200 °C, un contrôle de charge avancé et des systèmes de réponse rapide, il simule avec précision les conditions de service des matériaux dans divers secteurs industriels. Associé aux EBSD et EDS, il fournit des ensembles de données complets pour comprendre le comportement des matériaux sous des stimuli couplés. Postulé avec succès dans matériaux aérospatiaux, nouveaux dispositifs énergétiques et matériaux biomédicaux , cette solution démontre la compatibilité et l'évolutivité exceptionnelles de CIQTEK d

Microscopie électronique à transmission à balayage quadridimensionnel (4D-STEM) La microscopie électronique est l'une des avancées les plus innovantes. En effectuant un balayage bidimensionnel de la surface de l'échantillon tout en enregistrant un diagramme de diffraction complet à chaque point de balayage grâce à un détecteur pixellisé, 4D-STEM génère un jeu de données quadridimensionnel contenant des informations en espace réel et en espace réciproque. Cette technique s'affranchit des limites de la microscopie électronique conventionnelle, qui ne collecte généralement qu'un seul signal de diffusion. Elle capture et analyse désormais l'intégralité du spectre des interactions électron-échantillon. Grâce à 4D-STEM, les chercheurs peuvent exploiter de multiples fonctionnalités avancées au sein d'une même expérience, notamment l'imagerie virtuelle, la cartographie de l'orientation et de la contrainte des cristaux, l'analyse de la distribution des champs électrique et magnétique (contraste de phase différentiel), et même la reconstruction à résolution atomique par empilement par diffraction. Elle élargit considérablement la dimensionnalité et la profondeur de la caractérisation des matériaux, offrant ainsi un outil sans précédent pour la recherche en nanosciences et sur les matériaux. Lors de la Conférence nationale chinoise sur la microscopie électronique 2025 (26-30 septembre, Wuhan), CIQTEK publie son Solution 4D-STEM , conçu pour briser les limites de l'imagerie traditionnelle et fournir des données avec une dimensionnalité et une puissance analytique inégalées. Flux de travail du système Le Solution CIQTEK 4D-STEM caractéristiques haute résolution spatiale, analyse multidimensionnelle, fonctionnement à faible dose pour minimiser les dommages du faisceau et un traitement flexible des données , fournissant aux chercheurs des méthodes fiables et exceptionnelles pour l’analyse avancée des matériaux.

Dans les domaines de la recherche sur les performances des matériaux à haute température et de l'analyse des mécanismes de transition de phase, les méthodes traditionnelles de chauffage externe ne parviennent souvent pas à combiner un contrôle précis de la température des microrégions avec une observation en temps réel. CIQTEK , en collaboration avec le Centre Micro-Nano de l'Université des Sciences et Technologies de Chine, a développé une solution innovante solution de puce chauffante in situ En intégrant des puces chauffantes MEMS à des microscopes électroniques à double faisceau, cette solution permet un contrôle précis de la température (de la température ambiante à 1100°C) et une analyse microdynamique des échantillons, offrant un nouvel outil pour étudier le comportement des matériaux dans des environnements à haute température. Cette solution utilise le MEB à double faisceau CIQTEK et puces de chauffage MEMS spécialisées , avec une précision de contrôle de température supérieure à 0,1 °C et une résolution de température supérieure à 0,1 °C. Le système présente également une excellente uniformité de température et un faible rayonnement infrarouge, garantissant une analyse stable à haute température. Il prend en charge diverses techniques de caractérisation pendant le chauffage, notamment l'observation de la morphologie des microrégions, l'analyse de l'orientation cristalline par EBSD et l'analyse de la composition par EDS. Cela permet une compréhension complète des transitions de phase, de l'évolution des contraintes et de la migration de la composition sous l'effet des effets thermiques. Le système fonctionne sans rompre le vide, répondant ainsi à toutes les exigences du processus de préparation et de caractérisation des échantillons (EBSD de micro-région in situ). Le flux de travail intégré couvre l'ensemble du processus, de la préparation des échantillons (traitement par faisceau ionique, extraction par nanomanipulateur) aux essais de soudage et de chauffage in situ. Le système prend en charge les opérations multi-angles, avec une puce chauffante à 45° et une grille en cuivre positionnée à 36°, répondant ainsi aux exigences expérimentales complexes. Le système a été appliqué avec succès dans la recherche sur les performances à haute température des alliages, des céramiques et des semi-conducteurs, aidant les utilisateurs à acquérir des connaissances plus approfondies sur les réponses des matériaux dans des environnements réels. 26-30 septembre, Wuhan | Conférence nationale chinoise 2025 sur la microscopie électronique Les huit principales solutions de microscopie électronique de CIQTEK seront présentées !

