CIQTEK to Showcase Advanced SEM Technology and U.S. Local Support at SEMS 2026

Stable, polyvalent, flexible et efficace Le CIQTEK SEM4000X est stable, polyvalent, flexible et efficace microscope électronique à balayage à émission de champ (MEB-FEG) Il atteint une résolution de 1,8 nm à 1,0 kV et relève aisément les défis de l'imagerie haute résolution pour divers types d'échantillons. Il peut être équipé d'un mode de décélération ultra-rapide du faisceau pour améliorer encore la résolution à basse tension. Le microscope utilise une technologie multidétecteur, avec un détecteur d'électrons intégré à la colonne (UD) capable de détecter les signaux SE et BSE tout en offrant une haute résolution. Le détecteur d'électrons monté sur la chambre (LD) intègre un scintillateur à cristal et des tubes photomultiplicateurs, offrant une sensibilité et une efficacité accrues, pour des images stéréoscopiques d'excellente qualité. L'interface utilisateur graphique est intuitive et propose des fonctions automatisées telles que le réglage automatique de la luminosité et du contraste, la mise au point automatique, le stigmateur automatique et l'alignement automatique, permettant une acquisition rapide d'images à ultra-haute résolution.

Microscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.

Ultra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.