CIQTEK et Beyond Nano exposeront conjointement à l'IMRC 2025 au Mexique
CIQTEK et Beyond Nano exposeront conjointement à l'IMRC 2025 au Mexique
July 29, 2025
CIQTEK est fier d'annoncer notre exposition conjointe avec
notre
partenaire mexicain
, Au-delà de Nano, lors du prochain
Congrès international de recherche sur les matériaux (IMRC) 2025
, se déroulant à partir de
Du 17 au 21 août
dans
Cancún
, Mexique
.
Événement international majeur dans le domaine des sciences des matériaux, l'IMRC rassemble des chercheurs et des innovateurs de premier plan du monde entier. CIQTEK et Beyond Nano co-organiseront l'événement.
Stand 15 (étage 1)
présenter une gamme d’instruments scientifiques avancés qui soutiennent la caractérisation des matériaux et facilitent les avancées de la recherche.
En exposition sur le stand :
Série CIQTEK SEM
:Imagerie haute résolution avec polyvalence analytique pour l'analyse des nanostructures et des surfaces.
CIQTEK
Spectromètre RMN
:Spectromètres RMN intelligents à l'état liquide de nouvelle génération pour l'identification de la structure moléculaire.
Analyseurs de surface et de porosité BET
: Des solutions fiables pour caractériser les matériaux poreux, les catalyseurs et les électrodes de batterie.
Cette collaboration reflète la présence croissante de CIQTEK dans
l'Amérique latine
et notre engagement commun avec Beyond Nano pour fournir des outils de recherche de pointe aux institutions et laboratoires locaux.
Nous invitons chaleureusement les chercheurs, les partenaires et les participants à nous rendre visite sur le stand et à découvrir comment les solutions CIQTEK favorisent l'innovation dans la science des matériaux !
Ultra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.
Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Ga+ Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et dispose de la fonction « basse tension et haute résolution » pour garantir ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes ioniques fournissent une source d'ions métal liquide Ga+ avec des faisceaux d'ions extrêmement stables et de haute qualité, garantissant ainsi la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour l'analyse et la fabrication de nanoparticules, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.
Grande vitesse Émission de champ entièrement automatisée Microscope électronique à balayage Poste de travail CIQTEK HEM6000 des technologies d'installations telles que le canon à électrons à courant à faisceau large et haute luminosité, le système de déviation de faisceau d'électrons à grande vitesse, la décélération de l'étage d'échantillonnage à haute tension, l'axe optique dynamique et l'objectif combiné électromagnétique et électrostatique à immersion pour obtenir une acquisition d'image à grande vitesse tout en garantissant une résolution à l'échelle nanométrique. Le processus automatisé est conçu pour des applications telles qu'un flux de travail d'imagerie haute résolution de grande surface plus efficace et plus intelligent. Sa vitesse d'imagerie est plus de cinq fois supérieure à celle d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) classique.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.