CIQTEK présente ses solutions de microscopie électronique au congrès The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, aux États-Unis.
CIQTEK présente ses solutions de microscopie électronique au congrès The Minerals, Metals & Materials Society (TMS) 2026, aux États-Unis.
March 18, 2026
CIQTEK
ont participé à
Réunion et exposition annuelles de la TMS 2026
, qui s'est tenu du 15 au 19 mars 2026 à San Diego, en Californie, aux États-Unis. Notre équipe américaine et notre partenaire de distribution local ont accueilli les visiteurs à
Stand n° 307
, où nous avons présenté nos dernières nouveautés
solutions de microscopie électronique
pour les applications en science des matériaux.
À propos de TMS 2026
Organisé par
La Société des minéraux, des métaux et des matériaux (TMS)
Cette réunion annuelle est un événement incontournable pour la communauté mondiale des sciences des matériaux. Elle rassemble des chercheurs, des ingénieurs et des professionnels de l'industrie travaillant dans des domaines tels que la métallurgie, les matériaux avancés, la fabrication additive et les technologies de caractérisation.
Cet événement offre une plateforme solide pour échanger des idées, découvrir de nouvelles technologies et discuter des défis concrets liés à la recherche et à la production de matériaux.
Solutions SEM sur mesure pour la recherche sur les matériaux
CIQTEK a présenté des solutions de microscopie électronique conçues pour prendre en charge un large éventail d'applications en science des matériaux.
Nos systèmes sont parfaitement adaptés pour :
Analyse de la microstructure des métaux et alliages
Analyse des défaillances et investigation des défauts
Caractérisation des poudres et des particules
Recherche sur la fabrication additive et les nouveaux matériaux
De nombreux visiteurs se sont montrés particulièrement intéressés par la capacité des systèmes CIQTEK à offrir des performances d'imagerie stables tout en restant faciles à utiliser. Pour les laboratoires qui recherchent un équilibre entre performance, facilité d'utilisation et budget, cette combinaison est essentielle.
Nous avons également mené des discussions approfondies avec les utilisateurs concernant leurs difficultés quotidiennes, telles que l'amélioration de l'efficacité de l'imagerie, la simplification des flux de travail et la gestion d'échantillons complexes. Ces échanges nous permettent de mieux adapter nos solutions aux besoins réels des applications.
Forte présence et soutien locaux aux États-Unis
La participation au salon TMS 2026 s'inscrit dans la stratégie plus large de CIQTEK visant à développer son activité de microscopie électronique sur le marché américain.
Nous proposons :
UN
centre de démonstration basé aux États-Unis
pour une évaluation pratique
Assistance technique et applicative locale aux États-Unis
Réponse plus rapide pour le service et la formation
Nous continuons d'investir dans les équipes locales, les infrastructures et les partenariats afin de mieux accompagner les chercheurs et les utilisateurs industriels. En combinant une technologie de pointe à un service de proximité, CIQTEK vise à rendre la microscopie électronique de haute qualité plus accessible en Amérique du Nord.
Géorgie + Microscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et sa fonction « basse tension et haute résolution » garantit ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes d'ions facilitent une Ga + Source d'ions métalliques liquides avec faisceaux d'ions hautement stables et de haute qualité pour garantir la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour la nanoanalyse et la fabrication, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.
Ultra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.
Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.