SEM5000 en nanoalumine - Applications de microscopie électronique à balayage (MEB)
Qu’est-ce que la nano-alumine ?
La nano-alumine est largement utilisée dans divers domaines tels que les matériaux céramiques, les matériaux composites, l'aérospatiale, la protection de l'environnement, les catalyseurs et leurs supports en raison de sa résistance élevée, de sa dureté, de sa résistance à l'usure, de sa résistance à la chaleur et de sa grande surface spécifique [1]. Cela a conduit à l’amélioration continue de sa technologie de développement. Actuellement, les scientifiques ont préparé des nanomatériaux d'alumine dans diverses morphologies allant d'unidimensionnelle à tridimensionnelle, notamment sphérique, en feuille hexagonale, cubique, en tige, fibreuse, en maille, en fleur, bouclée et bien d'autres morphologies [2].
Microscopie électronique à balayage de nanoparticules d'alumine
Il existe de nombreuses méthodes de préparation de nano alumine, qui peuvent être divisées en trois grandes catégories selon les différentes méthodes de réaction :
Méthodes en phase solide, en phase gazeuse et en phase liquide [3]. Afin de vérifier que les résultats des nanopoudres d'alumine préparées sont conformes aux attentes, il est nécessaire de caractériser la structure de l'alumine sous chaque processus, et la plus intuitive des nombreuses méthodes de caractérisation est la méthode d'observation microscopique.
Le microscope électronique à balayage, en tant qu'équipement de caractérisation microscopique conventionnel, présente les avantages d'un grand grossissement, d'une haute résolution, d'une grande profondeur de champ, d'une imagerie claire et d'un fort sens stéréoscopique, qui est l'équipement préféré pour caractériser la structure de la nano-alumine.
La figure suivante montre la poudre d'alumine préparée selon différents processus observés à l'aide du microscope électronique à balayage à émission de champ CIQTEK SEM5000, qui contient des nanopoudres d'alumine sous forme de cubes, de flocons et de bâtonnets, et avec des tailles de particules allant de dizaines à centaines de nanomètres.
Microscope électronique à balayage à émission de champ CIQTEK SEM5000
SEM5000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ haute résolution et riche en fonctionnalités, avec une conception de barillet avancée, une décélération dans le baril et une conception d'objectif magnétique sans fuite à faible aberration, pour obtenir une imagerie haute résolution basse tension, qui peut être appliquée aux échantillons magnétiques. SEM5000 dispose d'une navigation optique, de fonctions automatiques parfaites, d'une interaction homme-machine bien conçue et d'un fonctionnement et d'un processus d'utilisation optimisés. Que l'opérateur possède ou non une vaste expérience, il peut rapidement se lancer dans la tâche de photographie haute résolution.
Type de pistolet à électrons : canon à électrons à émission de champ Schottky à haute luminosité
Résolution : 1 nm à 15 kV
1,5 nm à 1 kV
Grossissement : 1 ~ 2500000x
Tension d'accélération : 20 V ~ 30 kV
Table d'échantillons : table d'échantillons automatique à cinq axes
Les références.
[1] Wu ZF. Etude sur la relation entre la morphologie et les propriétés des nanoparticules d'alumine[J]. Journal des cristaux artificiels, 2020,49(02):353-357. est ce que je:10.16553/j.cnki.issn1000-985x.2020.02.024.
[2] Nie Duofa. Une brève discussion sur la préparation de la nanoalumine et ses applications de développement [J]. Industrie chimique du Shandong, 2020,49(09):91+94.DOI:10.19319/j.cnki.issn.1008-021x.2020.09.033.
[3] Jia Kunlun, Liu Shi Kai, Zhou Shuhui, Chen Yingxin. Progrès dans la préparation et l’application de la poudre de nano-alumine[J]. Céramiques de Chine, 2020,56(03):8-12. est ce que je:10.16521/j.cnki.issn.1001-9642.2020.03.002.