CIQTEK a présenté sa nouvelle génération Plaquette de 12 pouces microscope électronique à balayage (MEB) solution Conçue pour répondre aux exigences des procédés de fabrication avancés de semi-conducteurs, cette solution innovante permet une inspection complète de la plaquette sans rotation ni inclinaison et garantit une analyse non destructive haute résolution pour soutenir le développement des procédés critiques. Equipé d'un scène de voyage ultra-large (X/Y ≥ 300 mm), le système assure une couverture complète des plaquettes de 12 pouces, éliminant ainsi le besoin de découpe ou de transfert d'échantillons. Ceci garantit une observation fidèle de la taille et de la position d'origine. Avec un Canon à électrons à émission de champ Schottky , il atteint une résolution de 1,0 nm à 15 kV et 1,5 nm à 1 kV, minimisant les dommages causés par le faisceau d'électrons, ce qui le rend idéal pour les matériaux et structures sensibles. Caractéristiques principales inclure: Scène de voyage ultra-large (X/Y > 300 mm) pour l'inspection complète des plaquettes Imagerie haute résolution : 1,0 nm à 15 kV et 1,5 nm à 1 kV Chargement automatisé et système de navigation optique pour un échange rapide des plaquettes et un positionnement précis Logiciel intelligent pour la mise au point automatique, la correction de l'astigmatisme et la sortie d'image multiformat Le microscope électronique à balayage (MEB) d'inspection de plaquettes de 12 pouces de CIQTEK est plus qu'un simple outil d'observation ; c'est un instrument essentiel permettant d'obtenir des rendements plus élevés et des nœuds plus petits dans la fabrication de semi-conducteurs. 26-30 septembre, Wuhan CIQTEK dévoilera huit solutions de microscopie électronique de pointe au Conférence nationale chinoise sur la microscopie électronique 2025 !

Dans les domaines des sciences de la vie, de la biomédecine, de l'inspection alimentaire et de la recherche sur la matière molle, l'imagerie haute résolution d'échantillons hydratés et sensibles aux faisceaux a toujours constitué un défi majeur. Les méthodes conventionnelles de préparation des échantillons, telles que la fixation chimique, la déshydratation et le séchage, entraînent souvent des rétrécissements, des déformations ou des dommages structurels, ce qui conduit à des résultats déviants de l'état réel de l'échantillon. Tirant parti de ses avancées microscopie électronique à balayage technologie, CIQTEK a introduit le Solution Cryo-SEM , qui intègre la congélation à basse température et le transfert sous vide. Cela permet une observation microscopique in situ, non destructive et haute fidélité d'échantillons biologiques et sensibles, « figant » véritablement les détails microscopiques de la vie. Grâce à la technologie de congélation rapide par barbotine d'azote liquide, les échantillons peuvent être vitrifiés instantanément à -210 °C, préservant ainsi au maximum leur morphologie et leur composition chimique d'origine. Le système de cryopréparation intégré combine la cryofracture, le revêtement par sublimation et le transfert à basse température, évitant ainsi la complexité et les erreurs potentielles d'une préparation manuelle classique. Tout au long du processus, les échantillons sont maintenus sous vide cryogénique et transférés vers la cryo-étage du MEB, où l'imagerie haute résolution à -180 °C supprime efficacement les dommages causés par le faisceau d'électrons et améliore significativement la qualité de l'image. Feuille de buis cryopréparée montrant des structures nervurées intactes , tandis que l'échantillon non traité présente un retrait important. Yaourt Moule Un échantillon de yaourt préparé par cryogénisation révèle clairement des réseaux de protéines et des hyphes fongiques. De plus, le système offre une forte compatibilité, adaptable à tous les environnements. La gamme complète de SEM de CIQTEK et systèmes FIBSEM à double faisceau , répondant à des besoins divers allant de l'observation de routine à l'analyse avancée. Le Solution CIQTEK Cryo-SEM Plus qu'un simple ensemble d'instruments, il incarne une approche scientifique visant à restituer fidèlement le monde microscopique. Il permet aux chercheurs de surmonter les limites techniques, de capturer des détails essentiels à l'échelle microscopique du vivant et de propulser la recherche fondamentale et le développement appliqué vers de nouveaux sommets. 26-30 septembre, Wuhan Au Conférence académique chinoise sur la microscopie électronique 2025 , CIQTEK dévoilera huit solutions EM de pointe . Restez à l'écoute!

