FESEM ultra-haute résolution | SEM5000X

Mise à niveau de l'objectif

L'aberration chromatique de l'objectif a été réduite de 12 %, l'aberration sphérique de l'objectif a été réduite de 20 % et l'aberration globale a été réduite de 30 %.

Technologie de décélération à double faisceau

Décélération du faisceau dans la lentille, applicable aux échantillons de grands volumes, sections transversales et surfaces irrégulières. La technologie de double décélération (décélération du faisceau dans la lentille + décélération du faisceau en tandem sur la platine de l'échantillon) repousse les limites de la capture du signal de surface de l'échantillon.

Le logiciel de microscope SEM CIQTEK utilise divers algorithmes de détection et de segmentation de cibles, adaptés à différents types d'échantillons de particules et de pores. Il permet une analyse quantitative des statistiques des particules et des pores et peut être appliqué dans des domaines tels que la science des matériaux, la géologie et les sciences de l'environnement.

Effectuez un post-traitement d'images en ligne ou hors ligne sur des images capturées par des microscopes électroniques et intégrez des fonctions de traitement d'images EM couramment utilisées, des mesures pratiques et des outils d'annotation.

Reconnaissance automatique des contours de largeur de ligne, pour des mesures plus précises et une meilleure cohérence. Prise en charge de plusieurs modes de détection de contours, tels que Ligne, Espace, Pas, etc. Compatible avec de nombreux formats d'image et doté de diverses fonctions de post-traitement d'image courantes. Le logiciel est simple d'utilisation, efficace et précis.

Fournit un ensemble d'interfaces pour le contrôle du microscope MEB, incluant l'acquisition d'images, les réglages des conditions de fonctionnement, la mise sous/hors tension, le contrôle de la platine, etc. Des définitions d'interface concises permettent le développement rapide de scripts et de logiciels spécifiques au microscope électronique, permettant le suivi automatisé des zones d'intérêt, l'acquisition de données pour l'automatisation industrielle, la correction de la dérive d'image, etc. Peut être utilisé pour le développement logiciel dans des domaines spécialisés tels que l'analyse des diatomées, l'inspection des impuretés de l'acier, l'analyse de la propreté, le contrôle des matières premières, etc.