CIQTEK SEM5000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ doté d'une capacité d'imagerie et d'analyse haute résolution, soutenu par de nombreuses fonctions, bénéficiant d'une conception avancée de colonne d'optique électronique, avec une technologie de tunnel de faisceau d'électrons à haute pression (SuperTunnel), une faible aberration et une non-immersion. lentille d'objectif, permet d'obtenir une imagerie haute résolution basse tension, l'échantillon magnétique peut également être analysé. Grâce à la navigation optique, aux fonctionnalités automatisées, à l'interface utilisateur d'interaction homme-machine soigneusement conçue et au processus de fonctionnement et d'utilisation optimisé, que vous soyez un expert ou non, vous pouvez rapidement démarrer et terminer un travail d'imagerie et d'analyse haute résolution.
Apprendre encore plusCIQTEK SEM5000 est un microscope électronique à balayage à émission de champ doté d'une capacité d'imagerie et d'analyse haute résolution, soutenu par de nombreuses fonctions, bénéficiant d'une conception avancée de colonne d'optique électronique, avec une technologie de tunnel de faisceau d'électrons à haute pression (SuperTunnel), une faible aberration et une non-immersion. lentille d'objectif, permet d'obtenir une imagerie haute résolution basse tension, l'échantillon magnétique peut également être analysé. Grâce à la navigation optique, aux fonctionnalités automatisées, à l'interface utilisateur d'interaction homme-machine soigneusement conçue et au processus de fonctionnement et d'utilisation optimisé, que vous soyez un expert ou non, vous pouvez rapidement démarrer et terminer un travail d'imagerie et d'analyse haute résolution.
Apprendre encore plusStable, polyvalent, flexible et efficace Le CIQTEK SEM4000X est une solution stable, polyvalente, flexible et efficace microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) Il atteint une résolution de 1,9 nm à 1,0 kV et relève facilement les défis de l'imagerie haute résolution pour divers types d'échantillons. Il peut être mis à niveau avec un mode de décélération ultra-faible pour améliorer encore la résolution basse tension. Le microscope utilise la technologie multidétecteur, avec un détecteur d'électrons en colonne (UD) capable de détecter les signaux SE et BSE tout en offrant des performances haute résolution. Le détecteur d'électrons monté sur la chambre (LD) intègre un scintillateur à cristal et des tubes photomultiplicateurs, offrant une sensibilité et une efficacité accrues, permettant d'obtenir des images stéréoscopiques d'excellente qualité. L'interface utilisateur graphique est conviviale et propose des fonctions d'automatisation telles que la luminosité et le contraste automatiques, la mise au point automatique, le stigmateur automatique et l'alignement automatique, permettant une capture rapide d'images ultra-haute résolution.
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Apprendre encore plusMEB à filament de tungstène haute performance et universel Microscope Le Microscope SEM CIQTEK SEM3200 Le SEM3200 est un excellent microscope électronique à balayage (MEB) à filament de tungstène polyvalent, doté de capacités globales exceptionnelles. Sa structure unique à double anode garantit une haute résolution et améliore le rapport signal/bruit de l'image à faibles tensions d'excitation. De plus, il offre une large gamme d'accessoires optionnels, faisant du SEM3200 un instrument d'analyse polyvalent et polyvalent.
Apprendre encore plusMicroscopie électronique à balayage à émission de champ à ultra-haute résolution (FESEM) Le CIQTEK SEM5000X Il s'agit d'un microscope électronique à fluorescence à ultra-haute résolution (FESEM) doté d'une conception optimisée de la colonne optique électronique, réduisant les aberrations globales de 30 %, pour une résolution ultra-élevée de 0,6 nm à 15 kV et 1,0 nm à 1 kV. Sa haute résolution et sa stabilité en font un outil précieux pour la recherche sur les matériaux nanostructuraux avancés, ainsi que pour le développement et la fabrication de puces semi-conductrices de haute technologie.
Apprendre encore plusAnalytique Schottky Microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro Le MEB-FE est un modèle analytique équipé d'un canon à électrons Schottky à émission de champ haute luminosité et longue durée de vie. Sa conception à lentille électromagnétique à trois étages offre des avantages significatifs pour les applications analytiques telles que l'EDS/EDX, l'EBSD, le WDS, etc. Ce modèle est équipé en standard d'un mode vide faible et d'un détecteur d'électrons secondaires à vide faible haute performance, ainsi que d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés rétractable, facilitant l'observation d'échantillons peu conducteurs ou non conducteurs.