CIQTEK a le plaisir d'annoncer l'installation et la formation réussies du FIBSEM DB550 à notre distributeur coréen Centre de microscope électronique de la GSEM Cette étape importante marque une étape importante dans l’élargissement de l’accès aux technologies de pointe. technologie de microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIBSEM) en Corée du Sud. Le DB550 associe imagerie haute résolution et usinage précis par faisceau d'ions, permettant aux chercheurs de réaliser des reconstructions 3D, des analyses transversales et des modifications de matériaux à l'échelle nanométrique avec efficacité et précision. Grâce à ces capacités, le système ouvre de nouvelles perspectives pour l'analyse des semi-conducteurs, la science des matériaux et la recherche en sciences de la vie. Après l'installation, les ingénieurs du CIQTEK ont dispensé une formation pratique à l'équipe du GSEM, couvrant à la fois les flux de travail standards et les applications avancées. Les sessions interactives ont permis aux utilisateurs d'acquérir une expérience pratique de l'utilisation de l'instrument, de la préparation des échantillons à l'imagerie haute résolution et à l'analyse des données. L'enthousiasme et l'engagement de l'équipe du GSEM ont mis en évidence le fort potentiel du DB550 pour soutenir divers projets de recherche au sein du centre. Cette collaboration témoigne de l'engagement de CIQTEK à collaborer étroitement avec ses partenaires du monde entier. En équipant les installations de la GSEM du DB550, nous renforçons non seulement notre présence sur le marché coréen, mais aidons également les chercheurs locaux à accéder à des outils de pointe pour l'innovation scientifique. Nous sommes impatients de voir les résultats passionnants que le Centre de microscope électronique du GSEM obtiendra avec le DB550, et nous restons déterminés à fournir un soutien technique et une collaboration continus.

En juin 2025, CIQTEK livré avec succès deux avancées microscopes électroniques à balayage à son distributeur américain , JH Technologies, à Fremont, en Californie. Les systèmes incluent SEM3300 Filament de tungstène SEM et le SEM5000X MEB à émission de champ ultra-haute résolution , marquant une étape importante dans l'expansion stratégique de CIQTEK dans le Marché nord-américain de la microscopie électronique . Pour accompagner le déploiement, l'équipe d'ingénierie de CIQTEK a dispensé une formation complète sur site à l'équipe de JH Technologies. Celle-ci comprenait un fonctionnement détaillé du système, des démonstrations d'applications et des discussions techniques adaptées à des cas d'utilisation réels. Cette collaboration a renforcé les capacités de l'équipe de JH à présenter et à soutenir les instruments CIQTEK. Suite à la livraison, JH Technologies a organisé une Journée portes ouvertes Dans ses locaux de Fremont, des démonstrations en direct des deux systèmes ont été proposées. L'événement a attiré une forte participation de professionnels du monde universitaire et industriel, suscitant un vif intérêt et des retours positifs. Fort de ce succès, JH Technologies prévoit d'organiser prochainement d'autres journées portes ouvertes afin de promouvoir davantage les solutions d'imagerie avancées de CIQTEK. Technologie d'imagerie éprouvée pour les applications exigeantes Le SEM3300 Combinant une source à filament de tungstène traditionnelle et une optique moderne, il offre des performances haute résolution à faibles tensions d'accélération. Il offre une solution puissante et accessible pour l'analyse et la recherche de routine. Le SEM5000X Offre une imagerie ultra-haute résolution et des fonctionnalités d'automatisation avancées, ce qui le rend idéal pour la science des matériaux, l'inspection des semi-conducteurs et la recherche en nanotechnologie. Les deux systèmes offrent des interfaces utilisateur intuitives et des options de configuration flexibles pour répondre aux besoins variés des applications. Regard vers l'avenir La collaboration de CIQTEK avec JH Technologies reflète une vision commune : fournir des instruments SEM de classe mondiale, s'appuyant sur une solide expertise locale. En alliant performance, convivialité et accessibilité, CIQTEK gagne rapidement en popularité auprès des utilisateurs américains des secteurs de la recherche, de la fabrication et de l'enseignement. Aleks Zhang, directeur adjoint du groupe d'activités internationales de CIQTEK, a déclaré : « Nous sommes fiers de voir nos instruments SEM entre les mains d'un partenaire aussi professionnel et compétent. Le marché américain est en pleine expansion et nous nous engageons à renforcer notre soutien à nos clients locaux grâce à une étroite collaboration avec des distributeurs comme JH Technologies. »

