CIQTEK lance une solution de puce chauffante in situ pour une analyse de haute précision

Dans les domaines de la recherche sur les performances des matériaux à haute température et de l'analyse des mécanismes de transition de phase, les méthodes traditionnelles de chauffage externe ne parviennent souvent pas à combiner un contrôle précis de la température des microrégions avec une observation en temps réel.

CIQTEK , en collaboration avec le Centre Micro-Nano de l'Université des Sciences et Technologies de Chine, a développé une solution innovante solution de puce chauffante in situ En intégrant des puces chauffantes MEMS à des microscopes électroniques à double faisceau, cette solution permet un contrôle précis de la température (de la température ambiante à 1100°C) et une analyse microdynamique des échantillons, offrant un nouvel outil pour étudier le comportement des matériaux dans des environnements à haute température.

Cette solution utilise le MEB à double faisceau CIQTEK et puces de chauffage MEMS spécialisées , avec une précision de contrôle de température supérieure à 0,1 °C et une résolution de température supérieure à 0,1 °C. Le système présente également une excellente uniformité de température et un faible rayonnement infrarouge, garantissant une analyse stable à haute température. Il prend en charge diverses techniques de caractérisation pendant le chauffage, notamment l'observation de la morphologie des microrégions, l'analyse de l'orientation cristalline par EBSD et l'analyse de la composition par EDS. Cela permet une compréhension complète des transitions de phase, de l'évolution des contraintes et de la migration de la composition sous l'effet des effets thermiques.

Le système fonctionne sans rompre le vide, répondant ainsi à toutes les exigences du processus de préparation et de caractérisation des échantillons (EBSD de micro-région in situ).

Le flux de travail intégré couvre l'ensemble du processus, de la préparation des échantillons (traitement par faisceau ionique, extraction par nanomanipulateur) aux essais de soudage et de chauffage in situ. Le système prend en charge les opérations multi-angles, avec une puce chauffante à 45° et une grille en cuivre positionnée à 36°, répondant ainsi aux exigences expérimentales complexes. Le système a été appliqué avec succès dans la recherche sur les performances à haute température des alliages, des céramiques et des semi-conducteurs, aidant les utilisateurs à acquérir des connaissances plus approfondies sur les réponses des matériaux dans des environnements réels.

26-30 septembre, Wuhan | Conférence nationale chinoise 2025 sur la microscopie électronique
Les huit principales solutions de microscopie électronique de CIQTEK seront présentées !