Apprendre encore plusHaute résolution sous faible excitation Le CIQTEK SEM5000Pro est un Schottky haute résolution microscope électronique à balayage à émission de champ (FE-SEM) Spécialisé dans la haute résolution, même sous faible tension d'excitation. L'utilisation d'une technologie optique électronique avancée « Super-Tunnel » permet un trajet de faisceau sans croisement et une conception de lentille composite électrostatique-électromagnétique. Ces avancées réduisent l'effet de charge spatiale, minimisent les aberrations de l'objectif, améliorent la résolution d'imagerie à basse tension et atteignent une résolution de 1,2 nm à 1 kV, ce qui permet l'observation directe d'échantillons non conducteurs ou semi-conducteurs, réduisant ainsi efficacement les dommages causés par l'irradiation des échantillons.
Apprendre encore plusGrande vitesse Émission de champ entièrement automatisée Microscope électronique à balayage Poste de travail CIQTEK HEM6000 des technologies d'installations telles que le canon à électrons à courant à faisceau large et haute luminosité, le système de déviation de faisceau d'électrons à grande vitesse, la décélération de l'étage d'échantillonnage à haute tension, l'axe optique dynamique et l'objectif combiné électromagnétique et électrostatique à immersion pour obtenir une acquisition d'image à grande vitesse tout en garantissant une résolution à l'échelle nanométrique. Le processus automatisé est conçu pour des applications telles qu'un flux de travail d'imagerie haute résolution de grande surface plus efficace et plus intelligent. Sa vitesse d'imagerie est plus de cinq fois supérieure à celle d'un microscope électronique à balayage à émission de champ (FESEM) classique.
Apprendre encore plusUltra haute résolution Microscope électronique à balayage à filament de tungstène Le CIQTEK SEM3300 Microscope électronique à balayage (MEB) Il intègre des technologies telles que l'optique électronique « Super-Tunnel », les détecteurs d'électrons intégrés à la lentille et les objectifs composés électrostatiques et électromagnétiques. En appliquant ces technologies au microscope à filament de tungstène, la limite de résolution historique de ce type de microscope est dépassée, permettant ainsi à ce dernier d'effectuer des analyses basse tension auparavant réservées aux microscopes à émission de champ.
Apprendre encore plusMicroscope électronique à transmission (TEM) à émission de champ 120 kV 1. Espaces de travail divisés : Les utilisateurs utilisent le TEM dans une pièce divisée avec un confort réduisant les interférences environnementales sur le TEM. 2. Efficacité opérationnelle élevée : le logiciel désigné intègre des processus hautement automatisés, permettant une interaction TEM efficace avec une surveillance en temps réel. 3. Expérience opérationnelle améliorée : Équipé d'un canon à électrons à émission de champ avec un système hautement automatisé. 4. Haute extensibilité : Il existe suffisamment d'interfaces réservées aux utilisateurs pour passer à une configuration supérieure, qui répond à diverses exigences d'application.
Apprendre encore plusMicroscope électronique à balayage à émission de champ à faisceau d'ions focalisés Ga+ Le Microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Il est équipé d'une colonne à faisceau ionique focalisé pour la nanoanalyse et la préparation d'échantillons. Il utilise la technologie d'optique électronique « super tunnel », une faible aberration et un objectif amagnétique, et dispose de la fonction « basse tension et haute résolution » pour garantir ses capacités d'analyse à l'échelle nanométrique. Les colonnes ioniques fournissent une source d'ions métal liquide Ga+ avec des faisceaux d'ions extrêmement stables et de haute qualité, garantissant ainsi la nanofabrication. Le DB550 est une station de travail tout-en-un pour l'analyse et la fabrication de nanoparticules, dotée d'un nanomanipulateur intégré, d'un système d'injection de gaz et d'une interface utilisateur intuitive.
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