Le 20 juin 2025, des représentants de la Société des technologies d'essais physiques et chimiques de Pékin ont visité le CIQTEK. Un séminaire spécial sur « l'innovation et l'application de la technologie de spectroscopie par résonance magnétique » a été organisé, ainsi que des tests et comparaisons de données de résonance magnétique nucléaire (RMN) sur site. Société de technologie des tests physiques et chimiques de Pékin L'Association des Instituts de Recherche et de Développement (AID) a été fondée en 1980. Cette association universitaire a été créée volontairement par des experts du secteur des tests analytiques de la région de Pékin. Son objectif est de fédérer et d'organiser les professionnels du secteur des tests analytiques à Pékin, afin de promouvoir le développement de ces technologies. Elle compte actuellement plus de 1 000 membres. CIQTEK a lancé un spectromètre RMN et a impressionné les experts invités par ses performances sur site Lors de la Conférence de spectroscopie de Pékin qui s'est tenue du 23 au 25 mai 2025, Le président de CIQTEK, le Dr Max He, a officiellement annoncé les nouveaux produits — les 400 MHz et 600 MHz spectromètres RMN . Bien que la présentation du Dr Max ne comportait que quelques diapositives sur Instruments RMN CIQTEK , cela a suscité un intérêt considérable au sein de la Beijing Physical & Chemistry Testing Technology Society. L'émergence de CIQTEK comme fabricant de spectromètres RMN à haut champ a été accueillie avec surprise et enthousiasme. L'annonce a rapidement suscité de vives discussions, de nombreux experts exprimant un vif désir de visiter CIQTEK pour examiner en profondeur les instruments. En réponse, CIQTEK a adressé une invitation officielle aux membres de la Beijing Physical & Chemistry Testing Technology Society, y compris les membres du comité et les experts concernés, pour visiter l'entreprise pendant une évaluation sur site de leurs recherches en RMN Il s’agissait de la première visite officielle d’une délégation de la Société en dehors de Pékin. Photo de groupe de la délégation de la Beijing Physical & Chemistry Testing Technology Society et de l'équipe CIQTEK Analyse comparative sur site : performances des données, vitesse d'analyse et quantité Au cours de cette visite d'une journée, les participants ont pu participer à des discussions approfondies et à des collectes de données pratiques. L'interaction a été très productive, les deux parties ayant approfondi les détails techniques et les perspectives d'application. De nombreuses questions et suggestions ont été soulevées, rendant la session à la fois interactive et constructive. Données spectrales fiables La fiabilité des données spectrales est le critère principal d'évaluation des performances d'un spectromètre RMN. Par conséquent, la sensibilité, l'efficacité des tests et la qualité spectrale ont été des points clés lors de cette évaluation sur site. Au cours de la séance de tests comparatifs, deux échantillons standards ont été préparé...